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    画像形成装置、及び汚れ検出方法
    3.
    发明专利
    画像形成装置、及び汚れ検出方法 审中-公开
    图像形成装置和DIRT检测方法

    公开(公告)号：JP2016166788A

    公开(公告)日：2016-09-15

    申请号：JP2015046370

    申请日：2015-03-09

    Applicant: セイコーエプソン株式会社

    Inventor： 久利 龍平

    IPC: G01J3/32 ,  G01J3/50 ,  B41J2/01 ,  B41J2/17 ,  G01N21/15 ,  G01N21/27

    CPC classification number: B41J2/165 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0278 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/524

    Abstract: 【課題】汚れによる測色精度の低下を検知可能な画像形成装置、及び汚れ検出方法を提供する。 【解決手段】プリンターは、インクを吐出する印刷部と、入射される光を分光する分光器17と、を含み、分光器17は、光が通過する窓部176と、窓部176を通過した光を分光する分光素子としての波長可変干渉フィルターを含む光学フィルターデバイス172と、波長可変干渉フィルターにより分光された光を受光する受光部173と、を含み、基準物からの光を分光測定して得られる複数の波長の各々に対応する測定値と、複数の波長の各々に対応する基準値と、に基づいて窓部176の汚れを検出する。 【選択図】図3

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够检测由于污物引起的颜色测量的精度降低的图像形成装置和污物检测方法。解决方案：打印机包括排出墨的打印部分和分光灯的光谱仪17 事件在其上。 光谱仪17包括：光通过的窗口部分176; 光滤波器装置172，其包括波长可变干涉滤光器，作为分离穿过窗部176的光的分光元件; 以及光接收部分173，其接收由波长可变干涉滤光器分割的光，并且基于对应于通过对来自参考对象的光的光谱获得的多个相应波长的测量值来检测窗口部分176上的灰尘，并且对应于参考对象 到多个相应的波长。选择的图：图3

    目的成分検量装置及び電子機器
    5.
    发明专利
    目的成分検量装置及び電子機器 审中-公开
    目标组件称重装置和电子装置

    公开(公告)号：JP2016075522A

    公开(公告)日：2016-05-12

    申请号：JP2014204890

    申请日：2014-10-03

    Applicant: セイコーエプソン株式会社

    Inventor： 倉沢 光 ,  荒井 佳文

    IPC: G01N21/27

    CPC classification number: G01J3/0297 ,  A61B5/01 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/1455 ,  A61B5/1495 ,  G01J3/42 ,  G01K13/002 ,  G06F17/18 ,  G06K9/624 ,  A61B2560/0223 ,  A61B2560/0247 ,  G01N21/359 ,  G01N2201/1293 ,  G06K9/2018 ,  G06K9/6242

    Abstract: 【課題】従来に比べて検量をより容易にかつ高精度に行う技術を提供する。 【解決手段】目的成分検量装置は、検体についての観測データと検量用データとに基づいて被検体についての目的成分に対する混合係数を求める混合係数算出部と、目的成分に対応する混合係数と含有量との関係を示す単回帰式と、混合係数算出部によって求められた混合係数とに基づいて、目的成分の含有量を算出する目的成分量算出部と、を含む。目的成分量算出部は、観測データの取得時における測定条件に応じて単回帰式の2つの定数の少なくとも一方を調整する。 【選択図】図2

    Abstract translation: 要解决的问题：提供比以前更精确和容易地进行称重的技术。解决方案：目标部件称重装置包括：混合系数计算单元，基于观察数据和称重来确定被检物质的目标成分的混合系数 测试物质数据; 目标成分含量计算单元，基于表示混合系数与目标成分的含量之间的关系的单个回归公式和由混合系数计算部获得的混合系数，确定目标成分的含量，目标成分含量 计算单元根据获取测量数据时的测量条件来调整单个回归公式的两个常数中的至少一个常数。选择图：图2

    分光光度計
    8.
    发明专利
    分光光度計 有权
    分光光度计

    公开(公告)号：JP2015001424A

    公开(公告)日：2015-01-05

    申请号：JP2013125474

    申请日：2013-06-14

    Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ ,  Hitachi High-Technologies Corp

    Inventor： SASANO NAOKI ,  KURIMOTO DAISUKE ,  NAKAMURA SATOSHI

    IPC: G01J3/04 ,  G01J3/42

    CPC classification number: G01J3/04 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/06 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/042

    Abstract: 【課題】スペクトル測定において波長毎の測定精度を均一化し、スリット幅の切替えによって生じるスペクトルの段差を抑制できる二光束分光光度計を提供する。【解決手段】時計周り(CW)方向の回転駆動変位に応じてスリット幅が連続的に拡大するように形成された入射スリット12aと、回転軸を中心に入射スリット12aと点対称に形成された出射スリット12bとを有する単一の回転スリット板12を備え、参照試料を透過した第1透過光と測定試料を透過した第2透過光のうち光量の大きい方を基準透過光とし、この基準透過光の光量が所定の範囲に収まるように回転スリット板12の回転駆動変位を決定する。【選択図】図3

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种双光束分光光度计，其能够通过使光谱测量中每波长的测量精度相等来抑制由狭缝宽度切换引起的光谱的电平差。解决方案：分光光度计具有单个旋转狭缝板12，其具有事件 狭缝12a形成为使得狭缝宽度根据顺时针（CW）方向的旋转驱动位移和以与旋转轴为中心的入射狭缝12a对称地形成的发射狭缝12b连续扩大。 穿透参考样品的第一透射光束和穿透了比另一个更大的光能量的测量样品的第二透射光束被制成为参考透射光束，旋转狭缝板12的旋转驱动位移为 确定为使得参考透射光束的光能落在规定范围内。

    ファイバにより光結合されたタイムドメイン・テラヘルツシステム内でファイバの延伸により誘起されるタイミングエラーを低減するシステムと方法
    9.
    发明专利
    ファイバにより光結合されたタイムドメイン・テラヘルツシステム内でファイバの延伸により誘起されるタイミングエラーを低減するシステムと方法 有权
    系统和方法减少光纤拉伸引起的时域误差在时间域光纤耦合的TERAHERTZ系统

    公开(公告)号：JP2014224821A

    公开(公告)日：2014-12-04

    申请号：JP2014107306

    申请日：2014-05-23

    Applicant: ピコメトリクス、エルエルシー ,  Picometrix Llc

    Inventor： DAVID ZIMDARS

    IPC: G01N21/3586 ,  G02B6/44

    CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/3586 ,  G02B6/4206

    Abstract: 【課題】テラヘルツ送信器またはテラヘルツ受信器へ送られる光信号を伝搬する光ファイバの延伸を防止するか、または光信号によりテラヘルツ受信器がテラヘルツ送信器と同期するように、光ファイバの延伸を可能にする。【解決手段】光ファイバの延伸に関係する効果を低減するシステムが、光信号を出力する光制御ユニットと、光源に光結合されたテラヘルツ受信器およびテラヘルツ送信器と、テラヘルツ受信器が光信号によりテラヘルツ送信器に同期するように、テラヘルツ送信器およびテラヘルツ受信器の両方に光信号を伝送する素子とを含んでいる。【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题：为了防止携带发送到太赫兹发射器或太赫兹接收器的光信号的光纤的拉伸，或者拉伸光纤，使得太赫兹接收机通过光信号与太赫兹发射机同步。解决方案： 用于减少与光纤的拉伸有关的影响的系统包括用于输出光信号的光控制单元，光耦合到光源的太赫兹接收器和太赫兹发射器，以及用于将光信号发送到两者的元件 太赫兹发射机和太赫兹接收机，使得太赫兹接收机通过光信号与太赫兹发射机同步。

    反射特性測定装置
    10.
    发明专利
    反射特性測定装置 有权

    公开(公告)号：JPWO2012128113A1

    公开(公告)日：2014-07-24

    申请号：JP2013505905

    申请日：2012-03-13

    Applicant: コニカミノルタ株式会社

    Inventor： 健二 井村 ,  健二 井村

    IPC: G01N21/27 ,  G01J3/42

    CPC classification number: G01N21/55 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/10 ,  G01J3/50 ,  G01J3/524 ,  G01N21/274

    Abstract: 照明光の分光分布の変動に拘わらず、簡易な構成で、試料の反射特性に係る種々の態様の測定が高精度で迅速に行われ得る技術を提供することを目的とする。この目的のために、第1試料での第1反射光と照明光とが第1比率で混じる第1混合光の第1分光分布と、発光素子の第1順電圧とが得られる。第1反射光と照明光とが第2比率で混じる第2混合光の第2分光分布と、発光素子の第2順電圧とが得られる。第2試料での第2反射光と照明光とが第1比率で混じる第1混合光の第3分光分布と、発光素子の第3順電圧とが得られる。第2反射光と照明光とが第2比率で混じる第2混合光の第4分光分布と、発光素子の第4順電圧とが得られる。第1〜4順電圧と第1〜4分光分布とに基づき、照明光の分光分布を示す順電圧を用いた近似関数が導出される。発光素子への第5順電圧の印加時に関し、照明光の分光分布が推定され、第3試料の分光反射率係数が算出される。

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