一种IGBT开关特性测试电路及测试方法

    公开(公告)号:CN111579958A

    公开(公告)日:2020-08-25

    申请号:CN202010431615.5

    申请日:2020-05-20

    IPC分类号: G01R31/26 H02H7/22

    摘要: 本发明公开了一种IGBT开关特性测试电路及测试方法,测试电路包括负载电感电路和直流母线电源,所述直流母线电源与所述负载电感电路以及被测IGBT器件串联;第一开关器件,连接在所述直流母线电源的正极与所述负载电感电路的输出端之间,用于切断或者接通直流母线;电阻R1,第一端连接所述第一开关器件的低压端,第二端与负载电感电路的输入端连接,用于在所述被测IGBT器件和/或所述第一开关器件和/或所述负载电感电路失效时,吸收所述直流母线电源的电量。本发明通过增加了第一开关器件和电阻R1,实现器件测试完成后切断直流母线电容能量释放通道,以及吸收直流母线释放的能量,降低器件失效后烧毁程度,防止失效器件爆炸。

    一种功率半导体模块
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109801899A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201811607844.7

    申请日:2018-12-27

    IPC分类号: H01L25/07

    摘要: 本发明公开一种功率半导体模块,包括:多个并列设置的功率半导体单元,每个功率半导体单元封装在管壳中,且通过管壳中的弹力单元进行弹力支撑,每个功率半导体单元相互独立设置,且安装在第一金属电极与第二金属电极之间,第一金属电极与每个功率半导体单元电连接,第一金属电极与第二金属电极分别与外部电路电连接。本发明中的功率半导体模块中的功率半导体单元相互独立设置,当某一功率半导体单元一旦发生故障,可以利用另外正常的功率半导体单元替换,因此,可以充分利用芯片子模块,进而提高芯片子模块的利用率,可以减少芯片子模块的更换成本。

    一种IGBT开关特性测试电路及测试方法

    公开(公告)号:CN111579958B

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202010431615.5

    申请日:2020-05-20

    IPC分类号: G01R31/26 H02H7/22

    摘要: 本发明公开了一种IGBT开关特性测试电路及测试方法,测试电路包括负载电感电路和直流母线电源,所述直流母线电源与所述负载电感电路以及被测IGBT器件串联;第一开关器件,连接在所述直流母线电源的正极与所述负载电感电路的输出端之间,用于切断或者接通直流母线;电阻R1,第一端连接所述第一开关器件的低压端,第二端与负载电感电路的输入端连接,用于在所述被测IGBT器件和/或所述第一开关器件和/或所述负载电感电路失效时,吸收所述直流母线电源的电量。本发明通过增加了第一开关器件和电阻R1,实现器件测试完成后切断直流母线电容能量释放通道,以及吸收直流母线释放的能量,降低器件失效后烧毁程度,防止失效器件爆炸。