用于底盘测量系统的测量头、底盘测量系统以及用于确定底盘测量系统的测量头的位置参数的方法

    公开(公告)号:CN101978240A

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN200980110352.X

    申请日:2009-02-02

    IPC分类号: G01B11/25 G01B11/275

    摘要: 按本发明的用于底盘测量系统的测量头包括用于产生结构化的灯光的照明装置(38、58、78、98)、与所述照明装置(38、58、78、98)指向相同方向的参考表面(40、60、80、100)以及至少一台与所述照明装置(38、58、78、98)指向相同方向的测量摄像机(34、36;54、56;74、76;94、96),其中构成所述照明装置(38、58、78、98),使得其在沿汽车横向方向对置的测量头(32、52;72、92)上产生结构图,其中在所述参考表面(40、60、80、100)上能够描绘通过所述沿汽车横向方向对置的测量头(32、52;72、92)的照明装置(38、58;78、98)产生的结构图,并且其中构成所述测量摄像机(34、36;54、56;74、76;94、96),使得其为确定所述测量头(32、52、72、92)的位置参数而检测所述对置的测量头(32、52;72、92)的参考表面(40、60;80、100)上的结构图。

    用于光学轮位调准的智能传感器

    公开(公告)号:CN1157078A

    公开(公告)日:1997-08-13

    申请号:CN96190689.8

    申请日:1996-05-15

    IPC分类号: H04N7/18 G01B5/24 G01B11/26

    摘要: 一种用于光学轮位调准装置的传感器方法和设备,它采用一个或更多个诸如激光器(12、13、14)之类的光源来将激光线或其它成型光投射到被测轮胎侧壁(32a)的各个位置上。此传感器包括一个摄像机(18)或其它光响应接收器和一个使反射激光线组合成被相机接收的单一图像的光学系统(16)。此光学系统还使一个或更多个反射激光线旋转,致使所有的反射部分进入相机时具有相同的总取向。相机输出一个表示此图像的视频数据流。传感器带有一个电路(20),它将进入的视频数据流与阈值进行比较以便逐像素确定(88)是否有任何特殊的像素位于或不位于相机接收到的一个激光线上。对于一个位于激光线上的像素,比较器中断(IRQ)微处理器(80)的运行,然后微处理器确定该像素在图像中的位置,并用此信息来产生坐标输出数据。

    用于在车辆上确定间距的方法和装置

    公开(公告)号:CN102753313A

    公开(公告)日:2012-10-24

    申请号:CN201180010520.5

    申请日:2011-01-04

    摘要: 按本发明的方法,用于确定用于对具有车身(3)和至少一个车轮(2)的车辆(1)进行底盘测量的间距,尤其用于确定高度水平(h),该方法包括通过将结构化的光图案至少投影到所述车辆的车轮(2)上这种方式来确定所述车轮(2)的车轮旋转中心(Z)、用经过校准的成像的传感系统来拍摄由所述车轮(2)反射的光图案、从所反射的光图案中确定3D云点并且从所述3D云点中确定所述车轮旋转中心(Z)这些步骤。所述方法也包括通过对以前确定的3D云点的分析或者通过对多个在进行非结构化的照明时拍摄的灰度值图像的分析来确定车身(3)上的点(P)并且作为所述车轮旋转中心(Z)与所述车身上的点(P)之间的垂直间距来确定高度水平(h)这些步骤。

    用于底盘测量系统的测量头、底盘测量系统以及用于确定底盘测量系统的测量头的位置参数的方法

    公开(公告)号:CN101978240B

    公开(公告)日:2012-10-10

    申请号:CN200980110352.X

    申请日:2009-02-02

    IPC分类号: G01B11/25 G01B11/275

    摘要: 按本发明的用于底盘测量系统的测量头包括用于产生结构化的灯光的照明装置(38、58、78、98)、与所述照明装置(38、58、78、98)指向相同方向的参考表面(40、60、80、100)以及至少一台与所述照明装置(38、58、78、98)指向相同方向的测量摄像机(34、36;54、56;74、76;94、96),其中构成所述照明装置(38、58、78、98),使得其在沿汽车横向方向对置的测量头(32、52;72、92)上产生结构图,其中在所述参考表面(40、60、80、100)上能够描绘通过所述沿汽车横向方向对置的测量头(32、52;72、92)的照明装置(38、58;78、98)产生的结构图,并且其中构成所述测量摄像机(34、36;54、56;74、76;94、96),使得其为确定所述测量头(32、52、72、92)的位置参数而检测所述对置的测量头(32、52;72、92)的参考表面(40、60;80、100)上的结构图。