-
公开(公告)号:CN101506839A
公开(公告)日:2009-08-12
申请号:CN200780030442.9
申请日:2007-07-25
申请人: 于利奇研究中心有限公司
CPC分类号: H01J37/222 , G06K9/03 , H01J37/26 , H01J37/263 , H01J2237/1534 , H01J2237/223 , H01J2237/2617 , H01J2237/2823
摘要: 本发明涉及一种用于测量二维图像相似性的方法,其中至少一个图像包含附加信号,其位置依赖性或者对称特征至少可以估计出来。本发明涉及所述图像被分割成相互等同的子图像,使得至少一个子图像在附加信号的梯度方向上的范围小于此子图像在与此垂直的方向上的范围。所述子图像被单独比较并且组合所有比较的结果以便形成相似性的测量结果。因而,这使所述方法对于附加信号的变化并不敏感。所述方法尤其适合于确定在电子显微镜图像中的散焦和散光。这取决于实验测量的图像与以散焦和散光的特定值产生的模拟图像的相似性比较。
-
公开(公告)号:CN106062917A
公开(公告)日:2016-10-26
申请号:CN201580006977.7
申请日:2015-06-17
申请人: 智能病毒成像公司
IPC分类号: H01J37/153
CPC分类号: H01J37/153 , H01J2237/1532 , H01J2237/223
摘要: 该方法用于透镜系统的自动像散校正。在透镜组的第一消像散器设置下,提供未被聚焦的第一图像(96)。计算装置计算相应的第一傅立叶光谱图像(312)。通过计算第一矢量(132)和第二矢量(134),确定傅立叶光谱图像(128,130,312)的像素的分布和方向。将第一矢量(132)与第二矢量(134)相比较。将透镜系统从第一消像散器设置改变为第二消像散器设置以提供第二图像(98)。计算相应的傅立叶光谱图像(314)。通过计算第三矢量和第四矢量来确定第二傅立叶光谱图像(314)的像素的分布和方向。将第三矢量与第四矢量相比较。选择具有最低的矢量比率的图像。
-
公开(公告)号:CN104810230B
公开(公告)日:2017-03-08
申请号:CN201510040069.1
申请日:2015-01-27
发明人: B.布伊斯塞
CPC分类号: H01J37/226 , H01J37/20 , H01J37/228 , H01J37/26 , H01J37/261 , H01J2237/14 , H01J2237/20207 , H01J2237/20214 , H01J2237/223 , H01J2237/2602
摘要: 相关光学和带电粒子显微镜。本发明涉及装配有TEM柱和光显微镜(10)的相关光和电子显微镜(CLEM),所述光显微镜安装在TEM的物镜的极靴(8A、8B)之间。为了扩大针对增强的灵敏度的接受立体角而使用截短的透镜。应注意的是这并不意味着透镜示出像散(其并不是圆筒形透镜)。本发明还教导在样本(1)处于第一方向上的情况下使用光显微镜来制作第一图像。由于两个方向312x,312y)上的透镜的不同NA,此图像将在一个方向上示出比在与之垂直的方向上更高的(衍射限制)分辨率。通过使样本旋转并制作第二图像,可以形成与在其中其示出低NA的方向上的图像中的任一个相比示出更好分辨率的组合图像。
-
公开(公告)号:CN104810230A
公开(公告)日:2015-07-29
申请号:CN201510040069.1
申请日:2015-01-27
申请人: FEI公司
发明人: B.布伊斯塞
CPC分类号: H01J37/226 , H01J37/20 , H01J37/228 , H01J37/26 , H01J37/261 , H01J2237/14 , H01J2237/20207 , H01J2237/20214 , H01J2237/223 , H01J2237/2602
摘要: 相关光学和带电粒子显微镜。本发明涉及装配有TEM柱和光显微镜(10)的相关光和电子显微镜(CLEM),所述光显微镜安装在TEM的物镜的极靴(8A、8B)之间。为了扩大针对增强的灵敏度的接受立体角而使用截短的透镜。应注意的是这并不意味着透镜示出像散(其并不是圆筒形透镜)。本发明还教导在样本(1)处于第一方向上的情况下使用光显微镜来制作第一图像。由于两个方向(312x,312y)上的透镜的不同NA,此图像将在一个方向上示出比在与之垂直的方向上更高的(衍射限制)分辨率。通过使样本旋转并制作第二图像,可以形成与在其中其示出低NA的方向上的图像中的任一个相比示出更好分辨率的组合图像。
-
公开(公告)号:CN102299037B
公开(公告)日:2016-04-13
申请号:CN201110172913.8
申请日:2011-06-24
申请人: FEI公司
CPC分类号: H01J37/263 , H01J37/09 , H01J2237/043 , H01J2237/223 , H01J2237/2614 , H01J2237/2802
摘要: 在TEM的衍射平面中使用的阻挡部件。本发明涉及将被放置在TEM的衍射平面中的阻挡部件。其类似于用于单边带成像的刀边缘,但是仅阻挡在小角度内偏转的电子。结果,根据本发明的TEM的对比度传递函数将与低频下的单边带显微镜的对比度传递函数和用于高频率的正常显微镜的对比度传递函数相等。优选地,被阻挡部件阻挡的最高频率使得没有阻挡部件的显微镜将显示出0.5的CTF。
-
公开(公告)号:CN101506839B
公开(公告)日:2012-10-31
申请号:CN200780030442.9
申请日:2007-07-25
申请人: 于利奇研究中心有限公司
CPC分类号: H01J37/222 , G06K9/03 , H01J37/26 , H01J37/263 , H01J2237/1534 , H01J2237/223 , H01J2237/2617 , H01J2237/2823
摘要: 本发明涉及一种用于测量二维图像相似性的方法,其中至少一个图像包含附加信号,其位置依赖性或者对称特征至少可以估计出来。本发明涉及所述图像被分割成相互等同的子图像,使得至少一个子图像在附加信号的梯度方向上的范围小于此子图像在与此垂直的方向上的范围。所述子图像被单独比较并且组合所有比较的结果以便形成相似性的测量结果。因而,这使所述方法对于附加信号的变化并不敏感。所述方法尤其适合于确定在电子显微镜图像中的散焦和散光。这取决于实验测量的图像与以散焦和散光的特定值产生的模拟图像的相似性比较。
-
公开(公告)号:CN102299037A
公开(公告)日:2011-12-28
申请号:CN201110172913.8
申请日:2011-06-24
申请人: FEI公司
CPC分类号: H01J37/263 , H01J37/09 , H01J2237/043 , H01J2237/223 , H01J2237/2614 , H01J2237/2802
摘要: 在TEM的衍射平面中使用的阻挡部件。本发明涉及将被放置在TEM的衍射平面中的阻挡部件。其类似于用于单边带成像的刀边缘,但是仅阻挡在小角度内偏转的电子。结果,根据本发明的TEM的对比度传递函数将与低频下的单边带显微镜的对比度传递函数和用于高频率的正常显微镜的对比度传递函数相等。优选地,被阻挡部件阻挡的最高频率使得没有阻挡部件的显微镜将显示出0.5的CTF。
-
-
-
-
-
-