薄膜晶体管和薄膜晶体管的制造方法

    公开(公告)号:CN108028201B

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN201580083197.2

    申请日:2015-09-17

    Abstract: 本发明提供通过调整多晶硅的结晶性从而适当地对特性进行了调整的薄膜晶体管和薄膜晶体管的制造方法。TFT的沟道层中所含的硅层14包含非晶部141、第1多晶部142和结晶性更低的第2多晶部143。通过经过掩模2将激光照射于硅层14,该掩模2包含将激光(能量束)遮蔽的遮蔽部21、使激光透过的第1透过部22和激光的透过率更低的第2遮蔽部22,从而形成第1多晶部142和第2多晶部143。通过存在第2多晶部143,与多晶的部分的结晶性为一种的TFT相比,更为适当地调整迁移率等TFT的特性。另外,通过调整掩模2的构成,从而能够简便地调整TFT的特性。

    薄膜晶体管的制造方法和薄膜晶体管

    公开(公告)号:CN108028283B

    公开(公告)日:2021-03-02

    申请号:CN201580083210.4

    申请日:2015-09-18

    Abstract: 本发明提供能够使特性的波动减小的薄膜晶体管的制造方法和薄膜晶体管。形成由非晶硅构成的第1硅层14,从成为TFT(薄膜晶体管)的构成物的规定区域内的一部分或全部到规定区域的外部照射能量束,使照射了能量束的部分变化为多晶硅。另外,以使规定区域残留的方式蚀刻第1硅层14,以覆盖蚀刻后的第1硅层14的方式形成由非晶硅构成的第2硅层15。第1硅层14和第2硅层15成为TFT的沟道层。多晶硅的位置不会由于照射位置的波动而波动,减小沟道层内的多晶硅的位置的波动,减小TFT的特性的波动。

    薄膜晶体管、显示装置和薄膜晶体管制造方法

    公开(公告)号:CN109417099A

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201680087069.X

    申请日:2016-04-25

    Abstract: 本发明提供特性差异小的薄膜晶体管、显示装置以及薄膜晶体管制造方法。薄膜晶体管具备栅电极、栅极绝缘膜、半导体层、蚀刻阻挡层以及源电极和漏电极。栅电极形成在基板上。栅极绝缘膜形成为覆盖栅电极。半导体层形成在栅极绝缘膜的上侧,半导体层含有多晶硅层,多晶硅层在俯视图中位于由栅电极界定的区域的内侧。蚀刻阻挡层位于多晶硅层的上侧。源电极和漏电极彼此隔着间隔地设置在半导体层上。多晶硅层具有不被蚀刻阻挡层覆盖的第一区域和第二区域,源电极的一部分存在于第一区域的上方,漏电极的一部分存在于第二区域的上方。

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