光电装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109564362B

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN201780038799.5

    申请日:2017-11-23

    IPC分类号: G02F1/025 G02B6/12

    摘要: 本文公开了一种光电装置以及制造所述光电装置的方法。所述装置包括:衬底;位于所述衬底顶部的外延结晶包层;以及在所述外延结晶包层上方的光学有源区;其中所述外延结晶包层的折射率小于所述光学有源区的折射率,使得所述光电装置的光功率被限制在所述光学有源区。(56)对比文件CN 112074779 A,2020.12.11US 2011170819 A1,2011.07.14WO 2015122022 A1,2015.08.20US 2013195397 A1,2013.08.01JP 2011232567 A,2011.11.17JP 2005300678 A,2005.10.27US 5581396 A,1996.12.03CN 102162137 A,2011.08.24US 2013051727 A1,2013.02.28US 2013182305 A1,2013.07.18刘颂豪等“.硅锗光波导”《.光子学技术与应用》.广东科技出版社,2006,第478-479页.孙桂林 等.“半导体激光器生长新工艺”.《激光与光电子学进展》.1993,(第2期),全文.李亚明;李晶.新型紧凑硅基电光调制器研究.无线电通信技术.2016,(第04期),全文.宋世娇;安俊明;胡雄伟.slot波导包覆层对功率密度的影响.半导体光电.2010,(第05期),全文.赵丽亚;王乐;杨妍;刘克.InP基矩形马赫-曾德高速电光调制器行波电极设计与测试.光子学报.2017,(第05期),全文.

    模式转换器及其制造方法

    公开(公告)号:CN109642985A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201780043323.0

    申请日:2017-07-13

    摘要: 本案提供一种光学模式转换器和由包括双绝缘体上硅层结构的晶片制造所述光学模式转换器的方法。所述方法包括:在DSOI层结构的装置层的部分上提供第一掩膜;向下蚀刻装置层的未遮掩部分至至少上掩埋氧化物层,由此提供腔;蚀刻第一隔离沟槽和第二隔离沟槽至模式转换器层,所述模式转换器层:在上掩埋氧化物层相对于装置层的相对侧上并且介于上掩埋氧化物层与下掩埋氧化物层之间,下掩埋氧化物层在衬底上方;其中第一隔离沟槽和第二隔离沟槽限定锥形波导;用绝缘材料填充第一隔离沟槽和第二隔离沟槽,由此光学隔离锥形波导与剩余的模式转换器层;和再生长装置层的所蚀刻区域。

    模式转换器及其制造方法

    公开(公告)号:CN109642985B

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN201780043323.0

    申请日:2017-07-13

    摘要: 本案提供一种光学模式转换器和由包括双绝缘体上硅层结构的晶片制造所述光学模式转换器的方法。所述方法包括:在DSOI层结构的装置层的部分上提供第一掩膜;向下蚀刻装置层的未遮掩部分至至少上掩埋氧化物层,由此提供腔;蚀刻第一隔离沟槽和第二隔离沟槽至模式转换器层,所述模式转换器层:在上掩埋氧化物层相对于装置层的相对侧上并且介于上掩埋氧化物层与下掩埋氧化物层之间,下掩埋氧化物层在衬底上方;其中第一隔离沟槽和第二隔离沟槽限定锥形波导;用绝缘材料填充第一隔离沟槽和第二隔离沟槽,由此光学隔离锥形波导与剩余的模式转换器层;和再生长装置层的所蚀刻区域。