一种光束照度均匀性测试装置及方法

    公开(公告)号:CN117889953A

    公开(公告)日:2024-04-16

    申请号:CN202410033902.9

    申请日:2024-01-09

    IPC分类号: G01J1/42 G01J1/02

    摘要: 本发明涉及光照设备技术领域,特别涉及一种光束照度均匀性测试装置及方法。该装置包括沿光路行进方向依次设置的多个光源、多个平行光管和一个光学检测单元,每个光源均位于一个平行光管的入光侧,光源用于为平行光管提供照明,以使平行光管发出平行光束;光学检测单元包括一个聚光器、一个分束镜和两个光学探测器;聚光器用于将平行光束汇聚在分光镜上;分光镜用于对平行光束进行分束,得到两个分束光,一个分束光在第一光学探测器上形成第一光斑,另一个分束光在第二光学探测器上形成第二光斑;第一光学探测器设置于聚光器的基准焦平面;第二光学探测器设置于聚光器的焦面前半个波长的离焦处。本方案能够提高光束照度均匀性测试的效率。

    一种用于航天器上的多模式一体化光机系统天线

    公开(公告)号:CN116609931B

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202310657404.7

    申请日:2023-06-05

    IPC分类号: G02B17/06 H01Q1/28

    摘要: 本发明涉及一种用于航天器上的多模式一体化光机系统天线,该系统通过各部的合理布局,一体化结构设计,能够基于可见光、红外、微波和激光实现目标的多波段复合探测。极大的降低航天器系统资源需要,在实现同一功能目标探测时,航天器安装的探测仪器由四种减少为一种,航天器安装接口由四种减少为一种,供电信号由四种减少为一种。将航天器力学、热学等空间环境试验条件由四种,统型为一种,将原来的四种试验多次开展试验,降低为一种一次试验,将空间环境试验费用降低1/4。将原有的可见光、红外、激光、微波四种探测波段设备一体化设计为一种一体化光机系统天线,极大的降低了整体的重量、功耗和体积,降低航天器的包络需求。

    一种大尺寸结构真空环境内的变形监测方法及装置

    公开(公告)号:CN116772739A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310737427.9

    申请日:2023-06-20

    IPC分类号: G01B11/16

    摘要: 本发明提供了一种大尺寸结构真空环境内的变形监测方法及装置,该方法包括:获取由至少四台监测相机采集的待监测区域中待监测点的监视图像;其中,不同监测相机对应的监视区域不同,且监测相机固定安装在可移动的转台上;确定采集监视图像的监测相机所在转台的位置信息;根据各监测相机之间的位姿关系、监视图像和位置信息,确定待监测点的三维坐标;根据不同时刻下待监测点的三维坐标,确定变形结果。本方案提供的大尺寸结构真空环境内的变形监测方法能在真空环境下对大尺寸结构的自动化变形监测,提高变形监测效率。

    一种超大视场星敏感器
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116295361A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310098561.9

    申请日:2023-02-10

    IPC分类号: G01C21/02

    摘要: 本发明涉及一种超大视场星敏感器,属于空间飞行器用光学成像敏感器领域。采用由小孔径子视场光学元件阵列和中继光学元件构成光学系统,将超大视场范围内的恒星光引入单一探测器成像,产生包含子视场阵列恒星像点的原始星图,对原始星图进行子视场内和子视场间标定校正,得到超大视场范围内坐标系统一的观测星点信息队列,进行三轴精度一致的姿态确定。本发明大幅提升星敏感器视场。

    对形变加载下获得的图像进行处理的星敏感器及方法

    公开(公告)号:CN112880707A

    公开(公告)日:2021-06-01

    申请号:CN202110168770.7

    申请日:2021-02-07

    IPC分类号: G01C25/00 G01D21/02 G06T17/20

    摘要: 本发明实施例提供一种对形变加载下获得的图像进行处理的方法,包括:从星敏感器的指向测量仪获取其所捕获的在应力应变作用下所成的图像;从图像中提取成像物体的三维模型以及利用传感器检测到的应力应变的方向和大小;建立三维模型的位移(x,y,z)与力矩r和角位移ψ的对应关系;利用有限元软件对成像物体的三维模型进行网格划分得到网格线和网格节点,利用多点约束方法和边界条件及成像物体的工况,确定成像物体的位于网格线或网格节点上的预设约束点的集合以及与成像物体相连接的物体上的应力施加点;根据对应力施加点施加的应力应变,计算成像物体的预设约束点上的应力应变。利用本发明技术方案可以准确标定星敏感器的指向测量仪。

    一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法

    公开(公告)号:CN105890625B

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201610206650.0

    申请日:2016-04-05

    IPC分类号: G01C25/00

    摘要: 一种基于碳纳米管遮光罩的星敏感器的杂光测试方法,包括:步骤一、安装测试系统;步骤二、记录待测星敏感器(9)光轴与杂散光阑(5)入射光束垂直时待测星敏感器(9)探测器的杂光图像IMG90;步骤三、改变待测星敏感器(9)和杂散光阑(5)入射光束间的夹角,测试不同角度θi对应的待测星敏感器(9)探测器上的杂光图像IMGNi;步骤四、将IMGNi与IMG90相减,得到不同角度θi对应的图像数据IMGi;步骤六、计算图像数据IMGi的图像灰度数据平均值DN;步骤七、计算杂光照度Eccd(i):步骤八、计算获得点源透射比PST曲线。本发明解决了高吸收率碳纳米管涂层的杂光抑制能力测试问题,测试准确度高,适用于各类型光学系统的杂光抑制能力测试,通用性强。