公开(公告)号：EP1334370B1

公开(公告)日：2005-03-30

申请号：EP01983152.8

申请日：2001-10-16

申请人： Xilinx, Inc.

发明人： VOOGEL, Martin, L. ,  NGUYEN, Leon, Ly ,  VASUDEVAN, Narasimhan

IPC分类号： G01R31/28 ,  H01L21/66

CPC分类号： H01L22/34 ,  G01R31/026 ,  G01R31/316 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： A test structure (200) provides defect information rapidly and accurately. The test structure includes a plurality of lines (201,208) provided in a parallel orientation, a decoder (202, 205) coupled to the plurality of lines for selecting one of the plurality of lines, and a sense amplifier coupled to the selected line. To analyze an open, a line in the test structure is coupled to the sense amplifier. A high input signal is provided to the line. To determine the resistance of the open, a plurality of reference voltages are then provided to the sense amplifier. A mathematical model of the resistance of the line based on the reference voltage provided to the sense amplifier is generated. Using this mathematical model, the test structure can quickly detect and characterize defect levels down to a few parts-per-million at minimal expense.

公开(公告)号：EP1126524A2

公开(公告)日：2001-08-22

申请号：EP01400157.2

申请日：2001-01-19

申请人： O2 Micro International Limited

发明人： SHYR, You-Yuh

IPC分类号： H01L27/02

CPC分类号： H03M1/1014 ,  G01R31/316 ,  G11C17/18 ,  H03M1/742

摘要： A programmable after-package, on-chip reference voltage trim circuit for an integrated circuit having a plurality of programmable trim cells generating a programmed sequence. A converter is provided to convert the bit sequence into a trim current. The trim current is added to an initial value of a reference voltage to be trimmed, as generated by the integrated circuit. Once the correct value of the trim current is determined, isolation circuitry is programmed to isolate the trim circuitry from the remainder of the IC, thereby freeing the logic and package pins associated with the IC for use by users of the IC. The preferred trim circuitry includes fuses which are blown in accordance with a bit value supplied to the trim cell to permanently fix a trim current value, once a best fit value is determined.

摘要翻译： 一种用于集成电路的可编程后置封装片上参考电压微调电路，具有产生编程序列的多个可编程微调单元。 提供A转换器以将位序列转换成微调电流。 微调电流被加到由集成电路产生的要修整的参考电压的初始值。 一旦确定了修正电流的正确值，就对隔离电路进行编程，以将修整电路与IC的其余部分隔离，从而释放与IC相关联的逻辑和封装引脚以供IC的用户使用。 优选的修剪电路包括根据提供给微调单元的位值而被吹送的熔丝，以一旦确定最佳拟合值，就永久地固定修整电流值。

公开(公告)号：EP0926930A3

公开(公告)日：2000-06-28

申请号：EP98309866.6

申请日：1998-12-02

申请人： Hewlett-Packard Company

发明人： Wharton, Robert J. ,  Daniel, Eric R. ,  Brown, Joseph D.

IPC分类号： H05K1/11 ,  H05K1/02 ,  H05K13/08 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/316 ,  H05K1/0268 ,  H05K1/111 ,  H05K3/3436 ,  H05K13/08 ,  H05K2201/0761 ,  H05K2201/09345 ,  H05K2201/09772 ,  H05K2201/10106 ,  H05K2201/10734 ,  Y02P70/611

摘要： A printed circuit board (10) has a first image (11). In the first image (11) there is a first ball grid array pattern (61) for attaching a first input/output ball grid array package. The first ball grid array pattern (61) includes a de-populated center area. A first surface insulation resistance pattern (62) is laid out within the de-populated center area of the first ball grid array pattern (61). A second ball grid array pattern (24) also may be contained within the first image (11). The second ball grid array pattern (24) is for attaching a second input/output ball grid array package. The second ball grid array pattern (24) has rows of interconnect pads (81). A second surface insulation resistance pattern (82) is laid out between the rows of interconnect pads (81).

公开(公告)号：EP0305951B1

公开(公告)日：1994-02-02

申请号：EP88114058.6

申请日：1988-08-29

申请人： EVERETT/CHARLES CONTACT PRODUCTS INC.

发明人： van Loan, David R. ,  Swart, Mark Andrew ,  Johnston, Charles Joseph

IPC分类号： G01R1/04

CPC分类号： G01R1/0425 ,  G01R31/316

公开(公告)号：EP0547693A2

公开(公告)日：1993-06-23

申请号：EP92203864.1

申请日：1992-12-10

申请人： Philips Electronics N.V.

发明人： Den Dekker, Wilhelmus Paulus Maria

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/316

摘要： A circuit arrangement includes a wear detector which is proportioned or which operates so that it "wears faster" than the other parts of the circuit arrangement. To the wear detector there is connected an indicator which, when the wear detector ceases to function, indicates that the circuit arrangement is to be replaced.

摘要翻译： 的电路装置包括一个比例或其操作，以便它比电路装置的其它部分“磨损更快”磨损检测器。 对于磨损检测器，连接有一个指示器，当磨损检测器停止工作时，表示要更换电路装置。

公开(公告)号：EP0213453B1

公开(公告)日：1992-10-21

申请号：EP86110981.7

申请日：1986-08-08

申请人： International Business Machines Corporation

发明人： Davidson, Evan E. ,  Kiesling, David A.

IPC分类号： G01R31/28 ,  G06F11/26

CPC分类号： G01R31/316 ,  G01R31/31924 ,  G01R31/3193

摘要： A test system having improved means for reducing driver switching (delta I) noise. The test system employs a tester connected to and electrically testing an integrated circuit device, such as a logic chip. The integrated circuit device has a plurality of input terminals (R5-R54) for receiving an electrical test pattern from the tester. The integrated circuit device also includes a plurality of output driver circuits (D2-D1O2) having outputs connected to the tester. The test system is characterized in that said integrated circuit device includes a driver sequencing circuit (L1-L1O) responsive to at least one control signal (R1-R4) from said tester to sequentially condition said driver circuits for possible switching, whereby delta I noise is reduced during testing.

摘要翻译： 一种具有改进的用于减少驱动器切换（ΔI）噪声的装置的测试系统。 测试系统采用与逻辑芯片等集成电路器件连接并电测试的测试器。 集成电路器件具有用于从测试器接收电测试图案的多个输入端子（R5-R54）。 集成电路装置还包括具有连接到测试器的输出的多个输出驱动器电路（D2-D1O2）。 测试系统的特征在于所述集成电路器件包括响应于来自所述测试器的至少一个控制信号（R1-R4）的驱动器排序电路（L1-L1O），以顺序地调节所述驱动器电路以进行可能的切换，由此δI噪声 在测试期间减少。

公开(公告)号：EP0449744A1

公开(公告)日：1991-10-02

申请号：EP91400884.2

申请日：1991-03-29

申请人： BOARD OF REGENTS OF LELAND STANFORD UNIVERSITY

发明人： Marsland, Robert A.

IPC分类号： G01R27/06

CPC分类号： H01L27/0605 ,  G01R27/04 ,  G01R31/316 ,  H03H7/325

摘要： A floating sampler and directional bridge for use in characterizing the impedance of an integrated device under test from D.C. up to frequencies above 100 GHz. The directional bridge has the structure of a Wheatstone bridge with resistor values selected such that when the input impedance of the device under test matches the output impedance of the source, no voltage develops across two nodes of the bridge. When no impedance match exists, a floating diode/capacitor sampler comprised of two diode/capacitor pairs (D1, C1 ; D2, C2) driven by local oscillator (147) strobe pulses samples the voltage difference between the two nodes of the bridge and outputs an IF signal proportional to the difference. Another pair of diode/capacitor samples (D3, C3; D4, C4) outputs an IF signal proportional to the amplitude of the RF excitation waveform.

摘要翻译： 浮动采样器和定向桥，用于表征从直流到高于100 GHz频率的被测集成器件的阻抗。 方向桥具有惠斯通电桥的结构，其电阻值被选择，使得当被测器件的输入阻抗与源的输出阻抗匹配时，桥上的两个节点不产生电压。 当没有阻抗匹配时，由本地振荡器（147）驱动的两个二极管/电容器对（D1，C1; D2，C2）组成的浮动二极管/电容采样器选通脉冲，对桥的两个节点和输出之间的电压差进行采样 与差异成正比的IF信号。 另一对二极管/电容器样本（D3，C3; D4，C4）输出与RF激励波形的幅度成比例的IF信号。

公开(公告)号：EP0343828A1

公开(公告)日：1989-11-29

申请号：EP89304922.1

申请日：1989-05-16

申请人： FUJITSU LIMITED

发明人： Kono, Takeshi ,  Yoshimura, Tatsuro Shintamagawa Haimu 5-1302

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/318

CPC分类号： G01R31/2818 ,  G01R31/316

摘要： An LSI system includes: a multi-layer print board (300); and a plurality of LSI circuit chips (100 to 103) mounted on the multi-layer printed circuit board, each including a plurality of pins (E,520), a reference voltage terminal (F), a pin scan out terminal (G) and a plurality of pin scan out circuits (130i) corresponding to the pins on a one-to-one basis. The multi-layer printed circuit board includes a reference voltage feeding layer (310) formed therein in a form of a mesh or a sheet. By electrically connecting each reference voltage terminal of the plurality of LSI circuit chips to the reference voltage feeding layer, a substantially equal reference voltage can be fed to each LSI and a voltage drop thereof is reduced.

摘要翻译： LSI系统包括：多层印刷板（300）; 以及安装在多层印刷电路板上的多个LSI电路芯片（100〜103），每个包括多个引脚（E，520），参考电压端子（F），引脚扫描输出端子（G） 以及与该引脚相对应的多个引脚扫描输出电路（130i）。 多层印刷电路板包括以网或片形式形成在其中的参考电压馈送层（310）。 通过将多个LSI电路芯片的每个参考电压端子电连接到参考电压馈送层，可以将大致相等的参考电压馈送到每个LSI，并且其电压降降低。

公开(公告)号：EP0329838A2

公开(公告)日：1989-08-30

申请号：EP88120034.9

申请日：1988-12-01

申请人： Hewlett-Packard Company

发明人： Smyth, John B. Jr.

IPC分类号： H01L21/00

CPC分类号： G01B21/04 ,  G01R31/316

摘要： A new and improved method and apparatus for profiling wafers (100), and for uniquely identifying the dies formed thereon, wherein the method includes the step of locating a set of reference points (110, 111) along the periphery of the wafer, relative to a predetermined coordinate system. Next, the equation of a hypothetical circle which substantially contours the periphery of the wafer, and which passes through the reference points, is defined. The coordinates (a,b) of the center (120) of the hypothetical circle, as well as the coordinates of an arbitrary reference die (102) on the wafer, are then derived from the equation of the hypothetical circle. Subsequently, the entire surface of the wafer is mapped relative to the center or to the reference die, by utilizing predetermined stepping dimensions.

摘要翻译： 用于剖析晶片（100）和用于唯一地识别此形成在其上，worin该方法包括定位一组沿着晶片的周缘的参考点（110，111）的步骤中，相对于一个新的和改进的方法和装置 预定的坐标系。接着，假想圆的方程基本上轮廓晶片的外周，并且其通过参考点通过，被定义。 假想圆的中心（120）的坐标（A，B），以及在晶片上的任意参考的（102）的坐标，然后从假想圆的方程式导出。 接着，在晶片的整个表面被相对于中心或参考的是，由步进利用预定尺寸映射。

公开(公告)号：EP0124762A1

公开(公告)日：1984-11-14

申请号：EP84103618.9

申请日：1984-04-02

申请人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT

发明人： Welzhofer, Klaus

IPC分类号： G01R31/28

CPC分类号： G01R31/316

摘要： Zur Erzeugung von hochfrequenten impulsförmigen Ausgangssignalen einstellbarer Grundlinienspannung und Amplitudenspannung aus Eingangssignalen, insbesondere in Prüfeinrichtungen, ist eine Anordnung vorgesehen, die eine Eingangsstufe (EST), eine Konstantstromquellenschaltung (KSQ) und eine Pegelbegrenzungsschaltung (SST) enthält. Die Eingangsstufe (EST) erzeugt mit Hilfe zweier Differenzverstärker(DV1, DV2) zwei Steuersignale, die den in der Konstantstromquellenschaltung (KSO) enthaltenen Konstantstromquellen (KQ1, KQ2) zugeführt werden. Bei Vorliegen des einen Steursignals wird die eine Konstantstromquelle (KQ1) eingeschaltet und liefert den ersten Konstantstrom (lK1 Bei Vorliegen des anderen Steuersignals wird die zweite Konstantstromquelle (KQ2) eingeschaltet und liefert den zweiten Konstantstrom (lK2). Die Konstantströme (lK1, IK2), die abwechselnd auftreten, fließen entweder über einen ersten Gleichrichter (G1) oder über einen zweiten Gleichrichter (G2) und über einen ersten Transistor (T3) oder einen zweiten Transistor (T4) der Pegelbegrenzungsschaltung (SST). Die beiden Gleichrichter (G1, G2) sind miteinander verbunden und bilden den Ausgang (A4). An der anderen Anschlußklemme (VP2, VP3) der Gleichrichter (G1, G2) liegt ein Potential, das über einen Operationsverstärker (OP1, OP2) und den Transistor (T3, T4) von einer Steuerspannung (VL, VH) festgelegt wird. Durch Änderung der Steuerspannungen (VL, VH) wird das Potential an den Anschlußklemmen (VP2, VP3) eingestellt und damit am Ausgang (A4) die Spannung für die Amplitude und für die Grundlinie des Ausgangssignals (AS) erzeugt.

摘要翻译： 1.一种用于在输入信号产生具有可调整的基线电势和幅度的脉冲输出信号，从，特别是用于在测试设备中使用的装置，输入信号的DASS（ES）是在输入级进料至（EST） ，并发射在第一输出（A1）当超过一个参考电压（UR1）的第一控制信号，并且当基准电压（UR1）被下冲，辐射从一个第二输出端（A2）的第二控制信号，做了 恒定电流源单元（KSQ）被连接到输入级（EST）的第一和第二输出（A1，A2），并在输出（A3）当所述第一控制信号发生发射第一恒定电流（IK1），和 发射方向相反时，做了一个限幅电平电路的第二控制信号发生的第二恒定电流（IK 2）（SST）被连接到恒定电流源单元（KSQ）的输出（A3），并连接到一个 第一控制电压源发射第一调节的控制电压（VL）以 调整输出信号（AS）的振幅，并且被连接到第二控制电压源发射第二调节的控制电压（VH）来调整输出信号（AS）的基线电势，和发出的输出信号（ AS）在在所述第一和第二恒定电流（IK1，IK 2）和所述第一和第二控制电压（VL，VH）在依赖性输出（A4）。