一种碳化硅芯片封装结构
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115497917A

    公开(公告)日:2022-12-20

    申请号:CN202210935220.8

    申请日:2022-08-05

    摘要: 本发明涉及高压碳化硅芯片封装技术领域,具体涉及一种碳化硅芯片封装结构,包括:芯片本体,包括层叠设置的第一子芯片和第二子芯片,第一子芯片与第二子芯片之间设有芯片绝缘层,第一子芯片与第二子芯片之间串联,芯片导电件贯穿芯片绝缘层设置;印刷线路层,平行设于芯片本体的一侧,第一子芯片与印刷线路层之间连接有发射极引出端子;复合绝缘层,平行设于芯片本体背离印刷线路层的一侧,复合绝缘层朝向芯片本体的一面设有复合导电层,第二子芯片与复合导电层之间电气连接。针对碳化硅芯片高绝缘、低感封装需求采用芯片绝缘板实现中低压碳化硅芯片的串联,串联后的芯片器件能够提高器件整体电压水平,从而实现利用现有低压芯片进行高压封装。

    一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置

    公开(公告)号:CN117096094B

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311362406.X

    申请日:2023-10-20

    IPC分类号: H01L21/687 H01L21/67

    摘要: 本发明涉及一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置,其包括安装底板,用于作为基板承载机构,所述安装底板内设有至少一个底板凹槽;AMB基板,用于对芯片提供支撑、散热以及保护,每个底板凹槽内均安设有一块所述AMB基板;金属罩,用于保护AMB基板边缘,所述金属罩覆盖于安装底板上层,且所述金属罩正对每个底板凹槽位置分别设有金属罩窗口;薄膜,用于封闭底板凹槽内的AMB基板及芯片,所述薄膜覆盖于金属罩上层;锁紧环,用于夹紧并固定薄膜,所述锁紧环位于薄膜上层,且所述锁紧环紧贴薄膜边缘,所述锁紧环通过紧固件将薄膜与金属罩压至安装底板;该装置实现多规格AMB基板同时烧结,提高了夹具通用性,提高烧结效率。

    一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置

    公开(公告)号:CN117096094A

    公开(公告)日:2023-11-21

    申请号:CN202311362406.X

    申请日:2023-10-20

    IPC分类号: H01L21/687 H01L21/67

    摘要: 本发明涉及一种适用于多规格AMB基板同时烧结的夹具装置,其包括安装底板,用于作为基板承载机构,所述安装底板内设有至少一个底板凹槽;AMB基板,用于对芯片提供支撑、散热以及保护,每个底板凹槽内均安设有一块所述AMB基板;金属罩,用于保护AMB基板边缘,所述金属罩覆盖于安装底板上层,且所述金属罩正对每个底板凹槽位置分别设有金属罩窗口;薄膜,用于封闭底板凹槽内的AMB基板及芯片,所述薄膜覆盖于金属罩上层;锁紧环,用于夹紧并固定薄膜,所述锁紧环位于薄膜上层,且所述锁紧环紧贴薄膜边缘,所述锁紧环通过紧固件将薄膜与金属罩压至安装底板;该装置实现多规格AMB基板同时烧结,提高了夹具通用性,提高烧结效率。

    一种杂散电容及功率半导体器件电流的计算方法

    公开(公告)号:CN113063990B

    公开(公告)日:2022-11-11

    申请号:CN202110310440.7

    申请日:2021-03-23

    IPC分类号: G01R27/26 G01R31/26 G01R19/00

    摘要: 本发明公开了一种杂散电容及功率半导体器件电流的计算方法,包括:基于获取的功率半导体器件在瞬态开通过程中的电流及瞬态关断过程中的电压,得到功率半导体器件的电流在瞬态开通过程中的电流变化曲线和功率半导体器件的电压在瞬态关断过程中的电压变化曲线;利用电流变化曲线、电压变化曲线和杂散电容瞬时表达式,确定测试电路中的杂散电容与电压的关系;获取功率半导体器件在瞬态关断过程中当前时刻对应的电压值,基于电压值和杂散电容与电压的关系,确定测试电路在当前时刻的当前杂散电容值。本发明利用瞬态关断过程中的电压变化曲线计算杂散电容与电压的关系,更准确评估测试电路中的杂散电容。