一种电路板失效分析方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117783824A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202311833357.3

    申请日:2023-12-28

    IPC分类号: G01R31/28 G01N21/956 G01N1/28

    摘要: 本申请是关于一种电路板失效分析方法,包括:S1、获取电路板的电性能失效信息;S2、去除所述电路板当前的最外层,得到当前裸露线层;S3、获取所述当前裸露线层的电路图像信息;S4、根据所述电路图像信息进行失效点位检测,确定当前裸露线层的失效点位信息;S5、判断当前所收集到的所有失效点位信息与所述电性能失效信息是否匹配,若匹配,则失效点的位置分析流程结束;若不匹配,则重复执行步骤S2至S5。本申请提供的方案采用逐层去除,逐层分析的方式确定失效位置,能够提升电路板失效分析的准确度和效率。

    具有内层传输线测试结构的PCB及PCB制作方法

    公开(公告)号:CN116916525A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202311184011.5

    申请日:2023-09-14

    摘要: 本发明提供了一种具有内层传输线测试结构的PCB及PCB制作方法,具有内层传输线测试结构的PCB包括第一外层芯板、第二外层芯板及设置在第一外层芯板、第二外层芯板之间的内层线路,相邻的芯板之间经半固化片连接;内层线路具有若干内焊盘;半固化片上设置有漏出内焊盘的测试口;第一外层芯板或第二外层芯板上开设有连通测试口的测试通道;测试通道与测试口一一对应设置,可以在内层线路制作完成并叠板压合后,通过开设测试通道,以直接通过内层线路焊盘进行内层传输线测试,以去除外层测试时过孔造成的测试偏差,提升测试结果精确度,同时,测试完成后,通过树脂填充测试通道,不影响后续外层线路的加工制作。

    一种外形不规则晶片的倒装贴装方法及外形不规则晶片

    公开(公告)号:CN117995688A

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202410099553.0

    申请日:2024-01-24

    摘要: 本申请公开了外形不规则晶片的倒装贴装方法及外形不规则晶片,本申请通过在晶片焊点阵列边缘制作至少三个晶片基准点锡球,晶片基准点锡球在过炉后亮度增加,可以增强晶片基准点锡球与晶片本体的色差,来实现贴片机对不规则晶片的基准点锡球的精准识别,而且晶片基准点锡球之间连线可以形成轴对称或中心对称图形,可以快速确定图形的中心点坐标,判断晶片基准点锡球形成图形的中心点坐标与基准点焊盘形成图形的中心点是否重合,重合则可以将晶片与PCB板进行贴装,避免贴装偏差,提升外形不规则晶片的倒装贴装的精度和效率。

    一种局部埋陶瓷的PCB板的制作方法及PCB板

    公开(公告)号:CN117750635A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311809820.0

    申请日:2023-12-26

    IPC分类号: H05K3/00 H05K1/03

    摘要: 本发明提供了一种局部埋陶瓷的PCB板的制作方法及PCB板,属于PCB板生产技术领域,该制作方法包括:建立陶瓷材料与PCB板的层压理论厚度之间的最佳匹配模型,其中层压理论厚度由PCB板的原料得到;获取待生产的PCB板的厚度要求,根据PCB板的厚度要求选择陶瓷材料;根据所选择的陶瓷材料的实测厚度,从最佳匹配模型确定对应的层压理论厚度,并确定PCB板的原料,将选择的陶瓷材料和确定的PCB板的原料进行压合生产。该方法能够提高局部埋陶瓷的PCB板的表面的平整度,满足后续贴片的生产需求,提高PCB板的质量。