干涉仪模块
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102735163B

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201210091968.0

    申请日:2012-03-30

    IPC分类号: G01B9/02 G03F7/20

    摘要: 本发明涉及一种适用于测量参考反射镜和测量反射镜之间的位移的方向的差分干涉仪模块。在实施例中,差分干涉仪模块适用于将三种参考光束向着第一反射镜发射并将三种测量光束向着第二反射镜发射,以便确定所述第一反射镜和所述第二反射镜之间的位移。在优选实施例中,该同一模块也适用于测量绕两个垂直轴的相对旋转。本发明还涉及一种用于测量这样的位移和旋转的方法。

    在使用有部分反射位置标记的基底的光刻系统中的位置确定

    公开(公告)号:CN103582848B

    公开(公告)日:2018-05-08

    申请号:CN201280027158.7

    申请日:2012-04-23

    IPC分类号: G03F9/00

    CPC分类号: G03F9/7088 G03F9/7076

    摘要: 在使用有部分反射位置标记的基底的光刻系统中的位置确定。本发明涉及光刻系统中使用的基底,所述基底配有至少部分地反射的位置标记,该位置标记包括结构的阵列,该阵列沿该标记的纵向方向延伸,其特征在于,所述结构被布置成沿该纵向方向改变标记的反射系数,其中所述反射系数对预定波长被确定。在一实施例中,镜面反射系数沿基底变化,其中高阶衍射实质上被该基底吸收。射束在基底上的位置因而能够根据基底中它的反射的强度被确定。本发明还涉及定位装置和与基底合作的光刻系统,以及该基底的制造方法。

    干涉仪模块
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107036528A

    公开(公告)日:2017-08-11

    申请号:CN201710222191.X

    申请日:2012-03-30

    IPC分类号: G01B9/02 G02B27/28 G03F7/20

    摘要: 本发明涉及一种适用于测量参考反射镜和测量反射镜之间的位移的方向的差分干涉仪模块。在实施例中,差分干涉仪模块适用于将三种参考光束向着第一反射镜发射并将三种测量光束向着第二反射镜发射,以便确定所述第一反射镜和所述第二反射镜之间的位移。在优选实施例中,该同一模块也适用于测量绕两个垂直轴的相对旋转。本发明还涉及一种用于测量这样的位移和旋转的方法。

    在使用有部分反射位置标记的基底的光刻系统中的位置确定

    公开(公告)号:CN103582848A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201280027158.7

    申请日:2012-04-23

    IPC分类号: G03F9/00

    CPC分类号: G03F9/7088 G03F9/7076

    摘要: 在使用有部分反射位置标记的基底的光刻系统中的位置确定。本发明涉及光刻系统中使用的基底,所述基底配有至少部分地反射的位置标记,该位置标记包括结构的阵列,该阵列沿该标记的纵向方向延伸,其特征在于,所述结构被布置成沿该纵向方向改变标记的反射系数,其中所述反射系数对预定波长被确定。在一实施例中,镜面反射系数沿基底变化,其中高阶衍射实质上被该基底吸收。射束在基底上的位置因而能够根据基底中它的反射的强度被确定。本发明还涉及定位装置和与基底合作的光刻系统,以及该基底的制造方法。

    干涉仪模块
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102735163A

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201210091968.0

    申请日:2012-03-30

    IPC分类号: G01B9/02 G03F7/20

    摘要: 本发明涉及一种适用于测量参考反射镜和测量反射镜之间的位移的方向的差分干涉仪模块。在实施例中,差分干涉仪模块适用于将三种参考光束向着第一反射镜发射并将三种测量光束向着第二反射镜发射,以便确定所述第一反射镜和所述第二反射镜之间的位移。在优选实施例中,该同一模块也适用于测量绕两个垂直轴的相对旋转。本发明还涉及一种用于测量这样的位移和旋转的方法。