一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法

    公开(公告)号:CN103744014B

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201310724722.7

    申请日:2013-12-24

    IPC分类号: G01R31/3181

    摘要: 本发明提供了一种SRAM型FPGA单粒子辐照试验测试系统及方法,该试验系统包括上位机、电流监测采集板和测试板;电流监控采集板包括电流监控采集FPGA、电流采集单元、供电模块和第一通信接口;测试板包括控制处理FPGA、刷新芯片、SRAM、配置PROM、存储PROM、第二通信接口及被测FPGA;上位机负责流程控制和数据处理;电流监控采集板负责测试板的上电、断电和监测测试FPGA电流;测试板负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用刷新芯片代替现有辐照试验系统中的部分重配模块,可以更方便可靠地对被测芯片进行刷新;且本发明能够实现对触发器进行静态和动态翻转测试,结合两种方法可以得到更可靠的触发器翻转数据。

    一种高可靠晶体管结构分析方法

    公开(公告)号:CN105806998A

    公开(公告)日:2016-07-27

    申请号:CN201410852994.X

    申请日:2014-12-31

    IPC分类号: G01N33/00

    摘要: 本发明属于晶体管可靠性验证技术领域,具体涉及一种高可靠晶体管结构分析方法;首先,对于应用于航天型号的晶体管产品、其结构往往是非常复杂的,要了解和掌握这种结构复杂的产品,就必须进行结构单元的分解,根据影响晶体管的固有质量和可靠性的程度,给出各结构单元对应的结构要素;其次,通过各个单元已辨识的结构要素,依据GJB548B-2005标准,选择每种结构要素的评价试验方法;该方法对于晶体管使用方而言,该方法可以衡量和比较晶体管的质量和可靠性,发现潜在的失效机制,避免使用存在隐患的晶体管、避免使用由于晶体管固有可靠性问题导致的整机失效而带来的损失;对于晶体管制造方而言,通过该方法监控其生产工艺,找到引起晶体管潜在失效的工艺。