MESSVORRICHTUNG MIT EINEM SICHEREN MESSKANAL
    34.
    发明公开

    公开(公告)号:EP3340471A1

    公开(公告)日:2018-06-27

    申请号:EP18150598.3

    申请日:2012-05-14

    摘要: Die Erfindung betrifft eine Messvorrichtung (1) mit wenigstens zwei Messkanälen (2a, 2b), jeder Messkanal (2a, 2b) umfassend einen A/D-Wandler (4a, 4b) für die Umwandlung einer analogen Spannung in einen digitalen Spannungswert, und eine Logikeinheit (5a, 5b), die mit dem A/D-Wandler (4a, 4b) verbunden ist, um den digitalen Spannungswert zu empfangen, wobei wenigstens ein Messkanal (2a, 2b) als sicherer Messkanal (2a, 2b) mit einem Multiplexer (3a, 3b) ausgeführt ist, wobei mit dem Multiplexer (3a, 3b) die analoge Spannung zwischen einer Messspannung (U Mess1 , U Mess2 ) und einer Referenzspannung (U Ref1 , U Ref2 ) umschaltbar ist, und die Logikeinheit (5a, 5b) wenigstens eines anderen Messkanals (2a, 2b) als Referenzerzeuger ausgeführt ist, um die Referenzspannung (U Ref1 , U Ref2 ) bereitzustellen und den Multiplexer (3a, 3b) zwischen der Messspannung (U Mess1 , U Mess2 ) und der Referenzspannung (U Ref1 , U Ref2 ) umzuschalten.

    METHOD OF CALIBRATING A THERMOMETER-CODE SAR A/D CONVERTER AND THERMOMETER-CODE SAR-A/D CONVERTER IMPLEMENTING SAID METHOD
    38.
    发明授权
    METHOD OF CALIBRATING A THERMOMETER-CODE SAR A/D CONVERTER AND THERMOMETER-CODE SAR-A/D CONVERTER IMPLEMENTING SAID METHOD 有权
    校准温度计码SAR A / D转换器和温度计码SAR-A / D转换器的方法实现所述方法

    公开(公告)号:EP2933925B1

    公开(公告)日:2018-03-28

    申请号:EP15163376.5

    申请日:2015-04-13

    摘要: The present disclosure relates to a method of calibrating a thermometer-code SAR-A/D converter, said thermometer-code SAR-A/D converter comprising a N bit -bit digital-to-analog converter (DAC) for outputting a N bit -bit output code, said digital-to-analog converter (DAC) comprising a first subconverter (C MSB ) having a plurality of N Th thermometer elements T j (1) and a second subconverter (C LSB ) having a plurality of N Bin binary-weighted elements (2), wherein said N bit output code is equal to the sum of N BitTh and N BitBin where N Th = 2^N BitTh and N BitBin is equal to N Bin = N BitBin . The calibration method includes the steps of determining (5) an Integral Non-Linearity error value (µ R ) of a R th thermometer-code level of said thermometer elements T j according to the formula: µ R = ˆ‘ j = 0 R - 1 E j - R N th ˆ‘ j = 0 N th - 1 E j where E j represents the relative differences between said plurality of thermometer elements T j and a reference thermometer element T ref selected from said plurality of thermometer elements T j of said digital-to-analog converter (DAC) - minimizing (6) the maximum of said error value µ R to obtain a minimized error value; - generating (7) said output code (OUTPUT) according to said minimized error.

    VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINER MESSGRÖßE
    39.
    发明公开
    VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINER MESSGRÖßE 审中-公开
    VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG EINERMESSGRÖßE

    公开(公告)号:EP3231093A1

    公开(公告)日:2017-10-18

    申请号:EP15804496.6

    申请日:2015-12-03

    申请人: Robert Bosch GmbH

    IPC分类号: H03M1/00 H03M1/10 H03M1/66

    CPC分类号: H03M1/001 H03M1/1009 H03M1/66

    摘要: The invention relates to a method for determining a measurement variable (Q), characterized by the following steps: providing a model (M) of a circuit (DAC) having at least one parameter (tau, Imax); actuating the circuit (DAC) by way of a preset signal (H), and detecting values (l1, l2,l3) of a manipulated variable (I) generated by the circuit in n discrete points in time (t1, t2, t3), and determining a value (tauDAC, lmaxDAC) of the at least one Parameter (tau, lmax) on the basis of the detected values (I1, l2, l3) of the manipulated variable (I) generated by the circuit (DAC); detecting values (J1, J2) of a variable (J) influenced by the circuit (DAC) in m discrete points in time (T1, T2), and determining the measurement variable (Q) from the measurement values (J1, J2) of the variable (J) influenced by the circuit (DAC), taking into account the model (M) of the circuit (DAC).

    摘要翻译: 本发明涉及一种用于确定测量变量(Q)的方法,其特征在于以下步骤:提供具有至少一个参数(tau,Imax)的电路(DAC)的模型(M); 通过预置信号(H)启动电路(DAC),并且检测由电路在n个离散时间点(t1,t2,t3)中产生的操纵变量(I)的值(l1,l2,l3) ,并且基于由电路(DAC)产生的操纵变量(I)的检测值(I1,I2,I3)确定至少一个参数(τau,Imax)的值(tauDAC,ImaxDAC); 在m个离散时间点(T1,T2)中检测受所述电路(DAC)影响的变量(J)的值(J1,J2),并从所述测量值(J1,J2) 考虑到电路(DAC)的模型(M),受电路(DAC)影响的变量(J)。