一种固体材料光热转换效率的测试方法及测试装置

    公开(公告)号:CN118150483A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202211565770.1

    申请日:2022-12-07

    Abstract: 本申请公开了一种固体材料光热转换效率的测试方法及测试装置,所述测试方法包括:(1)确定待测固体材料样品的表面温度,获得初始温度T0;(2)通过光源,对所述待测固体材料样品进行加热,获得所述待测固体材料样品的平衡温度Teq,关闭光源,将所述待测固体材料的表面温度降至T0,获得温度‑时间曲线;其中,平衡温度Teq为待测固体材料样品的表面达到的最大平衡温度;(3)重复步骤(1)和步骤(2)N次,根据所述温度‑时间曲线,拟合获得F;(4)计算所述固体材料光热转换效率ηTotal。本申请能定量地评估不同光热材料,在特定温度(室温‑800℃)下的光热转换性能,有利于筛选性能优越的材料。

    一种自持硅纳米线阵列的制备方法

    公开(公告)号:CN103572312B

    公开(公告)日:2017-02-08

    申请号:CN201210277560.2

    申请日:2012-08-07

    Abstract: 一种自持硅纳米线阵列的制备方法,属于纳米材料制备技术领域。所述方法将含硅原料经过金属网和金属丝固定形成金属网覆盖的电极,然后将此电极置于600-1100°C的熔融盐中,对电极采用含碳电极,在惰性气氛或真空下施加1.7-2.5V的槽电压脱氧还原;反应后冷却取出,经过洗涤,剥离,即得到自持的硅纳米线阵列。其长度可以通过选用的原料厚度和反应的时间调节。纳米线阵列由晶体硅纳米线组成,特别的,纳米线之间具有横向的连接结构,具有一定的强度,不需要载体支撑而可以保持结构稳定。本制备方法可以快速廉价的制备自持硅纳米线阵列,尺度可调,适用于规模生产。

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