検査装置及び検査方法
    9.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2018098249A

    公开(公告)日:2018-06-21

    申请号:JP2016238556

    申请日:2016-12-08

    发明人: 小野 裕行

    IPC分类号: G01B11/02 H01L21/60

    摘要: 【課題】上方にワイヤが位置していても被検査部を短時間で検査することができる検査装置及び検査方法を提供する。 【解決手段】ボンディングされたワイヤよりも下方に位置する被検査部を検査する検査装置である。ワイヤ及び被検査部を、被検査部からワイヤまで段階的に合焦するように撮像して高さ方向に焦点の異なる画像を取得する撮像手段と、画像の画素毎に合焦度を演算する合焦度分布演算手段と、各画像における合焦度の分布情報に基づいて、画素毎の合焦度のピークの高さ位置情報を取得する高さ情報取得手段と、ワイヤが存在する画素領域を特定するワイヤ領域特定手段と、ワイヤ領域特定手段にて特定した画素領域において、合焦度のピークの高さ位置情報から、ワイヤによるピークを消去して、画素毎の合焦度のピークの高さ位置情報を再構成する高さ情報再構成手段とを備え、再構成された合焦度のピークの高さ位置情報に基づいて被検査部を検査する。 【選択図】図1