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公开(公告)号：CN103650042A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201280033257.6
申请日：2012-08-07
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/24035 , G11B7/0045 , G11B7/135
CPC classification number: G11B7/24035 , G11B7/1387 , G11B7/24065 , G11B7/26 , G11B7/266 , Y10T29/49
Abstract: 本发明提供的信息装置是对信息记录介质(3)进行信息的记录或再生的信息装置，包括：光源(14)；具有在与记录区域(4)之间产生等离子共振的共振部(22)的近场光产生元件(9)，其中，共振部(22)通过来自光源的射出光照射到近场光产生元件(9)产生等离子共振，共振增强膜使共振部(22)和记录区域(4)之间的等离子共振增强，共振部(22)产生近场光并将近场光从记录层侧照射到记录区域(4)。
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公开(公告)号：CN103430237A
公开(公告)日：2013-12-04
申请号：CN201280011371.9
申请日：2012-02-06
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/243 , G11B7/24035 , G11B7/24085 , G11B7/26
CPC classification number: G11B7/24035 , G11B7/24065 , G11B7/24085 , G11B7/243 , G11B7/2433 , G11B7/26 , G11B2007/24306 , G11B2007/24308 , G11B2007/24316 , G11B2007/2432 , Y10T428/21
Abstract: 本发明提供一种信息记录介质及其制造方法。本发明的信息记录介质(100)包括基板(1)和设于基板(1)上且通过照射激光束而光学特性能发生变化的记录层。所述记录层通过排列多个微小的记录区域(例如相变微粒子(2))而形成。所述记录区域的一部分或全部由含有Te及O的记录材料构成。所述记录区域的沿信息记录方向的长度为30nm以下。所述记录材料优选还含有元素M(M是从由Pd、Au及Pt构成的组中选择的至少一种元素)。
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公开(公告)号：CN101884067A
公开(公告)日：2010-11-10
申请号：CN200880118980.8
申请日：2008-12-05
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/1263 , G11B7/1267 , G11B7/24038 , G11B7/243 , G11B7/259 , G11B2007/0013 , G11B2007/24304 , G11B2007/24306 , G11B2007/24312 , G11B2007/24314 , G11B2007/2432 , G11B2007/24324 , G11B2007/25706 , G11B2007/25708 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715
Abstract: 本发明提供记录再生装置，记录再生方法和信息记录媒体，根据本发明，可实现对于利用吸收端偏移现象的信息记录媒体的稳定的记录和再生。本发明的装置(100)具有：出射激光的光源(20)；将激光会聚到信息记录媒体(21)上的透镜(6)；检测来自信息记录媒体(21)的反射光的光检测器(19)。信息记录媒体(21)的记录层含有如下材料，其随着温度的上升，由电子的带间跃迁造成的光吸收谱的吸收端向长波长移动，从而对所述激光的吸收率增加。本发明的装置(100)还具有：检测激光的波长和波长变动的至少一方的波长检测部(26)；检测信息记录媒体(21)或其周围的温度和温度变化的至少一方的温度检测部(27)；基于来自波长检测部(26)和温度检测部(27)各自的输出来控制光源(20)的功率的控制部(28)。
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公开(公告)号：CN100452199C
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200580001552.3
申请日：2005-04-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/1381 , G02B21/0032 , G02B21/006 , G02B21/008 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种共焦光学系统开口位置检测装置和共焦光学系统开口位置控制装置、使用了该装置的光学头装置和光信息处理装置，以及共焦光学系统开口位置检测方法。在包括有光源(13)、第1聚光单元(14)、第2聚光单元(16)、开口(17)和检测器(18)的共焦光学系统中，该检测器具有多个受光区域，由检测器(18)检测因第2聚光单元(16)的聚光点和开口(17)的位置偏离引起的像的强度分布，从而检测出位置偏离，并且通过由驱动单元(19)和控制单元(20)控制开口位置，对位置偏离进行补正。此外，在光轴方向摇动开口(17)，根据检测器(18)的输出变化，对开口(17)在光轴方向的位置偏离进行检测、补正。
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公开(公告)号：CN100362580C
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN200380100365.1
申请日：2003-12-02
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/125
CPC classification number: G11B7/13927 , G11B7/0948 , G11B7/1267 , G11B7/1369 , G11B7/1378 , G11B2007/0013 , G11B2007/13727
Abstract: 本发明涉及一种光学头装置、光记录装置及光记录方法，其目的在于当采用具有多个信息层的光记录介质时不需要增加为学习像差量与最佳记录补偿量的关系所需的学习时间，也可以获得每个信息层的最佳记录特性。为达到上述目的，本发明的光学头装置、光记录装置及光记录方法，驱动波前变换单元(4)以降低由像差检测单元(12)所检测的像差量。输出控制单元(13)具有预先学习了波前变换单元(14)的驱动量与光源(1)的输出的关系而获得的学习信息，并根据波前变换单元(4)的驱动量及该学习信息，对光源(1)的输出进行控制。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1177197C
公开(公告)日：2004-11-24
申请号：CN01145190.4
申请日：1995-06-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01J5/02 , G01J5/0205 , G01J5/0235 , G01J5/024 , G01J5/04 , G01J5/045 , G01J5/08 , G01J5/0803 , G01J5/0806 , G01J5/0831 , G01J5/084 , G01J5/0893 , G02B5/1828 , G02B26/0808 , G03B9/18 , H04N5/7416
Abstract: 一种包括衍射光学调制器的红外传感器，包括：其一部分起第一电极作用的平板；在该平板上形成的隔离层；以及由许多其一部分起第二电极作用的桁条构成的光栅，桁条的两端支撑在该隔离层上。在衍射光学调制器中，通过调节加在第一和第二电极之间的电压，桁条和平板间的距离将发生变化，从而控制其衍射效率。在平板和许多桁条之间进一步提供有绝缘层。
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公开(公告)号：CN1090336C
公开(公告)日：2002-09-04
申请号：CN95109107.7
申请日：1995-06-21
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01J5/02 , G01J5/0205 , G01J5/0235 , G01J5/024 , G01J5/04 , G01J5/045 , G01J5/08 , G01J5/0803 , G01J5/0806 , G01J5/0831 , G01J5/084 , G01J5/0893 , G02B5/1828 , G02B26/0808 , G03B9/18 , H04N5/7416
Abstract: 本发明的衍射光学调制器包括：其一部分起第一电极作用的平板；在该平板上形成的隔离层；以及由许多其一部分起第二电极作用的桁条构成的光栅，桁条的两端支撑在该隔离层上。在衍射光学调制器中，通过调节加在第一和第二电极之间的电压，桁条和平板间的距离将发生变化，从而控制其衍射效率。在平板和许多桁条之间进一步提供有绝缘层。
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公开(公告)号：CN100538838C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200680011676.4
申请日：2006-04-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/1356 , G11B7/0901 , G11B7/0912 , G11B7/0938 , G11B7/123 , G11B7/131 , G11B7/133 , G11B7/1353 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种光学头装置以及光信息处理装置，由多层光盘(26)的信息层反射出的激光(32)，在反射面(31a′、31b、31c、31d)被反射及被分支，并作为激光(33、34、35)射入光检测元件(36)。激光(34)被聚光到用于RF检测的受光区域(38)，产生RF信号，激光(33、35)射入用于聚焦检测的受光区域(37a、37b)，基于SSD法产生聚焦误差信号。由与上述信息层邻接的信息层反射的激光(65)，其一部分透过反射面(31a′)在用于追踪检测的受光区域(66)中成像，产生追踪误差信号。
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公开(公告)号：CN100407314C
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN03824360.1
申请日：2003-09-01
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/24 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/26
CPC classification number: G11B7/243 , B82Y10/00 , G11B7/00454 , G11B7/24038 , G11B7/266 , G11B2007/24304 , G11B2007/2432
Abstract: 一种信息记录介质，包括能进行三维的信息记录的记录部，上述记录部(3)至少包含1层记录层(1a～1f)，上述记录层由氧化钛构成。上述记录层最好是非晶体型和晶体型氧化钛中的至少一种。上述记录层(1a～1f)基本上包括氧化钛、或者包括氧化钛和折射率比上述氧化钛小的低折射率材料。
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公开(公告)号：CN101171633A
公开(公告)日：2008-04-30
申请号：CN200680014783.2
申请日：2006-04-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: B82Y10/00 , G11B7/1275 , G11B7/24038 , G11B7/241 , G11B7/245 , G11B7/25 , G11B7/257 , G11B2007/0013 , G11B2007/24624
Abstract: 本发明提供一种信息记录介质，其具有：基板；和记录部，可在上述基板上将记录凹坑以三维进行记录；其中，上述记录部具有：多个记录层，通过对其聚集具有波长λ2的记录光来对上述记录凹坑进行记录，并且，通过对其聚集具有短于上述波长λ2的波长λ1的再生光来使上述记录凹坑再生；和中间层，与上述记录层交替层叠；其中，记录层中的未记录区域对记录光波长λ2的反射率，小于记录层中的未记录区域对再生光波长λ1的反射率。
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