半导体元件及其制作方法

    公开(公告)号:CN109309123B

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN201710628502.2

    申请日:2017-07-28

    IPC分类号: H01L29/51 H01L21/285

    摘要: 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含有一半导体衬底,具有一栅极沟槽,穿过主动区域及围绕主动区域的一沟槽绝缘区域,其中栅极沟槽显露出主动区域的侧壁及沟槽绝缘结构的侧壁,其中沟槽绝缘结构包含一孔隙;一第一栅极介电层,共形的覆盖住主动区域的侧壁及沟槽绝缘区域的侧壁,其中孔隙被第一栅极介电层填满;一第二栅极介电层,从主动区域的侧壁上生长出来;及一栅极,设于栅极沟槽中。

    半导体元件及其制作方法

    公开(公告)号:CN109326595B

    公开(公告)日:2021-03-09

    申请号:CN201710637712.8

    申请日:2017-07-31

    IPC分类号: H01L27/108 H01L21/8242

    摘要: 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含:一半导体基底,其上具有一栅极沟槽,该栅极沟槽包含一上沟槽及一下沟槽,其中该上沟槽较该下沟槽宽;一栅极,嵌入于该栅极沟槽中,其中该栅极包含一栅极上部及一栅极下部;一第一栅极介电层,设于该栅极上部与该上沟槽的侧壁之间,其中该第一栅极介电层具有一第一厚度;及一第二栅极介电层,设于该栅极下部与该下沟槽的侧壁之间,其中该第二栅极介电层具有一第二厚度,且该第二厚度小于该第一厚度。

    半导体元件及其制作方法

    公开(公告)号:CN109326595A

    公开(公告)日:2019-02-12

    申请号:CN201710637712.8

    申请日:2017-07-31

    IPC分类号: H01L27/108 H01L21/8242

    摘要: 本发明公开一种半导体元件及其制作方法。该半导体元件包含:一半导体基底,其上具有一栅极沟槽,该栅极沟槽包含一上沟槽及一下沟槽,其中该上沟槽较该下沟槽宽;一栅极,嵌入于该栅极沟槽中,其中该栅极包含一栅极上部及一栅极下部;一第一栅极介电层,设于该栅极上部与该上沟槽的侧壁之间,其中该第一栅极介电层具有一第一厚度;及一第二栅极介电层,设于该栅极下部与该下沟槽的侧壁之间,其中该第二栅极介电层具有一第二厚度,且该第二厚度小于该第一厚度。