具有窄光束发散的半导体激光器

    公开(公告)号:CN101340059A

    公开(公告)日:2009-01-07

    申请号:CN200810132604.6

    申请日:2008-07-07

    发明人: 杨国文

    IPC分类号: H01S5/323 H01S5/343

    摘要: 本发明涉及一种减小大功率半导体激光器的垂直发散的方法,该方法产生的阈值电流和转换效率损失可以忽略。小的发散可通过增加不对称激光二极管堆叠结构中的n-包层的厚度获得,其值的范围在10%级别处所测量的激光模式尺寸的1-4倍。该发散可通过调节光模尾部区域的n-包层参数来调整,该尾部区域所测得的光学功率密度为所述光模的最大光学功率密度的0.03%或更小。

    氮化物半导体器件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1845347A

    公开(公告)日:2006-10-11

    申请号:CN200610002963.0

    申请日:2006-01-26

    IPC分类号: H01L33/00

    摘要: 本发明涉及一种具有电子发射结构的氮化物半导体器件。在该器件中,n型氮化物半导体层形成在衬底上,以及有源层形成在n型氮化物半导体层上。而且p型氮化物半导体层形成在有源层上。有源层形成在p型氮化物半导体层和n型氮化物半导体层之间,并包括量子阱层和量子势垒层。此外,在n型氮化物半导体层和有源层之间形成有电子发射层。电子发射层包括:氮化物半导体量子点层,形成在n型氮化物半导体层上,并具有表示为AlxInyGa(1-x-y)N的组成,其中0≤x≤1,且0≤y≤1;以及谐振隧道层,形成在氮化物半导体量子点层上,并具有比相邻的量子点层的带隙大的带隙。

    分布反馈型激光装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1224146C

    公开(公告)日:2005-10-19

    申请号:CN02147339.0

    申请日:2002-10-18

    发明人: 奥贯雄一郎

    IPC分类号: H01S5/12

    摘要: 本发明旨在提供能够抑制因制造偏差引起的光耦合系数的变动的、使制造合格率得以提高的分布反馈型激光装置,其中设有:位于InP衬底(1)上激活层(4)两侧的包覆层,以及位于任一包覆层中的、与包覆层折射率不同的、带有在光出射方向以预定间距在与该出射方向相交的方向上延伸的栈状格子的衍射光栅(6);还至少设有一层光分布调整层(2),该层位于与所述衍射光栅相分离的包覆层内,其成分与所述衍射光栅的相同。

    分布反馈型激光装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1438743A

    公开(公告)日:2003-08-27

    申请号:CN02147339.0

    申请日:2002-10-18

    发明人: 奥贯雄一郎

    IPC分类号: H01S5/12

    摘要: 本发明旨在提供能够抑制因制造偏差引起的光耦合系数的变动的、使制造合格率得以提高的分布反馈型激光装置,其中设有:位于InP衬底(1)上激活层(4)两侧的包覆层,以及位于任一包覆层中的、与包覆层折射率不同的、带有在光出射方向以预定间距在与该出射方向相交的方向上延伸的栈状格子的衍射光栅(6);还至少设有一层光分布调整层(2),该层位于与所述衍射光栅相分离的包覆层内,其成分与所述衍射光栅的相同。