氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件

    公开(公告)号:CN113725296A

    公开(公告)日:2021-11-30

    申请号:CN202110912320.4

    申请日:2018-02-05

    摘要: 本发明公开一种氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件,该氮化物半导体外延叠层结构包含一硅基板;一含铝成核层,配置于前述硅基板上;一缓冲结构,配置于前述含铝成核层上,依序包含:一第一超晶格外延结构;一第一氮化镓系厚层,配置于前述第一超晶格外延结构上;一第二超晶格外延结构,配置于前述第一氮化镓系厚层上;及一第二氮化镓系厚层,配置于前述第二超晶格外延结构上;一通道层,配置于前述缓冲结构上;一阻挡层,配置于前述通道层上;及一二维电子气层,位于邻近前述通道层与前述阻挡层间的一界面;其中,该第一氮化镓系厚层及该第二氮化镓系厚层的总厚度大于两微米。

    氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件

    公开(公告)号:CN113725296B

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202110912320.4

    申请日:2018-02-05

    摘要: 本发明公开一种氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件,该氮化物半导体外延叠层结构包含一硅基板;一含铝成核层,配置于前述硅基板上;一缓冲结构,配置于前述含铝成核层上,依序包含:一第一超晶格外延结构;一第一氮化镓系厚层,配置于前述第一超晶格外延结构上;一第二超晶格外延结构,配置于前述第一氮化镓系厚层上;及一第二氮化镓系厚层,配置于前述第二超晶格外延结构上;一通道层,配置于前述缓冲结构上;一阻挡层,配置于前述通道层上;及一二维电子气层,位于邻近前述通道层与前述阻挡层间的一界面;其中,该第一氮化镓系厚层及该第二氮化镓系厚层的总厚度大于两微米。

    半导体功率元件
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109585542B

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN201811137574.8

    申请日:2018-09-28

    摘要: 本发明公开一种半导体功率元件,其包含︰一基板;一位于基板上的缓冲结构;一位于缓冲结构上的背阻挡结构;一位于背阻挡结构上的通道层;以及一位于通道层上的阻挡层;其中背阻挡结构包含一第一功能层、一第一背阻挡层以及一中间层,第一功能层位于缓冲结构上,第一背阻挡层位于第一功能层上,以及中间层位于第一背阻挡层以及第一功能层之间;其中第一背阻挡层的材料包含Alx1Ga1‑x1N,第一功能层的材料包含Alx2Ga1‑x2N,0

    半导体单元
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106486545A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201610741316.5

    申请日:2016-08-26

    发明人: 冯天璟 张宗正

    IPC分类号: H01L29/778

    摘要: 本发明公开一种半导体单元,包含基板;位于基板上方的缓冲结构;通道层,具有第一带隙,且位缓冲结构上方,包含第一部分及第一凸起部,其中第一凸出部位于第一部分之上,且具有第一顶面和连接第一顶面的第一倾斜侧面;阻障层,具有第二带隙大于第一带隙,且位于通道层上方,包含第二部分以及第二凸起部,其中第二部分位于第一部分之上,第二凸起部覆盖第一凸起部的第一顶面,且具有第二顶面和连接第二顶面的第二倾斜侧面,第二倾斜侧面平行于第一倾斜侧面;第一电极,位于第二凸起部上方;以及第二电极,位于阻障层的第二部分上方,且与第一电极相互分隔。

    氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件

    公开(公告)号:CN108461591B

    公开(公告)日:2021-08-24

    申请号:CN201810110148.9

    申请日:2018-02-05

    摘要: 本发明公开一种氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件,该氮化物半导体外延叠层结构包含一硅基板;一含铝成核层,配置于前述硅基板上;一缓冲结构,配置于前述含铝成核层上,依序包含:一第一超晶格外延结构;一第一氮化镓系厚层,配置于前述第一超晶格外延结构上;一第二超晶格外延结构,配置于前述第一氮化镓系厚层上;及一第二氮化镓系厚层,配置于前述第二超晶格外延结构上;一通道层,配置于前述缓冲结构上;一阻挡层,配置于前述通道层上;及一二维电子气层,位于邻近前述通道层与前述阻挡层间的一界面;其中,该第一氮化镓系厚层及该第二氮化镓系厚层的总厚度大于两微米。

    高电子移动率晶体管及其制造方法

    公开(公告)号:CN110660850A

    公开(公告)日:2020-01-07

    申请号:CN201910565684.2

    申请日:2019-06-27

    摘要: 本发明公开一种高电子移动率晶体管及其制造方法,其中该高电子移动率晶体管包含一基板;一通道层,形成于基板上;一阻障层,形成于通道层上,其中一二维电子气形成在通道层的邻近阻障层的一侧;一源极电极及一漏极电极,形成于阻障层上;一耗尽层,形成于阻障层上,且位于源极电极与漏极电极之间,耗尽层的材料包含氮化硼或氧化锌;以及一栅极电极,形成于耗尽层上。

    氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件

    公开(公告)号:CN108461591A

    公开(公告)日:2018-08-28

    申请号:CN201810110148.9

    申请日:2018-02-05

    摘要: 本发明公开一种氮化物半导体外延叠层结构及其功率元件,该氮化物半导体外延叠层结构包含一硅基板;一含铝成核层,配置于前述硅基板上;一缓冲结构,配置于前述含铝成核层上,依序包含:一第一超晶格堆叠结构、一第一氮化镓系厚层,配置于前述第一超晶格堆叠结构上、一第二超晶格堆叠结构,配置于前述第一氮化镓系厚层上、及一第二氮化镓系厚层,配置于前述第二超晶格堆叠结构上;一通道层,配置于前述缓冲结构上;一阻挡层,配置于前述通道层上;及一二维电子气层,位于邻近前述通道层与前述阻挡层间的一界面;其中,该第一氮化镓硅厚层及该第二氮化镓硅厚层的总厚度大于两微米。