颗粒抑制系统和方法
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110892333B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN201880047710.6

    申请日:2018-07-18

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 物体平台可以包括第一结构和相对于第一结构能够移动的第二结构。第二结构被配置为支撑物体。物体平台还包括能够移动地耦接到第一结构或第二结构、但不同时耦接到两者的密封板。并且所述物体平台包括至少一个致动器,其被配置成移动所述密封板,使得在所述密封板与所述第一结构或所述第二结构中未被耦接至所述密封板的一个之间限定一基本恒定的间隙。

    膜组件和颗粒捕集器
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109564394B

    公开(公告)日:2021-06-18

    申请号:CN201780046859.8

    申请日:2017-07-17

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 颗粒捕集器组件配置成减少具有较大范围的尺寸、材料、行进速度和入射角的污染物颗粒到达颗粒敏感环境的可能性。所述颗粒捕集器可以是位于光刻设备的静止零件与可移动零件之间的间隙几何颗粒捕集器。所述颗粒捕集器也可以是位于光刻或量测设备中的颗粒敏感环境的表面上的表面几何颗粒捕集器。

    颗粒抑制系统和方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110892333A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201880047710.6

    申请日:2018-07-18

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 物体平台可以包括第一结构和相对于第一结构能够移动的第二结构。第二结构被配置为支撑物体。物体平台还包括能够移动地耦接到第一结构或第二结构、但不同时耦接到两者的密封板。并且所述物体平台包括至少一个致动器,其被配置成移动所述密封板,使得在所述密封板与所述第一结构或所述第二结构中未被耦接至所述密封板的一个之间限定一基本恒定的间隙。

    掩模版夹持设备
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110268331B

    公开(公告)日:2021-12-07

    申请号:CN201880011018.8

    申请日:2018-01-17

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 公开了为图案形成设备提供Z方向的支撑系统的系统和方法,该图案形成设备可以在对X和Y方向的行进和迟滞影响最小的条件下在高加速度和高减速度下工作。掩模版夹持系统包括支撑设备和保持设备。保持设备被配置为可释放地将掩模版耦合到支撑设备。保持设备包括多个突节。掩模版夹持系统还包括被耦合到支撑设备的金属支撑系统。金属支撑系统提供从真空通道到保持设备的真空路径。