Optical scanning microscope and its use
    5.
    发明专利
    Optical scanning microscope and its use 审中-公开
    光学扫描显微镜及其应用

    公开(公告)号:JP2006031004A

    公开(公告)日:2006-02-02

    申请号:JP2005203897

    申请日:2005-07-13

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a confocal laser scanning microscope having a detector which forms an image to at least one detection unit. SOLUTION: The confocal laser scanning microscope comprises an illuminator (2) which supplies illumination light for illumination of a sample area (23), scanners (3, 4) which guide and scan the illumination light on the sample and a detector (5) which forms an image of the illuminated sample area (23) on at least one detection unit (28) by the use of a confocal diaphragm (26) while using the scanner (3, 4). Therein, the illuminator (2) supplies linear illumination light to the scanners (3, 4), the scanners (3, 4) guide the linear illumination light and scan on the sample and the confocal diaphragm is formed as a slit diaphragm (26) or as a slit-like area (28, 48) of the detection unit (28) acting as a confocal diaphragm. COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种共焦激光扫描显微镜,其具有将至少一个检测单元形成图像的检测器。 解决方案:共聚焦激光扫描显微镜包括:照明器(2),其提供用于照射样品区域(23)的照明光;扫描器(3,4),其引导和扫描样品上的照明光;以及检测器 5),其在使用扫描器(3,4)的同时通过使用共聚焦膜(26)在至少一个检测单元(28)上形成照明样品区域(23)的图像。 其中,照明器(2)向扫描器(3,4)供应线性照明光,扫描器(3,4)引导线性照明光并扫描样品,并且共聚焦膜形成为狭缝光阑(26) 或作为共焦隔膜的检测单元(28)的狭缝状区域(28,48)。 版权所有(C)2006,JPO&NCIPI

    空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器
    7.
    发明专利
    空隙配置構造体が保持された分光測定用デバイス、それに用いられる枠部材、および、分光器 审中-公开
    用于具有无效结构的光谱仪器,用于其的框架部件和光谱仪

    公开(公告)号:JP2014219423A

    公开(公告)日:2014-11-20

    申请号:JP2014171392

    申请日:2014-08-26

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0202 G01J3/0227 G01N21/3581

    Abstract: 【課題】測定感度が向上し、より微量の被測定物を測定することのできる測定用デバイスを提供すること。【解決手段】本発明は、枠部材、および、該枠部材によって保持された前記空隙配置構造体を含む分光測定用デバイスであって、前記空隙配置構造体は、複数の空隙を有し、照射された電磁波の中から特定の周波数を選択できるものであり、前記枠部材は、前記空隙配置構造体を張力を持たせた状態で保持することができる、分光測定用デバイスである。【選択図】図7

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种测量灵敏度提高的测量装置,并且可以测量少量被测量物体。解决方案:一种用于光谱测定的装置,包括框架构件和由框架构件保持的空隙布置结构 。 空隙布置结构包括多个空隙,并且可以从照射的电磁波中选择特定的频率。 框架构件被构造成将空间布置结构保持在具有拉力的状态。

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