公开(公告)号：US20110188303A1

公开(公告)日：2011-08-04

申请号：US13064672

申请日：2011-04-07

申请人： Beak-Hyung Cho ,  Woo-Yeong Cho ,  Mu-Hui Park

发明人： Beak-Hyung Cho ,  Woo-Yeong Cho ,  Mu-Hui Park

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C13/0069 ,  G11C13/0004 ,  G11C2013/0078 ,  G11C2013/0092 ,  G11C2213/72

摘要： A phase change memory device may include a memory cell array, a write driver, and/or a control unit. The memory cell array may include a plurality of memory cells. The write driver may be configured to provide a program current to the memory cell array for setting a state of a phase change material to program a selected memory cell. The write driver may be configured to provide the program current such that the program current has a plurality of steps. The control unit may be configured to receive step information for adjusting a magnitude and a width of each step of the program current during a test operation and provide the step information to the write driver during a normal operation.

摘要翻译： 相变存储器件可以包括存储单元阵列，写入驱动器和/或控制单元。 存储单元阵列可以包括多个存储单元。 写入驱动器可以被配置为向存储器单元阵列提供程序电流，用于设置相变材料的状态以对选定的存储单元进行编程。 写驱动器可以被配置为提供程序电流，使得程序电流具有多个步骤。 控制单元可以被配置为在测试操作期间接收用于调整程序电流的每个步骤的幅度和宽度的步骤信息，并且在正常操作期间将该步骤信息提供给写入驱动器。

公开(公告)号：US07961508B2

公开(公告)日：2011-06-14

申请号：US12771028

申请日：2010-04-30

申请人： Byung-Gil Choi ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho ,  Hye-Jin Kim

发明人： Byung-Gil Choi ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho ,  Hye-Jin Kim

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C29/808 ,  G11C29/02 ,  G11C29/027 ,  G11C29/787 ,  G11C29/804 ,  G11C29/846

摘要： A phase-change random access memory includes a memory block including a plurality of memory columns corresponding to the same column address and using different input/output paths; a redundancy memory block including a plurality of redundancy memory columns using different input/output paths; and an input/output controller repairing at least one of the plurality of memory columns using at least one of the plurality of redundancy memory columns, and controlling the number of memory columns simultaneously repaired using redundancy memory columns in response to an input/output repair mode control signal.

摘要翻译： 相变随机存取存储器包括存储块，该存储块包括对应于同一列地址的多个存储器列并使用不同的输入/输出路径; 冗余存储器块，其包括使用不同的输入/输出路径的多个冗余存储器列; 以及输入/输出控制器，其使用所述多个冗余存储器列中的至少一个来修复所述多个存储器列中的至少一个，并且响应于输入/输出修复模式来控制使用冗余存储器列同时修复的存储器列的数量 控制信号。

公开(公告)号：US07936612B2

公开(公告)日：2011-05-03

申请号：US12654338

申请日：2009-12-17

申请人： Beak-Hyung Cho ,  Woo-Yeong Cho ,  Mu-Hui Park

发明人： Beak-Hyung Cho ,  Woo-Yeong Cho ,  Mu-Hui Park

IPC分类号： G11C7/10

CPC分类号： G11C13/0069 ,  G11C13/0004 ,  G11C2013/0078 ,  G11C2013/0092 ,  G11C2213/72

摘要： A phase change memory device may include a memory cell array, a write driver, and/or a control unit. The memory cell array may include a plurality of memory cells. The write driver may be configured to provide a program current to the memory cell array for setting a state of a phase change material to program a selected memory cell. The write driver may be configured to provide the program current such that the program current has a plurality of steps. The control unit may be configured to receive step information for adjusting a magnitude and a width of each step of the program current during a test operation and provide the step information to the write driver during a normal operation.

摘要翻译： 相变存储器件可以包括存储单元阵列，写入驱动器和/或控制单元。 存储单元阵列可以包括多个存储单元。 写入驱动器可以被配置为向存储器单元阵列提供程序电流，用于设置相变材料的状态以对选定的存储单元进行编程。 写驱动器可以被配置为提供程序电流，使得程序电流具有多个步骤。 控制单元可以被配置为在测试操作期间接收用于调整程序电流的每个步骤的幅度和宽度的步骤信息，并且在正常操作期间将该步骤信息提供给写入驱动器。

公开(公告)号：US20100097850A1

公开(公告)日：2010-04-22

申请号：US12611606

申请日：2009-11-03

申请人： Beak-Hyung Cho ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho

发明人： Beak-Hyung Cho ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho

IPC分类号： G11C11/00 ,  G11C7/00

CPC分类号： G11C13/0069 ,  G11C13/0004 ,  G11C2013/0078 ,  G11C2013/0092

摘要： Apparatus and systems that use phase-change memory devices are provided. The phase-change memory devices may include multiple phase-change memory cells and a reset pulse generation circuit configured to output multiple sequential reset pulses. Each sequential reset pulse is output to a corresponding one of multiple reset lines. Multiple write driver circuits are coupled to corresponding phase change memory cells and to a corresponding one of the reset lines of the reset pulse generation circuit.

摘要翻译： 提供了使用相变存储器件的装置和系统。 相变存储器件可以包括多个相变存储器单元和被配置为输出多个顺序复位脉冲的复位脉冲发生电路。 每个顺序复位脉冲被输出到多个复位线中相应的一个。 多个写入驱动器电路耦合到相应的相变存储器单元和复位脉冲发生电路的相应的一个复位线。

公开(公告)号：US20090161419A1

公开(公告)日：2009-06-25

申请号：US12339204

申请日：2008-12-19

申请人： Joon-Min PARK ,  Kwang-Jin Lee ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho ,  Hui-Kwon Seo

发明人： Joon-Min PARK ,  Kwang-Jin Lee ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho ,  Hui-Kwon Seo

IPC分类号： G11C11/00 ,  G11C11/416

CPC分类号： G11C13/0069 ,  G11C13/0004 ,  G11C2213/72

摘要： Provided are a nonvolatile memory and related method of programming same. The nonvolatile memory includes a memory cell array with a plurality of nonvolatile memory cells and a write circuit. The write circuit is configured to write first logic state data to a first group of memory cells during a first program operation using a first internally generated step-up voltage, and second logic state data to a second group of memory cells during a second program operation using an externally supplied step-up voltage.

摘要翻译： 提供了一种非易失性存储器及其相关编程方法。 非易失性存储器包括具有多个非易失性存储单元和写入电路的存储单元阵列。 写入电路被配置为在第一编程操作期间使用第一内部产生的升压电压将第一逻辑状态数据写入第一组存储器单元，并且在第二编程操作期间将第二逻辑状态数据写入第二组存储器单元 使用外部提供的升压电压。

公开(公告)号：US07471553B2

公开(公告)日：2008-12-30

申请号：US11319373

申请日：2005-12-29

申请人： Kwang-Jin Lee ,  Du-Eung Kim ,  Sang-Beom Kang ,  Woo-Yeong Cho

发明人： Kwang-Jin Lee ,  Du-Eung Kim ,  Sang-Beom Kang ,  Woo-Yeong Cho

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C5/145 ,  G11C7/1078 ,  G11C7/1096 ,  G11C11/5678 ,  G11C13/0004 ,  G11C13/0038 ,  G11C13/0069 ,  G11C2013/0078 ,  G11C2213/79

摘要： A phase change memory device includes a memory cell having a phase change material, a write driver adapted to supply a program current to the memory cell during a programming interval, and a pump circuit adapted to enhance a current supply capacity of the write driver during the programming interval. The pump circuit is activated prior to the programming interval in response to an external control signal.

摘要翻译： 相变存储器件包括具有相变材料的存储单元，适于在编程间隔期间向存储单元提供编程电流的写入驱动器，以及用于在写入驱动器期间增强写入驱动器的电流供应容量的泵电路 编程间隔。 泵电路响应于外部控制信号在编程间隔之前被激活。

公开(公告)号：US07304885B2

公开(公告)日：2007-12-04

申请号：US11074557

申请日：2005-03-08

申请人： Beak-Hyung Cho ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho

发明人： Beak-Hyung Cho ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C13/0069 ,  G11C13/0004 ,  G11C2013/0078 ,  G11C2013/0092

摘要： Phase-change memory devices are provided that include a plurality of phase-change memory cells and a reset pulse generation circuit configured to output a plurality of sequential reset pulses. Each sequential reset pulse is output to a corresponding one of a plurality of reset lines. A plurality of write driver circuits are coupled to corresponding phase change memory cells and to a corresponding one of the reset lines of the reset pulse generation circuit. Methods of programming phase-change memory devices using sequential reset control signals are also provided.

摘要翻译： 提供了包括多个相变存储器单元的相变存储器件和被配置为输出多个顺序复位脉冲的复位脉冲发生电路。 每个顺序复位脉冲被输出到多条复位线中相应的一条。 多个写入驱动器电路耦合到相应的相变存储器单元和复位脉冲发生电路的相应的一个复位线。 还提供了使用顺序复位控制信号编程相变存储器件的方法。

公开(公告)号：US20060186483A1

公开(公告)日：2006-08-24

申请号：US11324112

申请日：2005-12-30

申请人： Woo-Yeong Cho ,  Du-Eung Kim ,  Yun-Seung Shin ,  Hyun-Geun Byun ,  Sang-Beom Kang ,  Beak-Hyung Cho ,  Choong-Keun Kwak

发明人： Woo-Yeong Cho ,  Du-Eung Kim ,  Yun-Seung Shin ,  Hyun-Geun Byun ,  Sang-Beom Kang ,  Beak-Hyung Cho ,  Choong-Keun Kwak

IPC分类号： H01L29/76

CPC分类号： G11C13/0004 ,  G11C2213/72 ,  H01L27/2409 ,  H01L27/2463 ,  H01L45/06 ,  H01L45/1233 ,  H01L45/1675

摘要： Phase change memory devices having cell diodes and related methods are provided, where the phase change memory devices include a semiconductor substrate of a first conductivity type and a plurality of parallel word lines disposed on the semiconductor substrate, the word lines have a second conductivity type different from the first conductivity type and have substantially flat top surfaces, a plurality of first semiconductor patterns are one-dimensionally arrayed on each word line along a length direction of the word line, the first semiconductor patterns have the first conductivity type or the second conductivity type, second semiconductor patterns having the first conductivity type are stacked on the first semiconductor patterns, an insulating layer is provided on the substrate having the second semiconductor patterns, the insulating layer fills gap regions between the word lines, gap regions between the first semiconductor patterns and gap regions between the second semiconductor patterns, a plurality of phase change material patterns are two-dimensionally arrayed on the insulating layer, and the phase change material patterns are electrically connected to the second semiconductor patterns, respectively.

摘要翻译： 提供具有单元二极管和相关方法的相变存储器件，其中相变存储器件包括第一导电类型的半导体衬底和设置在半导体衬底上的多个平行字线，字线具有不同的第二导电类型 从第一导电类型并且具有基本上平坦的顶表面，沿着字线的长度方向在每个字线上一维地排列多个第一半导体图案，第一半导体图案具有第一导电类型或第二导电类型 具有第一导电类型的第二半导体图案堆叠在第一半导体图案上，在具有第二半导体图案的基板上设置绝缘层，绝缘层填充字线之间的间隙区域，第一半导体图案之间的间隙区域和 第二半导体之间的间隙区域 多个相变材料图案被二维排列在绝缘层上，并且相变材料图案分别电连接到第二半导体图案。

公开(公告)号：US08174878B2

公开(公告)日：2012-05-08

申请号：US13053471

申请日：2011-03-22

申请人： Joon-Min Park ,  Kwang-Jin Lee ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho ,  Hui-Kwon Seo

发明人： Joon-Min Park ,  Kwang-Jin Lee ,  Du-Eung Kim ,  Woo-Yeong Cho ,  Hui-Kwon Seo

IPC分类号： G11C11/00

CPC分类号： G11C13/0069 ,  G11C13/0004 ,  G11C2213/72

摘要： Provided are a nonvolatile memory and related method of programming same. The nonvolatile memory includes a memory cell array with a plurality of nonvolatile memory cells and a write circuit. The write circuit is configured to write first logic state data to a first group of memory cells during a first program operation using an internally generated step-up voltage, and second logic state data to a second group of memory cells during a second program operation using an externally supplied step-up voltage.

摘要翻译： 提供了一种非易失性存储器及其相关编程方法。 非易失性存储器包括具有多个非易失性存储单元和写入电路的存储单元阵列。 写电路被配置为在第一程序操作期间使用内部产生的升压电压将第一逻辑状态数据写入第一组存储器单元，并且在第二程序操作期间将第二逻辑状态数据写入第二组存储器单元 外部提供的升压电压。

公开(公告)号：US08143653B2

公开(公告)日：2012-03-27

申请号：US12619016

申请日：2009-11-16

申请人： Woo-Yeong Cho ,  Jong-Soo Seo ,  Young-Kug Moon ,  Jun-Soo Bae ,  Kwang-Jin Lee

发明人： Woo-Yeong Cho ,  Jong-Soo Seo ,  Young-Kug Moon ,  Jun-Soo Bae ,  Kwang-Jin Lee

IPC分类号： H01L29/66

CPC分类号： G11C13/0064 ,  G11C7/04 ,  G11C11/56 ,  G11C11/5678 ,  G11C13/0004 ,  G11C13/0023 ,  G11C13/0026 ,  G11C13/004 ,  G11C13/0069 ,  G11C2013/0054 ,  G11C2013/0076 ,  G11C2013/0078 ,  G11C2213/72 ,  H01L27/2409 ,  H01L29/868 ,  H01L45/06 ,  H01L45/1233 ,  H01L45/141 ,  H01L45/143 ,  H01L45/144 ,  H01L45/148

摘要： A phase-change random access memory device is provided. The phase-change random access memory device includes a global bit line connected to a write circuit and a read circuit, multiple local bit lines, each being connected to multiple phase-change memory cells, and multiple column select transistors selectively connecting the global bit line with each of the multiple local bit lines, each column select transistor having a resistance that varies depending on its distance from the write circuit and the read circuit.

摘要翻译： 提供了相变随机存取存储器件。 相变随机存取存储器件包括连接到写入电路和读取电路的全局位线，每个连接到多个相变存储器单元的多个局部位线，以及选择性地连接全局位线的多个列选择晶体管 对于多个局部位线中的每一个，每个列选择晶体管具有根据其与写入电路和读取电路的距离而变化的电阻。