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公开(公告)号：CN104244571B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201410274826.7
申请日：2014-06-19
Applicant: 基思利仪器公司
Abstract: 本发明涉及一种具有低电介质吸收的器件，其包括：印刷电路板（PCB）；组件连接区域，包括层叠在所述组件连接区域的顶表面上的第一导体以及层叠在所述组件连接区域的底表面上的第二导体；围绕所述组件连接区域的开口；跨过所述开口将组件连接区域连接到PCB的低泄漏组件；以及由在PCB的顶表面上至少基本上围绕所述开口的第三导体以及在PCB的底表面上至少基本上围绕所述开口的第四导体构成的防护件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104244571A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201410274826.7
申请日：2014-06-19
Applicant: 基思利仪器公司
CPC classification number: H05K1/0213 , H05K1/0225 , H05K1/0256 , H05K1/142 , H05K1/145 , H05K3/306 , H05K3/4038 , H05K3/4697 , H05K2201/0792 , H05K2201/09063 , H05K2201/093 , H05K2201/09618 , H05K2201/0969 , H05K2201/09981 , Y10T29/49139
Abstract: 本发明涉及一种具有低电介质吸收的器件，其包括：印刷电路板（PCB）；组件连接区域，包括层叠在所述组件连接区域的顶表面上的第一导体以及层叠在所述组件连接区域的底表面上的第二导体；围绕所述组件连接区域的开口；跨过所述开口将组件连接区域连接到PCB的低泄漏组件；以及由在PCB的顶表面上至少基本上围绕所述开口的第三导体以及在PCB的底表面上至少基本上围绕所述开口的第四导体构成的防护件。
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公开(公告)号：CN103969566A
公开(公告)日：2014-08-06
申请号：CN201410044021.3
申请日：2014-01-30
Applicant: 基思利仪器公司
Inventor： J.A.尼曼
CPC classification number: G01R31/2601 , G01R31/2607 , G01R31/2612
Abstract: 本发明涉及SMU RF晶体管稳定性装置。一种RF测试方法和系统，通过所述RF测试方法和系统DC测量路径还能够表现得像适当地端接的RF路径一样。实现这个需要输出HI、LO以及感测HI导体以频率选择性方式被端接，使得所述端接不影响SMUDC测量。一旦所有SMU输入/输出阻抗被控制以及适当地端接以消除反射，只要仪器维持与仪器对仪器的高绝缘(单独的仪器被用在栅极和漏极上，或者在所述器件的输入端和输出端上)，高速器件就将在器件测试期间不再振荡。HI、HO以及感测HI导体的输出端经由三个三轴电缆被耦合到所述DUT的各个节点，所述三个三轴电缆的所述外屏蔽被彼此耦合并且耦合到SMU接地。
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公开(公告)号：CN103777047B
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201310502493.4
申请日：2013-10-23
Applicant: 基思利仪器公司
Inventor： J.A.尼曼
IPC: G01R1/28
Abstract: 公开了一种阻抗提供电路和方法，所述阻抗提供电路用于构造成对被测试装置（DUT）进行测量的测量装置。阻抗提供电路包括电压/电流源。具有构造成调节可变电阻的控制输入的电控可变电阻耦合至DUT。回路增益控制器耦合至电控可变电阻的控制输入。回路增益控制器构造成驱动电控可变电阻的控制输入，以调节可变电阻使其与DUT的阻抗基本匹配。阻抗提供电路还可以包括构造成检测DUT两端的电压的电压检测器并且包括电压基准。回路增益控制器可以构造成基于在DUT的两端检测到的电压和电压基准来驱动电控可变电阻的控制输入。
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公开(公告)号：CN103969566B
公开(公告)日：2018-05-08
申请号：CN201410044021.3
申请日：2014-01-30
Applicant: 基思利仪器公司
Inventor： J.A.尼曼
CPC classification number: G01R31/2601 , G01R31/2607 , G01R31/2612
Abstract: 本发明涉及SMU RF晶体管稳定性装置。一种RF测试方法和系统，通过所述RF测试方法和系统DC测量路径还能够表现得像适当地端接的RF路径一样。实现这个需要输出HI、LO以及感测HI导体以频率选择性方式被端接，使得所述端接不影响SMU DC测量。一旦所有SMU输入/输出阻抗被控制以及适当地端接以消除反射，只要仪器维持与仪器对仪器的高绝缘(单独的仪器被用在栅极和漏极上，或者在所述器件的输入端和输出端上)，高速器件就将在器件测试期间不再振荡。HI、HO以及感测HI导体的输出端经由三个三轴电缆被耦合到所述DUT的各个节点，所述三个三轴电缆的所述外屏蔽被彼此耦合并且耦合到SMU接地。
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公开(公告)号：CN103777047A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201310502493.4
申请日：2013-10-23
Applicant: 基思利仪器公司
Inventor： J.A.尼曼
IPC: G01R1/28
Abstract: 本发明公开了一种阻抗提供电路和方法，所述阻抗提供电路用于构造成对被测试装置（DUT）进行测量的测量装置。阻抗提供电路包括电压/电流源。具有构造成调节可变电阻的控制输入的电控可变电阻耦合至DUT。回路增益控制器耦合至电控可变电阻的控制输入。回路增益控制器构造成驱动电控可变电阻的控制输入，以调节可变电阻使其与DUT的阻抗基本匹配。阻抗提供电路还可以包括构造成检测DUT两端的电压的电压检测器并且包括电压基准。回路增益控制器可以构造成基于在DUT的两端检测到的电压和电压基准来驱动电控可变电阻的控制输入。
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