一种面阵工业CT环形伪像抑制方法

    公开(公告)号:CN117132679A

    公开(公告)日:2023-11-28

    申请号:CN202311104383.2

    申请日:2023-08-30

    IPC分类号: G06T11/00

    摘要: 本发明涉及一种面阵工业CT环形伪像抑制方法,使用工业CT设备对空气进行扫描,计算每幅空气投影图像的灰度均值并绘制第一灰度均值曲线,对其进行求导;使用工业CT设备对待检测物体进行检测,计算每幅待检测物体的周向投影图像中背景区域的灰度均值,得到第二灰度均值曲线,并对其进行求导;从求导后的第一灰度均值曲线中提取出最大(最小)幅值的空气投影图像序号,并从求导后的第二灰度均值曲线中提取出最大(最小)幅值的待检测物体的周向投影图像序号;最后对待检测物体的周向投影图像依次进行校正和CT重建。该方法可在射线管生命周期内提高CT图像质量,可应用于检测材料、构件、产品、设备的质量及使用安全。

    一种涡流检测信号的补偿方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117451833A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311250101.X

    申请日:2023-09-26

    IPC分类号: G01N27/90

    摘要: 本发明涉及一种涡流检测信号的补偿方法,所述补偿方法包括对不同走向的曲线进行信号补偿,其具体步骤为:S1、模拟不同走向且相同尺寸缺陷的涡流响应信号,并对该涡流响应信号建立第一涡流响应信号归一化幅值谱;S2、对涡流阵列探头采集的涡流检测信号进行C扫描成像,得到C扫描图像;S3、对C扫描图像进行处理,得到每块缺陷区域的角度;S4、根据第一涡流响应信号归一化幅值谱得到每块缺陷区域的角度补偿因子,并将C扫描图像上每块缺陷区域的角度与其对应的角度补偿因子相乘,得到修正后的C扫描图像。该方法能将不同曲率、不同相对线速度、不同方向且相同尺寸缺陷信号幅值基本稳定在预设的误差带内,提高缺陷识别准确率。

    一种面阵工业CT检测系统的超分辨率图像重建方法

    公开(公告)号:CN114998098A

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202210443491.1

    申请日:2022-04-25

    IPC分类号: G06T3/40 G06T7/00

    摘要: 本发明涉及一种面阵工业CT检测系统的超分辨率图像重建方法,包括步骤1、确定用于检测被测物体的工业CT系统的最佳检测工艺;步骤2、工业CT系统在使用步骤1中的最佳检测工艺下对被测物体进行第一次CT扫描,并依次间隔采集一幅被测物体投影图像;步骤3、将转台向探测器方向进行移动,采取与步骤2中相同的工艺对被测物体进行第二次CT扫描,依次获得第二次CT扫描时被测物体投影图像;步骤4、将第一次CT扫描时获得的每幅被测物体投影图像分别进行k次插值;步骤5、将第二次CT扫描时每幅被测物体投影图像的灰度值填入到步骤4中插值后的图像中,得到超分辨率重建后的图像。

    一种面阵工业CT检测系统的超分辨率图像重建方法

    公开(公告)号:CN114998098B

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202210443491.1

    申请日:2022-04-25

    IPC分类号: G06T3/4053 G06T7/00

    摘要: 本发明涉及一种面阵工业CT检测系统的超分辨率图像重建方法,包括步骤1、确定用于检测被测物体的工业CT系统的最佳检测工艺;步骤2、工业CT系统在使用步骤1中的最佳检测工艺下对被测物体进行第一次CT扫描,并依次间隔#imgabs0#采集一幅被测物体投影图像;步骤3、将转台向探测器方向进行移动,采取与步骤2中相同的工艺对被测物体进行第二次CT扫描,依次获得第二次CT扫描时被测物体投影图像;步骤4、将第一次CT扫描时获得的每幅被测物体投影图像分别进行k次插值;步骤5、将第二次CT扫描时每幅被测物体投影图像的灰度值填入到步骤4中插值后的图像中,得到超分辨率重建后的图像。

    一种工业CT系统穿透能力测试方法

    公开(公告)号:CN115993374A

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN202310205091.1

    申请日:2023-03-06

    IPC分类号: G01N23/046

    摘要: 本发明涉及一种工业CT系统穿透能力测试方法,包括:设计供被测试工业CT系统测试用的试块,该试块为圆柱体且内部开设有与圆柱体同轴布置的通孔,所述通孔的纵截面呈梯形;将试块置于转台的中心位置,使用被测试工业CT系统对试块进行CT扫描成像,获得多幅试块CT图像;获取每幅试块CT图像的材料中心位置以及每幅试块CT图像的穿透厚度;计算CT图像的点扩散函数;获取每幅试块CT图像中内部空隙部分的灰度值和材料部分的灰度值;计算不同穿透厚度下,不同空间分辨率对应的对比度值;当MTFk≥10%时,则认定当前工业CT系统的设备及工艺条件能穿透厚度为Dn的产品。