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公开(公告)号:CN109427652A
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201710770218.9
申请日:2017-08-31
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L21/768 , H01L23/528 , H01L27/108
摘要: 本发明公开一种埋入式字符线结构的制作方法和结构,其制作方法包含:首先,提供一基底,一字符线沟槽位于基底中,二源极/漏极掺杂区位于字符线沟槽两侧的基底中,然后形成一氧化硅层覆盖字符线沟槽,之后形成一氮化钛层覆盖氧化硅层,接着进行一斜角掺质注入制作工艺,将硅原子注入氮化钛层中使得部分的氮化钛层转变为一氮硅化钛层,接续形成一导电层于字符线沟槽中,再移除部分的导电层、部分的氮硅化钛层、部分氧化硅以形成一凹槽,最后形成一帽盖层填入凹槽。
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公开(公告)号:CN109427687B
公开(公告)日:2021-02-09
申请号:CN201710785056.6
申请日:2017-09-04
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L21/8242
摘要: 本发明公开一种半导体元件的制作方法,其步骤包含:提供一电容结构、在该电容结构上形成一导体层、对该导体层进行氢掺杂制作工艺、该氢掺杂制作工艺之后在该导体层上形成一金属层、及图形化该金属层、该导体层,形成一上电极板。
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公开(公告)号:CN109216433A
公开(公告)日:2019-01-15
申请号:CN201710537348.8
申请日:2017-07-04
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L29/06 , H01L21/28 , H01L29/423
摘要: 本发明公开一种埋入式字符线和鳍状结构上栅极的制作方法,该埋入式字符线的制作方法为,首先形成一沟槽于一基底,接着进行一沉积制作工艺,以在沟槽的内侧的一侧壁和一底部形成一硅材料层,在沉积制作工艺后,在沟槽内形成一栅极介电层,最后形成一导电层填入沟槽。
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公开(公告)号:CN109309123B
公开(公告)日:2020-11-10
申请号:CN201710628502.2
申请日:2017-07-28
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L29/51 , H01L21/285
摘要: 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含有一半导体衬底,具有一栅极沟槽,穿过主动区域及围绕主动区域的一沟槽绝缘区域,其中栅极沟槽显露出主动区域的侧壁及沟槽绝缘结构的侧壁,其中沟槽绝缘结构包含一孔隙;一第一栅极介电层,共形的覆盖住主动区域的侧壁及沟槽绝缘区域的侧壁,其中孔隙被第一栅极介电层填满;一第二栅极介电层,从主动区域的侧壁上生长出来;及一栅极,设于栅极沟槽中。
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公开(公告)号:CN109427687A
公开(公告)日:2019-03-05
申请号:CN201710785056.6
申请日:2017-09-04
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L21/8242
摘要: 本发明公开一种半导体元件的制作方法,其步骤包含:提供一电容结构、在该电容结构上形成一导体层、对该导体层进行氢掺杂制作工艺、该氢掺杂制作工艺之后在该导体层上形成一金属层、及图形化该金属层、该导体层,形成一上电极板。
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公开(公告)号:CN109326595B
公开(公告)日:2021-03-09
申请号:CN201710637712.8
申请日:2017-07-31
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L27/108 , H01L21/8242
摘要: 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含:一半导体基底,其上具有一栅极沟槽,该栅极沟槽包含一上沟槽及一下沟槽,其中该上沟槽较该下沟槽宽;一栅极,嵌入于该栅极沟槽中,其中该栅极包含一栅极上部及一栅极下部;一第一栅极介电层,设于该栅极上部与该上沟槽的侧壁之间,其中该第一栅极介电层具有一第一厚度;及一第二栅极介电层,设于该栅极下部与该下沟槽的侧壁之间,其中该第二栅极介电层具有一第二厚度,且该第二厚度小于该第一厚度。
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公开(公告)号:CN109427652B
公开(公告)日:2020-08-18
申请号:CN201710770218.9
申请日:2017-08-31
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L21/768 , H01L23/528 , H01L27/108
摘要: 本发明公开一种埋入式字符线结构的制作方法和结构,其制作方法包含:首先,提供一基底,一字符线沟槽位于基底中,二源极/漏极掺杂区位于字符线沟槽两侧的基底中,然后形成一氧化硅层覆盖字符线沟槽,之后形成一氮化钛层覆盖氧化硅层,接着进行一斜角掺质注入制作工艺,将硅原子注入氮化钛层中使得部分的氮化钛层转变为一氮硅化钛层,接续形成一导电层于字符线沟槽中,再移除部分的导电层、部分的氮硅化钛层、部分氧化硅以形成一凹槽,最后形成一帽盖层填入凹槽。
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公开(公告)号:CN109326595A
公开(公告)日:2019-02-12
申请号:CN201710637712.8
申请日:2017-07-31
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L27/108 , H01L21/8242
摘要: 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含:一半导体基底,其上具有一栅极沟槽,该栅极沟槽包含一上沟槽及一下沟槽,其中该上沟槽较该下沟槽宽;一栅极,嵌入于该栅极沟槽中,其中该栅极包含一栅极上部及一栅极下部;一第一栅极介电层,设于该栅极上部与该上沟槽的侧壁之间,其中该第一栅极介电层具有一第一厚度;及一第二栅极介电层,设于该栅极下部与该下沟槽的侧壁之间,其中该第二栅极介电层具有一第二厚度,且该第二厚度小于该第一厚度。
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公开(公告)号:CN109309123A
公开(公告)日:2019-02-05
申请号:CN201710628502.2
申请日:2017-07-28
申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
IPC分类号: H01L29/51 , H01L21/285
CPC分类号: H01L21/76237 , H01L21/02164 , H01L21/02238 , H01L21/02255 , H01L21/764 , H01L21/823481 , H01L27/10823 , H01L27/10876 , H01L27/10891 , H01L29/4236 , H01L29/511 , H01L21/285 , H01L29/513
摘要: 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含有一半导体衬底,具有一栅极沟槽,穿过主动区域及围绕主动区域的一沟槽绝缘区域,其中栅极沟槽显露出主动区域的侧壁及沟槽绝缘结构的侧壁,其中沟槽绝缘结构包含一孔隙;一第一栅极介电层,共形的覆盖住主动区域的侧壁及沟槽绝缘区域的侧壁,其中孔隙被第一栅极介电层填满;一第二栅极介电层,从主动区域的侧壁上生长出来;及一栅极,设于栅极沟槽中。
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