公开(公告)号：CN103296007B

公开(公告)日：2016-01-27

申请号：CN201310065365.8

申请日：2013-03-01

申请人： 英飞凌科技股份有限公司

发明人： R.恩格尔 ,  S.亨内克 ,  N.迈斯 ,  D.梅因霍尔德 ,  H-J.蒂默 ,  N.乌班斯基 ,  A.瓦特

IPC分类号： H01L23/532 ,  H01L21/768

CPC分类号： H01L23/564 ,  H01L21/7685 ,  H01L21/76852 ,  H01L23/53219 ,  H01L23/53228 ,  H01L23/53238 ,  H01L23/5329 ,  H01L24/03 ,  H01L24/05 ,  H01L24/45 ,  H01L24/48 ,  H01L24/49 ,  H01L2224/02166 ,  H01L2224/04042 ,  H01L2224/05624 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/45147 ,  H01L2224/45565 ,  H01L2224/45664 ,  H01L2224/48463 ,  H01L2224/48624 ,  H01L2224/48824 ,  H01L2224/4911 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/10253 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/1301 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/20752

摘要： 本发明涉及用于传导垫的保护层及其形成方法。在一个实施例中，一种形成半导体器件的方法包括在衬底上方形成金属线以及在金属线的顶部表面上方沉积合金化材料层。该方法进一步包括通过将合金化材料层与金属线组合而形成保护层。

公开(公告)号：CN103296007A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310065365.8

申请日：2013-03-01

申请人： 英飞凌科技股份有限公司

发明人： R.恩格尔 ,  S.亨内克 ,  N.迈斯 ,  D.梅因霍尔德 ,  H-J.蒂默 ,  N.乌班斯基 ,  A.瓦特

IPC分类号： H01L23/532 ,  H01L21/768

CPC分类号： H01L23/564 ,  H01L21/7685 ,  H01L21/76852 ,  H01L23/53219 ,  H01L23/53228 ,  H01L23/53238 ,  H01L23/5329 ,  H01L24/03 ,  H01L24/05 ,  H01L24/45 ,  H01L24/48 ,  H01L24/49 ,  H01L2224/02166 ,  H01L2224/04042 ,  H01L2224/05624 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/45147 ,  H01L2224/45565 ,  H01L2224/45664 ,  H01L2224/48463 ,  H01L2224/48624 ,  H01L2224/48824 ,  H01L2224/4911 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/10253 ,  H01L2924/12042 ,  H01L2924/1301 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/20752

摘要： 本发明涉及用于传导垫的保护层及其形成方法。在一个实施例中，一种形成半导体器件的方法包括在衬底上方形成金属线以及在金属线的顶部表面上方沉积合金化材料层。该方法进一步包括通过将合金化材料层与金属线组合而形成保护层。