METHOD FOR PRODUCING A SUPERCONDUCTING TRANSISTOR

    公开(公告)号:EP4412438A1

    公开(公告)日:2024-08-07

    申请号:EP23305137.4

    申请日:2023-02-02

    IPC分类号: H10N60/01 H10N60/10

    CPC分类号: H10N60/0912 H10N60/128

    摘要: Method for producing a superconducting transistor (100), comprising:
    - producing a dummy gate on a first part (124) of a semiconducting layer;
    - producing superconducting electrodes such that the first part of the semiconducting layer comprises sides edges arranged against parts of the superconducting electrodes, and comprising a deposition of a superconducting material layer having first parts arranged against side edges of the dummy gate and second parts (140) forming parts of the superconducting electrodes;
    - producing lateral spacers (144) next to the first parts of the superconducting material layer and on the second parts of the superconducting material layer;
    - removing the dummy gate and the first parts of the superconducting material layer, creating a gate location arranged between the lateral spacers and above the first part of the semiconducting layer and above said parts of the superconducting electrodes;
    - producing a gate (154, 156) in the gate location.

    MÉTHODE DE DÉTECTION D'UNE TRANSITION FORTUITE D'ÉTAT DANS UNE LIGNE CONDUCTRICE, EN PARTICULIER UNE LIGNE SUPRACONDUCTRICE

    公开(公告)号:EP4411395A1

    公开(公告)日:2024-08-07

    申请号:EP24155132.4

    申请日:2024-01-31

    摘要: Méthode de détection d'une transition fortuite dans une ligne conductrice, comprenant les étapes de :
    Réaliser (201) une première mesure de réflectométrie de référence sur la ligne conductrice pour en déduire un réflectogramme temporel de référence,
    Identifier (203) au moins une caractéristique du réflectogramme temporel de référence
    Réaliser (204) une seconde mesure de réflectométrie sur la ligne conductrice pour obtenir un second réflectogramme temporel,
    Identifier (205) la même au moins une caractéristique dans le second réflectogramme temporel et,
    Pour chaque pic d'amplitude identifié, déterminer (206) une différence entre l'au moins une caractéristique mesurée sur le réflectogramme temporel de référence et la même caractéristique mesurée sur le second réflectogramme temporel,
    Evaluer (206), sur plusieurs mesures successives si ladite différence augmente en valeur absolue et si c'est le cas, déclencher (207) une alerte correspondant à l'apparition d'une transition fortuite.