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公开(公告)号：CN118226236B
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410646815.0
申请日：2024-05-23
申请人： 联觉(深圳)科技有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01N21/95 , G01R31/304 , G06F18/2413 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06F18/2433
摘要： 本发明属于PCB技术领域，公开了一种PCB缺陷的智能识别方法及装置，包括对待测PCB板进行电气特性测试，获得电气参数集合并分析，识别出与预期值存在差异的异常参数，将电气参数集合和异常参数输入于训练后的CNN模型进行分析，初步定位异常区域；使用高清相机对异常区域进行成像，获得异常区域的高清图像，以预设比例放大呈现，识别具体的缺陷类型，获得视觉检测结果；综合电气参数集合和每个异常区域的视觉检测结果，评估待测PCB板的性能指标；通过电气特性测试初筛选快速定位存在缺陷的区域，有效提高了检测流程的效率，通过电气测试与视觉检测的结合，双重验证方法不仅增强了检测的准确性，还显著降低了漏检率，确保了缺陷的全面识别。
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公开(公告)号：CN112666452A
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN201910977979.0
申请日：2019-10-15
申请人： 成都欧珀移动通信有限公司
IPC分类号： G01R31/304
摘要： 本公开是关于一种电路板测试结构及装置，所述电路板测试结构包括电路板和第一无线收发模块；所述电路板上设置有待测试模块和信号输入端口，所述待测试模块和所述信号输入端口连接，所述信号输入端口用于将测试信号输入所述待测试模块；第一无线收发模块设于所述电路板，和所述待测试模块连接，所述第一无线收发模块用于发送所述测试结果信号至测试装置，所述测试结果信号为所述待测试模块响应所述测试信号而输出的信号。利用无线收发模块和电路板测试装置通信，实现了电路板的无线测试，解决了相关技术中需要在电路板上设置测试焊盘而导致的电路板有效利用率低的问题。
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公开(公告)号：CN102422172A
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN201080020891.7
申请日：2010-05-05
申请人： 康宁股份有限公司
IPC分类号： G01R31/304 , G01R31/28
CPC分类号： G01R31/309 , G01R31/2808 , G01R31/2812 , G01R31/304
摘要： 提供了用于基板(3)上印刷的电子组件的非接触测试的装置和方法。测试电路(11)与期望的电子组件同时印刷在基板(3)上。测试电路(11)是全光学的，且包含用于为测试电路(11)提供电能的第一部分(13)和用于产生指示电子组件的至少一个电学性质的可检测光信号。实时使用测试电路并且使诸如ePaper之类的产品的印刷中无用的废料的生产最小化。
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公开(公告)号：CN101821641A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200980000264.4
申请日：2009-09-01
申请人： 新诺普系统公司
发明人： 彼得·沃尔 , 约翰·A·威库考斯基 , 弗瑞德里克·J·纽费克斯
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/304
CPC分类号： G01R31/3177 , G01R31/318547
摘要： 扫描测试以及扫描压缩是实现成本降低以及运送品质的关键。在更加复杂的设计中，新的瑕疵类型需要增加的压缩。然而，增加的未知(X)值密度减低了有效率的压缩。一扫描压缩方法可达到对于任何未知值的任何密度的非常高压缩以及完全涵盖率。所描述的技术可完全地并入所述的测试用设计(DFT)以及自动化测试型样产生(ATPG)流程中。比起其他方法，在工业设计上来自使用这些技术的结果展现了一致且可预测的优势。
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公开(公告)号：CN1734279A
公开(公告)日：2006-02-15
申请号：CN200410056069.2
申请日：2004-08-09
申请人： 东捷科技股份有限公司
IPC分类号： G01R31/304 , G01R31/28 , H01L21/66
摘要： 本发明是有关于一种检测覆晶基板的定位方法，包含有下列步骤：A.提供一检测设备，具有一上检测头、一下检测头、一承座、以及一摄影机；B.设定基准位置：备置一基准覆晶基板，具有二定位标记，调整该承座的位置，使该摄影机对该基准覆晶基板上的定位标记分别取像并记录此基准位置；C.待检测覆晶基板定位：以该摄影机对该待检测覆晶基板的二定位标记分别进行取像；D.比对该待检测覆晶基板与该基准覆晶基板的二定位标记的位置，由此得到待检测覆晶基板相对于基准位置的位置差距；E.将该上检测头及该下检测头依前述步骤所得的位置差距位移或旋转，以补偿误差，进而完成定位。
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公开(公告)号：CN1629648A
公开(公告)日：2005-06-22
申请号：CN200410010499.0
申请日：2004-09-30
申请人： 株式会社理光
发明人： 清水武彦
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/304
CPC分类号： G01R31/2803 , G01R31/31703
摘要： 公开了一种能够检查多种电路板的方法、设备、系统、计算机程序以及相关的计算机介质。控制器件根据电路板的特征信息生成测试数据和参考数据。使用该测试数据，电路板生成处理过的数据。比较器件以位为基础比较处理过的数据和参考数据。基于比较结果，比较器确定电路板的可接受性。此外，比较器能够指定引起故障的电路板的特定部分。
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公开(公告)号：CN1167921A
公开(公告)日：1997-12-17
申请号：CN97110787.4
申请日：1997-04-22
申请人： 钟国桢
发明人： 钟国桢
IPC分类号： G01R31/02 , G01R31/304
CPC分类号： G01R31/02 , G01R31/28 , G01R31/304
摘要： 一种测试印刷电路板的自动设备的新结构以及一种测试方法。这种自动测试设备可用于探测印刷电路板的缺陷。自动测试设备具有两块信号激励板，被分别安放在被测印刷电路板的上，下两面。通过上，下信号激励板与被测印刷电路板之间的电容耦合把高频信号注入印刷电路。自动测试设备用大量的集成化的电磁驱动的探针从被测印刷电路板的各支路端头上采集信号。电磁驱动的探针被装配在上部信号激励板上面呈两维矩阵分布。
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公开(公告)号：CN118913159A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410811221.0
申请日：2024-06-21
申请人： 九江明阳电路科技有限公司
IPC分类号： G01B15/00 , H05K3/46 , G01R31/304
摘要： 本发明涉及PCB制造技术领域，尤指一种用于测量层偏数据的方法，包括：在每张内层芯板的四角处设置有靶点，在每张内层芯板的表面建立直角坐标系，为靶点标上对应的坐标；通过计算靶点的坐标获取每张内层芯板在X方向涨缩量和在Y方向上涨缩量；通过比较相邻两张内层芯板在X方向涨缩量的变化量和在Y方向涨缩量的变化量获取相邻两张内层芯板的涨缩量；通过本发明不仅可以量化出压合的综合层偏，还为系数调整提供了明确的数据，提高芯板在压合后的精度，减少时间浪费和降低成本。
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公开(公告)号：CN110398681B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN201910684151.6
申请日：2019-07-26
申请人： 苏州浪潮智能科技有限公司
发明人： 李艳军
IPC分类号： G01R31/304
摘要： 本申请公开了一种双带线检查方法，包括：获取到待检查信号线；筛选出所述待检查信号线中的双带线，并计算出所述双带线的重合长度；根据所述待检查信号线的运行速率计算出最大重合长度；判断所述重合长度是否小于所述最大重合长度；若是，则生成检查通过消息。通过对待检查信号线筛选出双带线的部分，并计算出重合部分的重合长度，并根据运行速率计算出最大重合长度，最后进行判断，实现对双带线进行检查，提高检查的效率。本申请还公开了一种双带线检查装置、计算机设备以及计算机可读存储介质，具有以上有益效果。
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公开(公告)号：CN111913047A
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN202010524229.0
申请日：2020-06-10
申请人： 西安交通大学
IPC分类号： G01R27/26 , G01R31/304
摘要： 本发明公开了一种用于流水线的电路板电性能检测方法，针对测试点位偏移问题提出了解决方法，由于流水线上的电路板基材在运作过程中，扫频检波装置需要对固定的测试点进行扫描。为实现样品检测点位在同一周期测试射频信号发射过程中与谐振探头位置相对静止，提供了同步滑轨的解决方法。通过对电路板基材进行微波测试，结合微波网络分析仪、电性能计算模块对电路板基材的介电性能与损耗进行获取。微波谐振探头通过同步滑轨在固定周期内实现同一点位的电路板基材的扫描，从而快速检测出产品的电学性能是否合格，并且本发明利于在流水线上实现大批量测试，且加装结构便捷、具备较高的测试效率。
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