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    Verfahren zur Prüfung von bruchgetrennten Bauteilen
    1.
    发明公开
    Verfahren zur Prüfung von bruchgetrennten Bauteilen 有权
    维尔法伦·朱尔·普鲁芬·冯·布鲁奇特伦顿·贝特伦

    公开(公告)号：EP2420820A2

    公开(公告)日：2012-02-22

    申请号：EP10004098.9

    申请日：2010-04-17

    申请人： Hommel-Etamic GmbH

    发明人： Keller, Hubert

    IPC分类号： G01N21/29

    CPC分类号： G01M11/081 ,  F16C9/045 ,  G01M13/02 ,  G01N21/8806 ,  G01N2021/8841 ,  G01N2203/0067 ,  G01N2203/0647

    摘要： Bei einem Verfahren zur Prüfung von bruchgetrennten Bauteilen wird festgestellt, ob an wenigstens einer Bruchstelle ein geometrischer Versatz zwischen den Bruchflächen besteht. Erfindungsgemäß wird an wenigstens einer Bruchstelle in Bezug auf beiderseits der Bruchstelle angeordnete Flächen ein geometrischer Versatz der Flächen in Richtung der Flächennormalen optisch gemessen.

    摘要翻译： 该方法包括检测在断裂部件（即，裂纹活塞杆（2））的断裂点（10,12）处的断裂面之间是否存在几何偏移。 断裂面的几何偏移沿着垂直于断裂点和断裂点两侧的表面的方向光学测量。 数码相机连接在断裂点。 表面的边缘被数字拍摄，边缘的特征由照片确定。 还包括用于测试断裂部件的测试装置的独立权利要求。

    Inspektionsvorrichtung für Behältnisse
    2.
    发明公开
    Inspektionsvorrichtung für Behältnisse 有权
    InspektionsvorrichtungfürBehältnisse

    公开(公告)号：EP1985997A1

    公开(公告)日：2008-10-29

    申请号：EP08005253.3

    申请日：2008-03-20

    申请人： KRONES Aktiengesellschaft

    发明人： Kwirandt, Rainer, Dr.

    IPC分类号： G01N21/90 ,  B07C5/34

    CPC分类号： B07C5/3404 ,  G01N21/909 ,  G01N2021/8841

    摘要： Die Erfindung betrifft eine Inspektionsvorrichtung (1) für Behältnisse (10) mit einer ersten Beleuchtungseinrichtung (4), welche wenigstens einen Anteil der Mantelfläche (10a) des Behältnisses (10) beleuchtet, einer Bildaufnahmeeinrichtung (8), welche das von der Beleuchtungseinrichtung (4) auf die Mantelfläche (10a) ausgestrahlte und von der Mantelfläche (10a) zurückgeworfene Licht wenigstens teilweise aufnimmt, wobei die erste Beleuchtungseinrichtung (4) in einer Längsrichtung (L) des Behältnisses wenigstens teilweise oberhalb des beleuchteten Anteils der Mantelfläche (10a) angeordnet ist. Erfindungsgemäß weist die Inspektionsvorrichtung (1) eine zweite Beleuchtungseinrichtung (6) auf, die einen Anteil der Mantelfläche (10a) beleuchtet, wobei die zweite Beobachtungseinrichtung in der Längsrichtung (L) des Behältnisses (10) wenigstens teilweise unterhalb des beleuchteten Anteils der Mantelfläche (10a) angeordnet ist.

    摘要翻译： 该装置具有照明装置（6），其包括用于照亮容器的侧表面（10a）的一部分的LED模块。 所述照明装置沿所述容器的长度方向（L）配置在所述侧面的被所述照明装置照射的部分的下方。 照明装置完全设置在容器下面。 透镜体（12）设置在照明装置和容器之间的光线路径中。 倾斜镜（14）设置在容器和图像采集装置之间的光线路径中。

    Optisches Lochsuchgerät
    3.
    发明公开
    Optisches Lochsuchgerät 失效
    光学孔检测器。

    公开(公告)号：EP0316746A2

    公开(公告)日：1989-05-24

    申请号：EP88118660.5

    申请日：1988-11-09

    申请人： Erwin Sick GmbH Optik-Elektronik

    发明人： Eder, Johannes

    IPC分类号： G01N21/89

    CPC分类号： G01N21/894 ,  G01N21/89 ,  G01N2021/8841

    摘要： Ein optisches Lochsuchgerät für in ihrer Längsrichtung vorge­schobene Bahnen (17) weist zwei im Abstand entlang der Bahn angeordnete Laserabtastgeräte (12, 15) auf, denen jeweils eine in Reflexion arbeitende Lichtempfangsanordnung (11, 14) zugeordnet ist. Die beiden Lichtempfangsanordungen (11, 14) sind an eine Auswerteelektronik (18) angeschlossen, in deren die beiden an gleichen Stellen der Bahn (17) erfaßten photo elektrischen Empfangssignale korreliert und daraufhin unter­sucht werden, ob sie gleich sind oder nicht.

    摘要翻译： 为先进的在其纵向方向腹板的光学检测器孔（17）具有两个沿轨道布置的激光扫描装置（12，15）隔开，其中每个在一个反射光接收装置（11，14）工作的分配。 两个Lichtempfangsanordungen（11，14）被连接到一个电子评估单元（18），其中所述两个在所述幅材（17）的相同的位置检测相关的光电接收信号，并检查，以确定它们是否相等或没有。

    Device for measuring surface properties of optical media stampers
    4.
    发明公开
    Device for measuring surface properties of optical media stampers 审中-公开
    装置，用于测量冲头的表面特性对光学数据载体

    公开(公告)号：EP1655572A1

    公开(公告)日：2006-05-10

    申请号：EP04026259.4

    申请日：2004-11-05

    申请人： DaTARIUS Technologies GmbH

    发明人： Hausberger, Peter ,  Pohl, Peter

    IPC分类号： G01B11/30 ,  G01N21/88 ,  G11B7/26

    CPC分类号： G11B7/261 ,  G01B11/303 ,  G01N21/47 ,  G01N21/9506 ,  G01N2021/8841

    摘要： Device for measuring surface properties of optical media stampers comprising a turntable for rotating the stamper, the measuring device comprising

    at least one light source (1, 1') for emitting a light beam, which is directed onto a surface of the stamper (10),
    stray light detector means (9, 9') for detecting stray light, which is reflected from the stamper (10) surface under angles differing from the direct reflexion angle of the incident light beam.

    摘要翻译： 装置，用于测量光学介质的压模，其包括一个转盘用于转动压模的表面特性，所述测量装置包括至少一个光源（1,1“），用于发射光束，所有这一切都被引导到压模的表面（10） ，这是从下角度从入射光束的直接反射角度不同的压模（10）的表面反射的杂散光检测器装置（9,9“），用于检测漫射光，全部。

    An apparatus for optically checking the exterior quality of bulbous fruits and vegetable products of various shapes and sizes
    6.
    发明公开
    An apparatus for optically checking the exterior quality of bulbous fruits and vegetable products of various shapes and sizes 有权
    装置用于光学检查圆顶形的水果和各种形状和尺寸的蔬菜的外表面的质量

    公开(公告)号：EP1469301A1

    公开(公告)日：2004-10-20

    申请号：EP03425249.4

    申请日：2003-04-18

    申请人： S.A.M.M.O. S.p.A.

    发明人： Zanelli, Raffaele

    IPC分类号： G01N21/95 ,  G01N21/89 ,  B07C5/342

    CPC分类号： G01N33/025 ,  B07C5/3422 ,  G01N21/13 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/89 ,  G01N21/951 ,  G01N2021/0187 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8466 ,  G01N2021/8841 ,  G01N2021/887 ,  G01N2201/102

    摘要： An apparatus for optically checking the exterior quality of bulbous or vegetable products of various shapes and sizes, comprises means (12) for conveying a succession of fruit or vegetable products (1) along a path from an entry (2) to an exit (3) of the apparatus and a first observation station (4) positioned along the path and provided with at least a primary camera (40) in such a way as to define a primary field of view (41) for the observation of a first segment (42) of the path. A second observation station (5) is positioned along the path downstream of the first observation station (4) and is provided with at least a secondary camera (50) in such a way as to define a secondary field of view (51) for the observation of a second segment (52) of the path separate from the first segment (42). Means for upsetting the fruit or vegetable products (1) are structured in such a way as to act exclusively in a third segment (62) of the path interposed between the first and the second segment (42, 52), therein upsetting every fruit or vegetable product (1) from a first position, in which a first surface portion (10) of the fruit or vegetable product (1) falls within the primary field of view (41) when the fruit or vegetable product (1) is in the first segment (42) of the path, to a second position, in which a second surface portion (11) of the fruit or vegetable product (1), at least complementary to the first surface portion (10), falls within the secondary field of view (51) when the fruit or vegetable product is in the second segment (52) of the path.

    摘要翻译： 用于光学检查的各种形状和尺寸的球状或蔬菜产品的外观质量，一种设备包括用于输送的水果或蔬菜产品的连续（1）沿着从进入的路径（2）向出口装置（12）（3 ）（沿路径定位并设置有至少一个主照相机（40）（在寻求一种方式来定义的图（41伯字段4））用于第一分段的观测的装置和一个第一观测站的 42）的路径。一个第二探测站（5）被沿着下游的第一探测站（4）的路径定位并在寻求一种方式设置有至少一个辅助照相机（50）以限定的次级场 视图（51），用于该路径的第二段（52）的观察从所述第一部段（42）分开。 装置，用于镦水果或蔬菜产品（1）被构造在寻求一种方式，以在第一和第二分段（42,52）之间的路径的第三区段（62）独自起作用。其中每镦水果或 从第一位置，其中所述水果或蔬菜产品的第一表面部分（10），如果所述视一次场（41）内，当水果或蔬菜产品（1）在（1）植物产品（1） 路径的第一部分（42），在其中水果或蔬菜产品的第二位置的第二表面部分（11）（1），至少互补如果二次字段内的第一表面部分（10） 的图（51）当水果或蔬菜产品是在路径的第二区段（52）。

    METHOD AND APPARATUS FOR ARTICLE INSPECTION
    7.
    发明公开
    METHOD AND APPARATUS FOR ARTICLE INSPECTION 审中-公开
    方法及装置研究文章

    公开(公告)号：EP1436646A1

    公开(公告)日：2004-07-14

    申请号：EP02798060.6

    申请日：2002-09-13

    申请人： Anzpac Systems Limited

    发明人： QUALTROUGH, Paul, Thomas ,  PORTER, Arron, James

    IPC分类号： G01V8/20 ,  G01S17/02 ,  G01N21/892 ,  B07C5/34

    CPC分类号： G01N21/85 ,  B07C5/3422 ,  G01N21/274 ,  G01N21/8806 ,  G01N33/025 ,  G01N2021/1772 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8841 ,  G01N2021/887

    摘要： The present invention relates to an article inspection apparatus. The apparatus includes conveying means (6) for conveying an article (5) through an inspection site (I) and rotating the article (5) aboutan axis (F). The article (5) is viewed by an imaging system including a first and a second image capture means (1A, 1B) and a mirror arrangement (7, 8) that defines the field of view of said first andsecond image capture means (1A, 1B). The imaging system is arranged so that the first image capturemeans (1A) has a field of view including a top view and a first upper side view of an article (5) on said conveying means (6) and the second image capture means (1B) has a field of view including a top viewand second upper side view of said article (5), wherein said second upper side view opposes said firstupper side view. Multiple lanes arranged side by side may be provided and lighting that provides substantially uniform light over the article (5) is also provided.

    Vision inspection systems
    8.
    发明公开
    Vision inspection systems 失效
    视觉检测系统

    公开(公告)号：EP0465233A3

    公开(公告)日：1992-11-25

    申请号：EP91306023.2

    申请日：1991-07-02

    申请人： WESTINGHOUSE ELECTRIC CORPORATION

    发明人： Beatty, John Martin ,  Borgoyn, Edward Charles

    IPC分类号： G06F15/70 ,  G01N21/88 ,  G06F15/62

    CPC分类号： G06T7/0004 ,  G01N21/8903 ,  G01N2021/8841 ,  G01N2021/8887 ,  G06T2207/30136 ,  G06T2207/30141

    摘要： The two sides of a flat panel are inspected in successive inspection stations each of which includes a camera having a linear array of CCD elements which generates an image line-by-line from a stripe of light reflected by one flat surface of the panel as the panel is conveyed through the inspection station. The signals representing images of the two faces of the panel are independently digitized and stored in separate pixel arrays of gray-scale values. The images are queued for filtering followed by processing by a single image processing board which generates a table of hits, identified as pixels having gray-scale values which breach preselected thresholds. Sections of the stored pixel array are transmitted sequentially to the image processing board which has a frame size smaller than the stored array, with the frame sized sections overlapping as required to confine the pixels processed to those inside the edges of the panel image. A microprocessor analyzes the hits identified by the image processing board and generates a reject signal if the density of hits exceeds a limit. The microprocessor also associates hits by proximity into blobs and rejects the panel if a weighted count of hits in any blob exceeds predetermined criteria.