利索-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

12 条记录 (耗时 0.031 秒)

    Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same
    1.
    发明申请
    Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same 有权
    具有处理器遥控器的半导体器件的测试系统及其操作方法

    公开(公告)号：US20060158211A1

    公开(公告)日：2006-07-20

    申请号：US11252448

    申请日：2005-10-17

    申请人： Ae-Yong Chung ,  Eun-Seok Lee ,  Jeong-Ho Bang ,  Kyeong-Seon Shin ,  Dae-Gab Chi ,  Sung-Ok Kim

    发明人： Ae-Yong Chung ,  Eun-Seok Lee ,  Jeong-Ho Bang ,  Kyeong-Seon Shin ,  Dae-Gab Chi ,  Sung-Ok Kim

    IPC分类号： G01R31/26

    CPC分类号： G01R31/31926 ,  G01R31/31907

    摘要： A test system of a semiconductor device for a handler remote control is provided. The system includes: a tester for testing the semiconductor device; a handler connected to the tester through a GPIB (General Purpose Instruction Bus) communication cable; a tester server connected to the tester to download a test program, handler remote control program and a handler state check program to the tester; and communication data transmitted and received through the GPIB communication cable between the tester and the handler, wherein the communication data has basic communication data for an electrical test of the semiconductor device, communication data for the handler remote control, and communication data for a handler state check.

    摘要翻译： 提供了一种用于处理器遥控器的半导体器件的测试系统。 该系统包括：用于测试半导体器件的测试仪; 通过GPIB（通用指令总线）通信电缆连接到测试仪的处理器; 连接到测试器的测试仪服务器向测试者下载测试程序，处理程序遥控程序和处理程序状态检查程序; 以及通过GPIB通信电缆在测试者和处理者之间发送和接收的通信数据，其中通信数据具有用于半导体器件的电气测试的基本通信数据，用于处理器远程控制的通信数据和用于处理器状态的通信数据 检查。

    Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same
    2.
    发明授权
    Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same 有权
    具有处理器遥控器的半导体器件的测试系统及其操作方法

    公开(公告)号：US07408339B2

    公开(公告)日：2008-08-05

    申请号：US11749053

    申请日：2007-05-15

    申请人： Ae-Yong Chung ,  Eun-Seok Lee ,  Jeong-Ho Bang ,  Kyeong-Seon Shin ,  Dae-Gab Chi ,  Sung-Ok Kim

    发明人： Ae-Yong Chung ,  Eun-Seok Lee ,  Jeong-Ho Bang ,  Kyeong-Seon Shin ,  Dae-Gab Chi ,  Sung-Ok Kim

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2893 ,  G01R31/2894 ,  G01R31/31718 ,  G01R31/31919

    摘要： A test system of a semiconductor device for a handler remote control is provided. The system includes: a tester for testing the semiconductor device; a handler connected to the tester through a GPIB (General Purpose Instruction Bus) communication cable; a tester server connected to the tester to download a test program, handler remote control program and a handler state check program to the tester; and communication data transmitted and received through the GPIB communication cable between the tester and the handler, wherein the communication data has basic communication data for an electrical test of the semiconductor device, communication data for the handler remote control, and communication data for a handler state check.

    摘要翻译： 提供了一种用于处理器遥控器的半导体器件的测试系统。 该系统包括：用于测试半导体器件的测试仪; 通过GPIB（通用指令总线）通信电缆连接到测试仪的处理器; 连接到测试器的测试仪服务器向测试者下载测试程序，处理程序遥控程序和处理程序状态检查程序; 以及通过测试者和处理者之间的GPIB通信电缆发送和接收的通信数据，其中通信数据具有用于半导体器件的电气测试的基本通信数据，用于处理器远程控制的通信数据和用于处理器状态的通信数据 检查。

    Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same
    3.
    发明授权
    Test system of semiconductor device having a handler remote control and method of operating the same 有权
    具有处理器遥控器的半导体器件的测试系统及其操作方法

    公开(公告)号：US07230417B2

    公开(公告)日：2007-06-12

    申请号：US11252448

    申请日：2005-10-17

    申请人： Ae-Yong Chung ,  Eun-Seok Lee ,  Jeong-Ho Bang ,  Kyeong-Seon Shin ,  Dae-Gab Chi ,  Sung-Ok Kim

    发明人： Ae-Yong Chung ,  Eun-Seok Lee ,  Jeong-Ho Bang ,  Kyeong-Seon Shin ,  Dae-Gab Chi ,  Sung-Ok Kim

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/31926 ,  G01R31/31907

    摘要： A test system of a semiconductor device for a handler remote control is provided. The system includes: a tester for testing the semiconductor device; a handler connected to the tester through a GPIB (General Purpose Instruction Bus) communication cable; a tester server connected to the tester to download a test program, handler remote control program and a handler state check program to the tester; and communication data transmitted and received through the GPIB communication cable between the tester and the handler, wherein the communication data has basic communication data for an electrical test of the semiconductor device, communication data for the handler remote control, and communication data for a handler state check.

    摘要翻译： 提供了一种用于处理器遥控器的半导体器件的测试系统。 该系统包括：用于测试半导体器件的测试仪; 通过GPIB（通用指令总线）通信电缆连接到测试仪的处理器; 连接到测试器的测试仪服务器向测试者下载测试程序，处理程序遥控程序和处理程序状态检查程序; 以及通过GPIB通信电缆在测试者和处理者之间发送和接收的通信数据，其中通信数据具有用于半导体器件的电气测试的基本通信数据，用于处理器远程控制的通信数据和用于处理器状态的通信数据 检查。

    Test apparatus having multiple head boards at one handler and its test method
    5.
    发明授权
    Test apparatus having multiple head boards at one handler and its test method 有权
    在一个处理机上具有多个头板的测试装置及其测试方法

    公开(公告)号：US07602172B2

    公开(公告)日：2009-10-13

    申请号：US12109299

    申请日：2008-04-24

    申请人： Ae-Yong Chung ,  Sung-Ok Kim ,  Kyeong-Seon Shin ,  Jeong-Ho Bang

    发明人： Ae-Yong Chung ,  Sung-Ok Kim ,  Kyeong-Seon Shin ,  Jeong-Ho Bang

    IPC分类号： G01R31/26

    CPC分类号： G01R31/2893 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2851

    摘要： A test apparatus includes one handler connected to a tester and one test board divided into two or more sites or two or more test boards. Since only the sites on the test board (or test boards) need be duplicated, rather than the loading lanes or sorters of the handler, the test apparatus can be conveniently compact. Further, while testing semiconductor devices on one site or one test board, semiconductor devices in another site or on another test board can be sorted according to the test result. This enables the reduction or elimination of tester idle time to optimize the efficiency of the test apparatus.

    摘要翻译： 测试装置包括连接到测试器的一个处理器和分成两个或更多个站点或两个或更多个测试板的一个测试板。 由于只有测试板（或测试板）上的站点需要复制，而不是处理器的加载通道或分拣机，所以测试设备可以方便地紧凑。 此外，在一个站点或一个测试板上测试半导体器件时，可以根据测试结果对另一个站点中的另一个站点或另一个测试板上的半导体器件进行分类。 这使得能够减少或消除测试器空闲时间以优化测试设备的效率。

    Test apparatus having multiple test sites at one handler and its test method
    6.
    发明授权
    Test apparatus having multiple test sites at one handler and its test method 有权
    在一个处理机上具有多个测试点的测试设备及其测试方法

    公开(公告)号：US07378864B2

    公开(公告)日：2008-05-27

    申请号：US11092067

    申请日：2005-03-28

    申请人： Ae-Yong Chung ,  Sung-Ok Kim ,  Kyeong-Seon Shin ,  Jeong-Ho Bang

    发明人： Ae-Yong Chung ,  Sung-Ok Kim ,  Kyeong-Seon Shin ,  Jeong-Ho Bang

    IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2893 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2851

    摘要： A test apparatus includes one handler connected to a tester and one test board divided into two or more sites or two or more test boards. Since only the sites on the test board (or test boards) need be duplicated, rather than the loading lanes or sorters of the handler, the test apparatus can be conveniently compact. Further, while testing semiconductor devices on one site or one test board, semiconductor devices in another site or on another test board can be sorted according to the test result. This enables the reduction or elimination of tester idle time to optimize the efficiency of the test apparatus.

    摘要翻译： 测试装置包括连接到测试器的一个处理器和分成两个或更多个站点或两个或更多个测试板的一个测试板。 由于只有测试板（或测试板）上的站点需要复制，而不是处理器的加载通道或分拣机，所以测试设备可以方便地紧凑。 此外，在一个站点或一个测试板上测试半导体器件时，可以根据测试结果对另一个站点中的另一个站点或另一个测试板上的半导体器件进行分类。 这使得能够减少或消除测试器空闲时间以优化测试设备的效率。

    Test apparatus having multiple test sites at one handler and its test method
    7.
    发明申请
    Test apparatus having multiple test sites at one handler and its test method 有权
    在一个处理机上具有多个测试点的测试装置及其测试方法

    公开(公告)号：US20050168236A1

    公开(公告)日：2005-08-04

    申请号：US11092067

    申请日：2005-03-28

    申请人： Ae-Yong Chung ,  Sung-Ok Kim ,  Kyeong-Seon Shin ,  Jeong-Ho Bang

    发明人： Ae-Yong Chung ,  Sung-Ok Kim ,  Kyeong-Seon Shin ,  Jeong-Ho Bang

    IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/01 ,  G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/2893 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2851

    摘要： A test apparatus includes one handler connected to a tester and one test board divided into two or more sites or two or more test boards. Since only the sites on the test board (or test boards) need be duplicated, rather than the loading lanes or sorters of the handler, the test apparatus can be conveniently compact. Further, while testing semiconductor devices on one site or one test board, semiconductor devices in another site or on another test board can be sorted according to the test result. This enables the reduction or elimination of tester idle time to optimize the efficiency of the test apparatus.

    摘要翻译： 测试装置包括连接到测试器的一个处理器和分成两个或更多个站点或两个或更多个测试板的一个测试板。 由于只有测试板（或测试板）上的站点需要复制，而不是处理器的加载通道或分拣机，所以测试设备可以方便地紧凑。 此外，在一个站点或一个测试板上测试半导体器件时，可以根据测试结果对另一个站点中的另一个站点或另一个测试板上的半导体器件进行分类。 这使得能够减少或消除测试器空闲时间以优化测试设备的效率。