FPGA调试系统及方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106951587A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710081184.2

    申请日:2017-02-15

    CPC classification number: G06F17/5054 G06F17/5031

    Abstract: 本发明所提供的FPGA调试系统及方法,通过将FPGA写入的调试信号信息读取至容量较大且接口带宽亦足够的片外存储单元加以存储,在保持调试信号数量足够的前提下,将调试信号观测时间的大幅提升,由此就可以避免现有调试方式不可避免的反复挑选调试信号和反复尝试触发时机的问题,也就避免了为了调试需要反复进行非常耗时的FPGA实现流程,大大提高FPGA的调试效率。并且能够解决现有调试技术无法诊断大时间跨度异常的难题。

    相对定时表征
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104603784A

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN201380046636.3

    申请日:2013-07-18

    Abstract: 公开了使得能够使用钟控电子设计自动化(EDA)的相对定时表征的技术。在示例中,一种方法能够包括EDA工具,该EDA工具识别电路模型中的单元在离散点(pod)事件与两个汇聚点(poc)事件之间的相对定时约束(RTC),其中,所述两个poc事件包括第一poc事件(poc0)和第二poc事件(poc1)。所述EDA工具能够对于所述pod事件与所述第一poc事件之间的第一poc事件路径生成最大目标延迟。所述EDA工具能够对于所述pod事件与所述第二poc事件之间的第二poc事件路径生成最小目标延迟。所述EDA工具然后能够使用所述最大目标延迟和所述最小目标延迟来优化所述电路模型。

    一种集成电路设计中优化连线约束的方法和系统

    公开(公告)号:CN102467582B

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201010532083.0

    申请日:2010-10-29

    CPC classification number: G06F17/5077 G06F17/5031 G06F2217/84

    Abstract: 本发明公开了一种集成电路设计中优化连线约束的方法和系统,其中方法包括:对于连线中的至少一个子连线,确定该子连线的目标时序路径;计算确定的该子连线的目标时序路径上的TP参数和RP参数,其中,TP参数为该子连线所在的目标时序路径上时序收敛的可能性,RP参数为该子连线所在的目标时序路径上经过的物理绕线轨迹的解决拥塞问题的可能性;获得集成电路设计工具为该子连线设置的当前连线约束;以及根据在TP参数和RP参数组成的二维空间中,子连线的目标时序路径上的TP参数和RP参数在该二维空间中的空间位置的不同而设置的不同的连线约束调整策略,调整该子连线的当前连线约束。本发明能够使得连线的过程对时序的影响变小。

    设计集成电路的方法与使用该方法的计算机系统

    公开(公告)号:CN101887469B

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN200910253458.7

    申请日:2009-12-16

    Abstract: 本发明提供设计集成电路(IC)的方法及使用该方法的计算机系统,包括:进行IC设计的布局(placing),其中IC设计包括第一元件、第二元件,以及路径耦接第一和第二元件;进行IC设计的布线(routing);取得关于一路径的电阻数据和电容值数据的至少一个;取得关于路径的时序数据;使用电阻数据、电容值数据与时序数据的至少一个,用以决定路径的关键尺寸变化;以及修正IC设计,其中修正的步骤包括进行路径的关键尺寸变化。本发明能够降低20%的功率需求,并且增加5-10%的执行效能。另一潜在优点是提供一种额外的因素予IC设计者,使IC设计者通过该因素调整IC以符合设定时序需求和/或保持时序需求。

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