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公开(公告)号：CN101487853B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200810004034.2
申请日：2008-01-16
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种高速测试装置，是以一支撑架一体成形的刚性结构，于外环部位支撑一电路层，于近中心部位支撑一探针组，当测试机台自高速测试装置的上方下压点触电路层时，即由支撑架的外环部位承受此下压点触的应力，当探针组所设置的探针对应点触于晶片上的电子元件时，即由支撑架的近中心部位承受来自晶片的反作用力。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101487874B
公开(公告)日：2011-07-13
申请号：CN200810003172.9
申请日：2008-01-15
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明一种高速测试装置，用以传送测试机台所送出的测试信号以对集成电路芯片做电性测试，是于一支撑架之上、下侧分别设置一电路层及一探针组，当测试机台下压点触电路层且探针组对应点触于芯片上的电子组件时，即由支撑架承受上、下两侧所受的应力。
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公开(公告)号：CN102156205A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN201010111561.0
申请日：2010-02-11
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/067
Abstract: 本发明提出一种探针卡以及用于该探针卡的印刷电路板，用以增进测试时的电源完整性；本发明的印刷电路板定义一焊点区、一走线区以及一输入区；其中的焊点区包含多个第一电源焊垫组，输入区包含对应该些第一电源焊垫组的多个第二电源焊垫组，且每一第一电源焊垫组绝缘于每一第二电源焊垫组；本发明的探针卡应用上述的印刷电路板，并结合外接导线或外接电源平面而获得较好的电源完整性。
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公开(公告)号：CN101487853A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200810004034.2
申请日：2008-01-16
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种高速测试装置，是以一支撑架一体成形的刚性结构，于外环部位支撑一电路层，于近中心部位支撑一探针组，当测试机台自高速测试装置的上方下压点触电路层时，即由支撑架的外环部位承受此下压点触的应力，当探针组所设置的探针对应点触于晶片上的电子元件时，即由支撑架的近中心部位承受来自晶片的反作用力。
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公开(公告)号：CN101487874A
公开(公告)日：2009-07-22
申请号：CN200810003172.9
申请日：2008-01-15
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 本发明一种高速测试装置，用以传送测试机台所送出的测试信号以对集成电路芯片做电性测试，是于一支撑架之上、下侧分别设置一电路层及一探针组，当测试机台下压点触电路层且探针组对应点触于芯片上的电子组件时，即由支撑架承受上、下两侧所受的应力。
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公开(公告)号：CN102156205B
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：CN201010111561.0
申请日：2010-02-11
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/067
Abstract: 本发明提出一种探针卡以及用于该探针卡的印刷电路板，用以增进测试时的电源完整性；本发明的印刷电路板定义一焊点区、一走线区以及一输入区；其中的焊点区包含多个第一电源焊垫组，输入区包含对应该些第一电源焊垫组的多个第二电源焊垫组，且每一第一电源焊垫组绝缘于每一第二电源焊垫组；本发明的探针卡应用上述的印刷电路板，并结合外接导线或外接电源平面而获得较好的电源完整性。
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