半導體裝置
    3.
    发明专利
    半導體裝置 审中-公开
    半导体设备

    公开(公告)号:TW201828434A

    公开(公告)日:2018-08-01

    申请号:TW107110831

    申请日:2010-06-18

    IPC分类号: H01L23/49 H01L23/29

    摘要: 本發明之半導體裝置包括:半導體晶片;電極焊墊,其包括含鋁之金屬材料且形成於上述半導體晶片之表面;電極引線,其配置於上述半導體晶片之周圍;接線,其包括呈線狀延伸之本體部、以及形成於上述本體部之兩端且分別與上述電極焊墊及上述電極引線接合之焊墊接合部及引線接合部;以及樹脂封裝體,其密封上述半導體晶片、上述電極引線及上述接線;且上述接線包含銅;整個上述電極焊墊及整個上述焊墊接合部均由不透水膜一體地被覆。

    简体摘要: 本发明之半导体设备包括:半导体芯片;电极焊垫,其包括含铝之金属材料且形成于上述半导体芯片之表面;电极引线,其配置于上述半导体芯片之周围;接线,其包括呈线状延伸之本体部、以及形成于上述本体部之两端且分别与上述电极焊垫及上述电极引线接合之焊垫接合部及引线接合部;以及树脂封装体,其密封上述半导体芯片、上述电极引线及上述接线;且上述接线包含铜;整个上述电极焊垫及整个上述焊垫接合部均由不透水膜一体地被覆。