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公开(公告)号：JP2018091804A
公开(公告)日：2018-06-14
申请号：JP2016237421
申请日：2016-12-07
申请人： ルネサスエレクトロニクス株式会社
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26 , H01L21/822 , H01L27/04 , G01R31/30
CPC分类号： G01R31/2642 , G01R31/2628 , G01R31/2817 , G01R31/2856 , G01R31/2874 , G01R31/30 , G06F12/16 , G11C7/04 , G11C16/349 , G11C29/12015 , G11C2029/5002 , H03K3/0315
摘要： 【課題】半導体装置が受けた電源電圧や環境温度の劣化ストレス累積値に基づいて摩耗故障を精度よく予測することが可能な半導体装置を提供することにある。 【解決手段】半導体装置は、第1累積劣化ストレスカウント値を保持する第1回路と、第2累積劣化ストレスカウント値を保持する第2回路と、累積動作時間のカウント値ないしはそれに相当する値を保持する第3回路と、前記第1累積劣化ストレスカウント値、前記第2累積劣化ストレスカウント値、および前記累積動作時間のカウント値ないしはそれに相当する値と、を受ける第4回路ないし演算手段と、を具備する。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP5732493B2
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：JP2013156482
申请日：2013-07-29
申请人： ルネサスエレクトロニクス株式会社
IPC分类号： H01L21/3205 , H01L21/768 , H01L23/522 , H01L23/12 , H01L21/60
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公开(公告)号：JP6962795B2
公开(公告)日：2021-11-05
申请号：JP2017224143
申请日：2017-11-22
申请人： ルネサスエレクトロニクス株式会社
IPC分类号： G01K7/01 , G01R19/165 , G01K7/00 , H01L21/822 , H01L27/04 , G01R31/28
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公开(公告)号：JP2020042398A
公开(公告)日：2020-03-19
申请号：JP2018167794
申请日：2018-09-07
申请人： ルネサスエレクトロニクス株式会社
摘要： 【課題】装置の故障の予知保全のための、より有益な解析が可能となるデータを得る。 【解決手段】半導体装置1は、所定の機能を有するモジュール2と、前記モジュール2で発生したエラーについてのエラー情報を取得するエラー情報取得部3と、前記半導体装置1にかかるストレスの累積値であるストレス累積値を取得するストレス取得部4と、前記半導体装置1の状態を解析するためのデータとして、前記エラー情報と、前記エラーが発生した時点の前記ストレス累積値とを関連づけたデータである解析用データを保存する解析用データ保存部5とを有する。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2021047058A
公开(公告)日：2021-03-25
申请号：JP2019168868
申请日：2019-09-17
申请人： ルネサスエレクトロニクス株式会社
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/822 , H01L27/04 , G01R31/28
摘要： 【課題】消費電力を低減しつつ、累積熱ストレス情報を無線送信することが可能な技術を提供することにある。 【解決手段】半導体装置は、温度依存性が顕著な熱ストレス情報を所定期間ごとに計測するバッファと、バッファの前記熱ストレス情報を累積して、累積ストレスカウント値として保持する累積ストレスカウンタと、を含む保持回路と、動作判定しきい値を含む制御回路と、無線通信回路と、を有する。制御回路は、バッファから与えられる熱ストレス情報が動作判定しきい値より大きい第1状態から小さい第2状態へ遷移したことに基づいて、無線通信回路による累積ストレスカウント値から算出された累積熱ストレス情報の送信を開始させる。 【選択図】図1
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