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公开(公告)号：JP2018197662A
公开(公告)日：2018-12-13
申请号：JP2017101557
申请日：2017-05-23
CPC classification number: G01J3/28 , C12Q1/689 , C12Q1/6895 , C12Q2600/158 , G01J2003/2859 , G01J2003/2866 , G06F17/18 , H01J49/0036 , H01J49/025 , H01J49/26
Abstract: 【課題】各グループに属するサンプルの数が少ない場合でも、グループ間の差異を特徴付けるマーカーピークを的確に選定する。 【解決手段】複数のグループに属する複数のサンプルのマススペクトルから検出したピークを元にピークマトリクスを作成する(S1〜S3)。ピークマトリクスの各行は、一つの質量電荷比値における多数のサンプルについてのピークの強度分布を表す。或る質量電荷比値においてグループ間で差異がなければ該質量電荷比値におけるピーク強度分布は対数正規分布(又は正規分布)となる筈である。そこで、質量電荷比値毎に、ピーク強度分布が対数正規分布に従うとの仮説検定を実行し(S5)、有意な差異があった質量電荷比値をマーカーピークの候補として選定する(S6)。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2018146242A
公开(公告)日：2018-09-20
申请号：JP2017038050
申请日：2017-03-01
Applicant: 株式会社リコー
CPC classification number: G01J3/021 , G01J3/0256 , G01J3/0264 , G01J3/06 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01J3/30 , G01J3/453 , G01J3/52 , G01J2003/064 , G01J2003/451
Abstract: 【課題】安価な構成で安定性の高いスペクトルの測定を行うことを目的としている。 【解決手段】面外方向に並進運動する複数の第一の光反射面を有する第一の光反射部と、固定された複数の第二の光反射面を有する第二の光反射部と、を有するリボン素子と、前記第一の光反射面と前記第二の光反射面との変位量の差の変化が所定の周波数となるように、前記リボン素子へ駆動信号を供給する駆動制御部と、前記第一の光反射面及び前記第二の光反射面により反射された光の光量を示す光量データを、単一受光面により検出する光検出素子と、前記光検出素子により検出された前記光量データを、所定のサンプリング周波数で取得する光量取得部と、を有するスペクトル測定器である。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JPWO2017068702A1
公开(公告)日：2018-08-09
申请号：JP2015079896
申请日：2015-10-22
Applicant: オリンパス株式会社
CPC classification number: H04N5/3675 , G01J3/28 , H04N1/60 , H04N5/142 , H04N9/045 , H04N9/07 , H04N2209/046
Abstract: 撮像素子を構成する複数の画素それぞれの分光感度のばらつきを補正することができる画像処理装置、画像処理方法およびプログラムを提供する。画像処理装置40は、画像データおよび補正係数を撮像装置10から取得する第2外部I/F部41と、注目画素の周囲における注目画素のカラーフィルタの色と同色の周辺同色画素の画素値と第2外部I/F部41が取得した補正係数とを用いて注目画素における補正対象の色成分の推定値を算出し、この推定値と注目画素の補正係数とに基づいて、注目画素の画素値の補正量を算出する補正量算出部441と、補正量算出部441が算出した補正量に基づいて、注目画素の画素値を補正する画素値補正部442と、を備える。
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公开(公告)号：JP6357661B2
公开(公告)日：2018-07-18
申请号：JP2017078614
申请日：2017-04-12
Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社
IPC: G01N21/3581
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/42 , G01J2003/283 , G01J2003/2869 , G01N21/274 , G01N21/3581 , G01N2201/12
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公开(公告)号：JP2018088455A
公开(公告)日：2018-06-07
申请号：JP2016230203
申请日：2016-11-28
Applicant: 住友電気工業株式会社
Inventor： 辻 幸洋
IPC: H01S5/183 , H01L21/3065
CPC classification number: G02B6/122 , G01J3/28 , G01N21/956 , G03F1/36 , G03F7/70508 , H01L21/02109 , H01L21/30621 , H01L21/3065 , H01L21/32139 , H01S5/0202 , H01S5/0421 , H01S5/183 , H01S5/18311 , H01S5/18361
Abstract: 【課題】終点検出において、エッチングされる半導体積層への制約を低減できる、半導体素子を作製する方法を提供する。 【解決手段】半導体素子を作製する方法は、基板と、該基板上に設けられ光反射のための第1半導体積層とを含む基板生産物を準備する工程と、前記第1半導体積層の全部又は一部を除去する工程と、を備え、前記第1半導体積層の全部又は一部を除去する工程は、前記第1半導体積層のエッチングを行い、前記エッチング中に前記基板生産物からのモニター光のフーリエ変換を行って演算結果を生成し、前記演算結果に基づき、前記エッチングの終点検出を判定する。 【選択図】図1
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2018054337A
公开(公告)日：2018-04-05
申请号：JP2016187457
申请日：2016-09-26
Applicant: 株式会社島津製作所
Inventor： 野田 陽
CPC classification number: G01J3/0262 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/18 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01N21/25 , G01N21/274 , G01N30/74
Abstract: 【課題】短時間で測定結果の波長分布から正確に迷光の影響を取り除く補正をすることが可能な分光分析装置を提供する。 【解決手段】この分光分析装置100では、光を吸収する度合いを変化させた同一の光吸収特性を有するとともに1つまたは複数の波長成分に対して吸光係数が大きくなるピークを有する複数の試料Sの各々を用いて取得された、試料Sを透過する光の吸光度をあらわす複数の観測吸光スペクトルSoを、迷光の影響を除去するための予め取得された複数の補正手段である迷光補正行列M -1 (j) により補正した複数の補正吸光スペクトルSc (j) に基づいて、適切な迷光補正行列M -1 (j) を選択する制御を行う制御部6を設ける。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2018508015A
公开(公告)日：2018-03-22
申请号：JP2017539348
申请日：2016-01-22
Applicant: リガク ラマン テクノロジーズ インコーポレイテッド
Inventor： ロイ、 エリック , ブース、 ジェーソン , ロボサム、 クロード , イツィア、 フェデリコ
CPC classification number: G01J3/0297 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J3/44 , G01J3/4406 , G01J3/443
Abstract: この発明は、非ランダムまたは固定パターン雑音によって制限される光学分光計の信号対雑音比(SNR)を改善するためのシステムおよび方法に関する。サンプルからの信号は短い試験露光を用いて収集され、SNRを最大にするための全観測時間が計算され、全観察時間は複数の露光を平均することによって達成され、その時間は検出器の時間依存雑音構造に基づいて選択される。また、分光計の時間依存雑音構造の事前知識によって、この方法は容易に自動化可能であり、ユーザ入力なしで未知の化合物のスペクトルについてSNRを最大にすることができる。
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公开(公告)号：JP2018503079A
公开(公告)日：2018-02-01
申请号：JP2017531890
申请日：2015-11-20
Applicant: メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング , Merck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung
Inventor： ギュンネヴィク、 ベルンハルト
IPC: G01J1/44
CPC classification number: G01J1/4204 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01J3/42
Abstract: 本発明は、光源(101)と、前記光源によって放射され、試料(102)を通過し又は反射した光を測定するための光センサ(103、303)と、を備え、前記光センサ(103、303)の出力にオフセット値を加えるためのアナログ式のオフセット発生器(207、3073−3075)を備えていることを特徴とする分光光度計(200、300)に関する。本発明は、さらに、関連する分光光度測定を行う方法に関する。【選択図】図3
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公开(公告)号：JP6265916B2
公开(公告)日：2018-01-24
申请号：JP2014558821
申请日：2013-02-21
Applicant: マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー
Inventor： ジエ バオ , モウンギ ジー. バウエンディ
IPC: G01J3/36
CPC classification number: G01J3/28 , B82Y15/00 , B82Y20/00 , G01J1/429 , G01J3/0213 , G01J3/2803 , G01J3/513 , G01J2003/1217 , G01N21/253 , G02B1/02 , G02B2207/101 , Y10T29/41 , Y10T29/49
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