公开(公告)号：US08735268B2

公开(公告)日：2014-05-27

申请号：US13165854

申请日：2011-06-22

申请人： Ching-Sen Lu ,  Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Ching-Sen Lu ,  Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L21/28 ,  H01L29/66 ,  H01L29/78

CPC分类号： H01L29/66545 ,  H01L29/6653 ,  H01L29/6656 ,  H01L29/7833 ,  H01L29/7847

摘要： A method for fabricating a metal-oxide-semiconductor field-effect transistor includes the following steps. Firstly, a substrate is provided. A gate structure, a first spacer, a second spacer and a source/drain structure are formed over the substrate. The second spacer includes an inner layer and an outer layer. Then, a thinning process is performed to reduce the thickness of the second spacer, thereby retaining the inner layer of the second spacer. After a stress film is formed on the inner layer of the second spacer and the source/drain structure, an annealing process is performed. Afterwards, the stress film is removed.

摘要翻译： 一种制造金属氧化物半导体场效应晶体管的方法包括以下步骤。 首先，提供基板。 在衬底上形成栅极结构，第一间隔物，第二间隔物和源极/漏极结构。 第二间隔件包括内层和外层。 然后，进行减薄处理以减小第二间隔物的厚度，从而保持第二间隔物的内层。 在第二间隔物的内层和源极/漏极结构上形成应力膜之后，进行退火处理。 之后，去除应力膜。

公开(公告)号：US20120289015A1

公开(公告)日：2012-11-15

申请号：US13106970

申请日：2011-05-13

申请人： Ching-Sen Lu ,  Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Ching-Sen Lu ,  Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L21/336

CPC分类号： H01L29/66545 ,  H01L21/823807 ,  H01L21/823814 ,  H01L29/6656 ,  H01L29/7833 ,  H01L29/7843

摘要： A method for fabricating a semiconductor device with enhanced channel stress is provided. The method includes the following steps. Firstly, a substrate is provided. Then, at least one source/drain region and a channel are formed in the substrate. A dummy gate is formed over the channel. A contact structure is formed over the source/drain region. After the contact structure is formed, the dummy gate is removed to form a trench.

摘要翻译： 提供了一种制造具有增强的沟道应力的半导体器件的方法。 该方法包括以下步骤。 首先，提供基板。 然后，在衬底中形成至少一个源极/漏极区域和沟道。 在通道上形成一个虚拟门。 在源极/漏极区域上形成接触结构。 在形成接触结构之后，去除伪栅极以形成沟槽。

公开(公告)号：US20120070948A1

公开(公告)日：2012-03-22

申请号：US12883266

申请日：2010-09-16

申请人： Tzyy-Ming CHENG ,  Ching-Sen Lu ,  Tsai-Fu Chen ,  Wen-Han Hung ,  Ta-Kang Lo ,  Chun-Yuan Wu ,  Shih-Fang Tzou

发明人： Tzyy-Ming CHENG ,  Ching-Sen Lu ,  Tsai-Fu Chen ,  Wen-Han Hung ,  Ta-Kang Lo ,  Chun-Yuan Wu ,  Shih-Fang Tzou

IPC分类号： H01L21/8238

CPC分类号： H01L21/823425 ,  H01L21/823412

摘要： An adjusting method of channel stress includes the following steps. A substrate is provided. A metal-oxide-semiconductor field-effect transistor is formed on the substrate. The MOSFET includes a source/drain region, a channel, a gate, a gate dielectric layer and a spacer. A dielectric layer is formed on the substrate and covers the metal-oxide-semiconductor field-effect transistor. A flattening process is applied onto the dielectric layer. The remaining dielectric layer is removed to expose the source/drain region. A non-conformal high stress dielectric layer is formed on the substrate having the exposed source/drain region.

摘要翻译： 通道应力调整方法包括以下步骤。 提供基板。 在基板上形成金属氧化物半导体场效应晶体管。 MOSFET包括源极/漏极区域，沟道，栅极，栅极介电层和间隔物。 在基板上形成电介质层并覆盖金属氧化物半导体场效应晶体管。 将平坦化工艺施加到电介质层上。 去除剩余的介电层以暴露源/漏区。 在具有暴露的源极/漏极区域的衬底上形成非共形高应力介电层。

公开(公告)号：US08390073B2

公开(公告)日：2013-03-05

申请号：US13450444

申请日：2012-04-18

申请人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L29/76 ,  H01L29/94

CPC分类号： H01L27/092 ,  H01L21/823807 ,  H01L21/823814 ,  H01L29/665 ,  H01L29/6656 ,  H01L29/66628 ,  H01L29/7848

摘要： A transistor structure is provided in the present invention. The transistor structure includes: a substrate comprising a P-type well, a gate disposed on the P-type well, a first spacer disposed on the gate, an N-type source/drain region disposed in the substrate at two sides of the gate, a silicon cap layer covering the N-type source/drain region, a second spacer around the first spacer and the second spacer directly on and covering a portion of the silicon cap layer and a silicide layer disposed on the silicon cap layer.

摘要翻译： 在本发明中提供一种晶体管结构。 晶体管结构包括：包括P型阱的衬底，设置在P型阱上的栅极，设置在栅极上的第一间隔物，设置在栅极两侧的衬底中的N型源极/漏极区域 覆盖N型源极/漏极区域的硅覆盖层，围绕第一间隔物的第二间隔物和第二间隔物，直接覆盖硅覆盖层的一部分并且覆盖硅覆盖层上的硅化物层。

公开(公告)号：US08183640B2

公开(公告)日：2012-05-22

申请号：US12502239

申请日：2009-07-14

申请人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L29/76 ,  H01L29/94

CPC分类号： H01L27/092 ,  H01L21/823807 ,  H01L21/823814 ,  H01L29/665 ,  H01L29/6656 ,  H01L29/66628 ,  H01L29/7848

摘要： A method of fabricating transistors includes: providing a substrate including an N-type well and P-type well; forming a first gate on the N-type well and a second gate on the P-type well, respectively; forming a third spacer on the first gate; forming an epitaxial layer in the substrate at two sides of the first gate; forming a fourth spacer on the second gate; forming a silicon cap layer covering the surface of the epitaxial layer and the surface of the substrate at two sides of the fourth spacer; and forming a first source/drain doping region and a second source/drain doping region at two sides of the first gate and the second gate respectively.

摘要翻译： 制造晶体管的方法包括：提供包括N型阱和P型阱的衬底; 在N型阱上分别形成第一栅极和P型阱上的第二栅极; 在所述第一门上形成第三间隔物; 在第一栅极的两侧在衬底中形成外延层; 在所述第二闸门上形成第四间隔物; 在所述第四间隔物的两侧形成覆盖所述外延层的表面和所述基板的表面的硅覆盖层; 以及分别在所述第一栅极和所述第二栅极的两侧形成第一源极/漏极掺杂区域和第二源极/漏极掺杂区域。

公开(公告)号：US20110012197A1

公开(公告)日：2011-01-20

申请号：US12502239

申请日：2009-07-14

申请人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L29/78 ,  H01L21/8234

CPC分类号： H01L27/092 ,  H01L21/823807 ,  H01L21/823814 ,  H01L29/665 ,  H01L29/6656 ,  H01L29/66628 ,  H01L29/7848

摘要： A method of fabricating transistors includes: providing a substrate including an N-type well and P-type well; forming a first gate on the N-type well and a second gate on the P-type well, respectively; forming a third spacer on the first gate; forming an epitaxial layer in the substrate at two sides of the first gate; forming a fourth spacer on the second gate; forming a silicon cap layer covering the surface of the epitaxial layer and the surface of the substrate at two sides of the fourth spacer; and forming a first source/drain doping region and a second source/drain doping region at two sides of the first gate and the second gate respectively.

摘要翻译： 制造晶体管的方法包括：提供包括N型阱和P型阱的衬底; 在N型阱上分别形成第一栅极和P型阱上的第二栅极; 在所述第一门上形成第三间隔物; 在第一栅极的两侧在衬底中形成外延层; 在所述第二闸门上形成第四间隔物; 在所述第四间隔物的两侧形成覆盖所述外延层的表面和所述基板的表面的硅覆盖层; 以及分别在第一栅极和第二栅极的两侧形成第一源极/漏极掺杂区域和第二源极/漏极掺杂区域。

公开(公告)号：US08211775B1

公开(公告)日：2012-07-03

申请号：US13043479

申请日：2011-03-09

申请人： Cheng-Yu Ma ,  Wen-Han Hung ,  Ta-Kang Lo ,  Tsai-Fu Chen ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Cheng-Yu Ma ,  Wen-Han Hung ,  Ta-Kang Lo ,  Tsai-Fu Chen ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L21/336

CPC分类号： H01L29/66553 ,  H01L29/4983 ,  H01L29/513 ,  H01L29/6656

摘要： A method for forming a transistor having a metal gate is provided. A substrate is provided first. A transistor is formed on the substrate. The transistor includes a high-k gate dielectric layer, an oxygen containing dielectric layer disposed on the high-k gate dielectric layer, and a dummy gate disposed on the oxygen containing dielectric layer. Then, the dummy gate and the patterned gate dielectric layer are removed. Lastly, a metal gate is formed and the metal gate directly contacts the high-k gate oxide.

摘要翻译： 提供一种形成具有金属栅极的晶体管的方法。 首先提供基板。 在基板上形成晶体管。 晶体管包括高k栅极电介质层，设置在高k栅极电介质层上的含氧电介质层和设置在含氧电介质层上的伪栅极。 然后，去除伪栅极和图案化栅极电介质层。 最后，形成金属栅极，并且金属栅极直接接触高k栅极氧化物。

公开(公告)号：US08486795B2

公开(公告)日：2013-07-16

申请号：US13444855

申请日：2012-04-12

申请人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Shyh-Fann Ting ,  Cheng-Tung Huang ,  Kun-Hsien Lee ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L21/336

CPC分类号： H01L27/092 ,  H01L21/823807 ,  H01L21/823814 ,  H01L29/665 ,  H01L29/6656 ,  H01L29/66628 ,  H01L29/7848

摘要： A method of fabricating transistors includes: providing a substrate including an N-type well and P-type well; forming a first gate on the N-type well and a second gate on the P-type well, respectively; forming a third spacer on the first gate; forming an epitaxial layer in the substrate at two sides of the first gate; forming a fourth spacer on the second gate; forming a silicon cap layer covering the surface of the epitaxial layer and the surface of the substrate at two sides of the fourth spacer; and forming a first source/drain doping region and a second source/drain doping region at two sides of the first gate and the second gate respectively.

摘要翻译： 制造晶体管的方法包括：提供包括N型阱和P型阱的衬底; 在N型阱上分别形成第一栅极和P型阱上的第二栅极; 在所述第一门上形成第三间隔物; 在第一栅极的两侧在衬底中形成外延层; 在所述第二闸门上形成第四间隔物; 在所述第四间隔物的两侧形成覆盖所述外延层的表面和所述基板的表面的硅覆盖层; 以及分别在第一栅极和第二栅极的两侧形成第一源极/漏极掺杂区域和第二源极/漏极掺杂区域。

公开(公告)号：US20120309158A1

公开(公告)日：2012-12-06

申请号：US13154396

申请日：2011-06-06

申请人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

发明人： Wen-Han Hung ,  Tsai-Fu Chen ,  Ta-Kang Lo ,  Tzyy-Ming Cheng

IPC分类号： H01L21/336

CPC分类号： H01L29/66545 ,  H01L21/324 ,  H01L29/165 ,  H01L29/6656 ,  H01L29/7848

摘要： A method for fabricating semiconductor device is disclosed. The method includes the steps of: providing a substrate; forming a dummy gate on the substrate; forming a contact etch stop layer on the dummy gate and the substrate; performing a planarizing process to partially remove the contact etch stop layer; partially removing the dummy gate; and performing a thermal treatment on the contact etch stop layer.

摘要翻译： 公开了半导体器件的制造方法。 该方法包括以下步骤：提供衬底; 在基板上形成虚拟栅极; 在所述伪栅极和所述衬底上形成接触蚀刻停止层; 执行平面化处理以部分地去除接触蚀刻停止层; 部分去除虚拟门; 并对接触蚀刻停止层进行热处理。

公开(公告)号：US20120086054A1

公开(公告)日：2012-04-12

申请号：US12902159

申请日：2010-10-12

申请人： Tzyy-Ming Cheng ,  Meng-Chi Tsai ,  Tsai-Fu Chen ,  Ta-Kang Lo ,  Wen-Han Hung ,  Shih-Fang Tzou ,  Chun-Yuan Wu

发明人： Tzyy-Ming Cheng ,  Meng-Chi Tsai ,  Tsai-Fu Chen ,  Ta-Kang Lo ,  Wen-Han Hung ,  Shih-Fang Tzou ,  Chun-Yuan Wu

IPC分类号： H01L29/78 ,  H01L21/336

CPC分类号： H01L29/7833 ,  H01L23/485 ,  H01L29/7843 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： A semiconductor structure is disclosed. The semiconductor structure includes a gate structure disposed on a substrate, a source and a drain respectively disposed in the substrate at two sides of the gate structure, a source contact plug disposed above the source and electrically connected to the source and a drain contact plug disposed above the drain and electrically connected to the drain. The source contact plug and the drain contact plug have relatively asymmetric element properties.

摘要翻译： 公开了半导体结构。 半导体结构包括设置在基板上的栅极结构，在栅极结构的两侧分别设置在基板中的源极和漏极，设置在源极上并电连接到源极的源极接触插塞和设置在漏极接触插塞 在漏极上方并与漏极电连接。 源极接触插塞和漏极接触插塞具有相对不对称的元件特性。