BESTIMMUNG VON TIEFENWERTEN EINES OBERFLÄCHENBEREICHS EINES WERKSTÜCKS

    公开(公告)号:EP4379445A3

    公开(公告)日:2024-08-07

    申请号:EP24170556.5

    申请日:2022-02-11

    摘要: Die Erfindung betrifft ein Verfahren (40) zum Erzeugen von Tiefenwerten eines Oberflächenbereichs einer Oberfläche eines Werkstücks (12), mit:
    - Empfangen (42) eines Fokalbildstapels, wobei der Fokalbildstapel eine Mehrzahl von Bildern des Werkstücks (12) aufweist, wobei die Bilder den Oberflächenbereich der Oberfläche des Werkstücks (12) mit in einer Tiefenrichtung unterschiedlichen Fokalebenenpositionen (22) als Bildbereich des Bildes abbilden, wobei jedem Bild des Fokalbildstapels eine Fokalebenenposition (22) zugeordnet ist und wobei Bildpunkte der Bilder jeweils einem entsprechenden Objektpunkt auf der Oberfläche des Werkstücks (12) zugeordnet sind;
    - Bestimmen (44) jeweils eines Bildschärfenwerts für eine Mehrzahl von Teilbereichen des Bildbereichs jedes Bildes des Fokalbildstapels;
    - Anpassen (46) eines Modells, mit dem ein Verlauf von Bildschärfenwerten jeweils für einen gemeinsamen abgebildeten Teilbereich des Oberflächenbereichs über die Bilder des Bildstapels beschreibbar ist, jeweils an tatsächliche Verläufe der bestimmten Bildschärfenwerte derjenigen Teilbereiche der Bildbereiche, die einen Stapel von Bild-Teilbereichen bilden, weil sie einem gemeinsamen abgebildeten Teilbereich des Oberflächenbereichs entsprechen;
    - Bestimmen (52) jeweils eines Tiefenwerts für die gemeinsamen Teilbereiche, wobei der Tiefenwert in dem Verlauf von Bildschärfenwerten des Modells einer größten Bildschärfe für den jeweiligen Stapel von Bild-Teilbereichen entspricht und ein Maß für eine Tiefenposition des gemeinsamen abgebildeten Teilbereichs des Oberflächenbereichs ist;
    - Korrigieren (52) mindestens eines Abbildungsfehlers der Bilder des Fokalbildstapels für zumindest einen der bestimmten oder zu bestimmenden Tiefenwerte, wobei der mindestens eine Abbildungsfehler ein Kippfehler und/oder ein Bildfeldwölbungs-Fehler und/oder ein Astigmatismus-Fehler ist.

    IMAGE CAPTURING APPARTUS AND FOCUSING METHOD THEREOF

    公开(公告)号:EP3333608A1

    公开(公告)日:2018-06-13

    申请号:EP18153434.8

    申请日:2013-01-17

    发明人: Oishi, Hideshi

    IPC分类号: G02B7/28 G02B21/24 H04N5/232

    摘要: In the image capturing apparatus M, the optical path difference producing member 21 is disposed on the second optical path L2. Thereby, it is possible to suppress the amount of light when an optical image which is focused at the front of an optical image made incident into the first imaging device 18 (front focus) and an optical image which is focused at the rear thereof (rear focus) are respectively imaged at the second imaging device 20 and also to secure the amount of light on image pickup by the first imaging device 18. Further, in the image capturing apparatus M, a position of the first imaging region 22A and a position of the second imaging region 22B on the imaging area 20a are reversed with respect to the axis P in association with reversal of a scanning direction of the sample S. Therefore, despite the scanning direction of the sample S, it is possible to obtain a deviation direction of the focus position under the same conditions.

    MICROSCOPE DEVICE FOR SURGICAL USE, AND MICROSCOPE SYSTEM FOR SURGICAL USE
    9.
    发明公开
    MICROSCOPE DEVICE FOR SURGICAL USE, AND MICROSCOPE SYSTEM FOR SURGICAL USE 审中-公开
    用于手术的显微镜装置和用于手术的显微镜系统

    公开(公告)号:EP3295890A1

    公开(公告)日:2018-03-21

    申请号:EP16792421.6

    申请日:2016-03-09

    IPC分类号: A61B90/20 G02B21/24

    摘要: To enable observation of the operating site to be continued more easily in the case in which the picture of the operating site is no longer displayed normally.
    Provided is a surgical microscope device including: a microscope unit that images an observation target, and outputs a picture signal; a support unit that supports the microscope unit, and is configured as a balance arm; and an auxiliary observation device that is attachable to the microscope unit or the support unit, and is configured to enable observation of an observation range provided by the microscope unit.

    摘要翻译: 在操作现场的图像不再正常显示的情况下,能够更容易地观察操作现场。 提供一种手术显微镜装置,其包括:显微镜单元,其对观察对象进行成像并输出图像信号; 支撑显微镜单元的支撑单元,并构造为平衡臂; 以及辅助观察装置,其能够安装到显微镜单元或支撑单元,并且被配置为能够观察由显微镜单元提供的观察范围。

    MICROSCOPE
    10.
    发明公开
    MICROSCOPE 审中-公开
    显微镜

    公开(公告)号:EP3282300A1

    公开(公告)日:2018-02-14

    申请号:EP17190563.1

    申请日:2014-12-25

    发明人: Matsubara, Kenta

    摘要: The present application relates to an observation apparatus comprising a structured illumination section that emits structured illumination light having a light-dark pattern; a phase difference measurement illumination section that emits illumination light for phase difference measurement onto a subject-mount surface; a phase contrast lens that has a phase plate for dimming illumination light for phase difference measurement, where the illumination light for phase difference measurement having passed through the subject-mount surface is incident into the phase contrast lens, and the structured illumination light is incident into the phase contrast lens in a direction different from a direction of incidence of the illumination light for phase difference measurement through an optical system; a detection section that detects reflected light of the structured illumination light which is reflected on the subject-mount surface; and an observation section that images the illumination light for phase difference measurement which has passed through the phase contrast lens. According to the invention, the phase plate has frequency characteristics in which a transmittance of the structured illumination light is higher than a transmittance of the illumination light for phase difference measurement.

    摘要翻译: 本发明涉及一种观察设备,包括:结构化照明部分,其发出具有明暗图案的结构化照明光; 相位差测量照明部,其向被检体载置面照射用于进行相位差测量的照明光; 具有相位差板,该相位差板用于对相位差测量用照明光进行调光,其中,通过了上述被检体载置面的相位差测量用照明光入射到上述相位差透镜,上述结构化照明光入射到 所述相位差透镜在与通过光学系统进行相差测量的照明光的入射方向不同的方向上; 检测部,其检测在被检体载置面上反射的结构化照明光的反射光; 以及观察部,对通过相位差透镜的相位差测量用照明光进行摄像。 根据本发明,相位板具有频率特性,其中结构化照明光的透射率高于用于相差测量的照明光的透射率。