一种狭缝电极的制造方法、狭缝电极及显示面板

    公开(公告)号:CN105093823A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201510300844.2

    申请日:2015-06-03

    IPC分类号: G03F7/00 G02F1/1343

    摘要: 本发明的实施例提供一种狭缝电极的制造方法、狭缝电极及显示面板,属于显示器技术领域,用于解决现有技术中制作狭缝电极时刻蚀不干净的问题,该方法包括:在钝化层上形成第一光刻胶图案,第一光刻胶图案的形状与狭缝电极的狭缝的形状相对应;在形成有第一光刻胶图案的钝化层上形成狭缝电极图案,狭缝电极图案上覆盖有第二光刻胶图案,第二光刻胶图案的形状与狭缝电极的形状相对应;对第一光刻胶图案和第二光刻胶图案进行剥离。本发明的实施例用于显示器的制造。

    TFT-LCD阵列基板及其制造方法

    公开(公告)号:CN102023428A

    公开(公告)日:2011-04-20

    申请号:CN200910093250.3

    申请日:2009-09-23

    摘要: 本发明实施例公开了一种TFT-LCD阵列基板及其制造方法,涉及液晶显示技术,能够在不降低开口率的情况下提高存储电容。一种TFT-LCD阵列基板,包括玻璃基板以及形成在该玻璃基板上的像素电极、存储电容底电极,在所述像素电极和存储电容底电极之间形成有存储电容;其中,在所述存储电容底电极的表面以及与该存储电容底电极正对的像素电极区域形成有对应的凹凸结构。本发明实施例提供的TFT-LCD阵列基板及其制造方法适用于对TFT-LCD的存储电容进行改进。

    磁控溅射靶材表面粗糙度的监测方法和系统

    公开(公告)号:CN101819030B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN200910078644.1

    申请日:2009-02-27

    发明人: 代伍坤

    IPC分类号: G01B11/30 C23C14/35

    摘要: 本发明涉及一种磁控溅射靶材表面粗糙度的监测方法和系统。该方法包括:步骤1、在对靶材和基板之间施加电压以对基板进行镀膜之前,测试所述靶材当前状态下各测试区的表面粗糙度;步骤2、根据靶材当前状态下各测试区的表面粗糙度,生成靶材的表面粗糙度变化曲线,并将所述表面粗糙度变化曲线与预设的所述靶材的表面粗糙度标准变化曲线进行比较,获取所述靶材表面各测试区的粗糙度偏差;步骤3、在所述粗糙度偏差超出设定的阈值时,输出用于提示靶材表面粗糙度异常的报警信息;否则,输出用于提示靶材表面粗糙度正常的信息。本发明有利于降低由于靶材表面粗糙度异常导致产品不良的几率,提高磁控溅射靶表面粗糙度监测的及时性和效率。

    一种狭缝电极的制造方法、狭缝电极及显示面板

    公开(公告)号:CN105093823B

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201510300844.2

    申请日:2015-06-03

    IPC分类号: G03F7/00 G02F1/1343

    摘要: 本发明的实施例提供一种狭缝电极的制造方法、狭缝电极及显示面板,属于显示器技术领域,用于解决现有技术中制作狭缝电极时刻蚀不干净的问题,该方法包括:在钝化层上形成第一光刻胶图案,第一光刻胶图案的形状与狭缝电极的狭缝的形状相对应;在形成有第一光刻胶图案的钝化层上形成狭缝电极图案,狭缝电极图案上覆盖有第二光刻胶图案,第二光刻胶图案的形状与狭缝电极的形状相对应;对第一光刻胶图案和第二光刻胶图案进行剥离。本发明的实施例用于显示器的制造。