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7 条记录 (耗时 0.022 秒)

    Error detecting circuit
    1.
    发明申请
    Error detecting circuit 失效
    错误检测电路

    公开(公告)号：US20060005091A1

    公开(公告)日：2006-01-05

    申请号：US10882523

    申请日：2004-06-30

    申请人： Subhasish Mitra ,  Kee Kim ,  Tak Mak ,  Prashant Goteti

    发明人： Subhasish Mitra ,  Kee Kim ,  Tak Mak ,  Prashant Goteti

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/318541 ,  G01R31/31816 ,  G01R31/318566 ,  G11C2029/3202

    摘要： In one embodiment, an apparatus includes a datapath circuit to generate a data output signal in response to a data input signal and at least a first data clock signal; a shadow circuit, coupled to the datapath circuit, to generate a shadow output signal in response the data input signal and at least a second data clock signal during a functional mode of operation and to generate a scan-out signal in response to a scan-in signal and at least a first test clock signal during a test mode of operation; and an error detect circuit, coupled to the datapath and the shadow circuits, to generate an error signal in response to a mismatch between the data output signal and the shadow output signal.

    摘要翻译： 在一个实施例中，一种装置包括数据路径电路，用于响应于数据输入信号和至少第一数据时钟信号而产生数据输出信号; 阴影电路，耦合到数据路径电路，以在功能操作模式期间响应于数据输入信号和至少第二数据时钟信号产生阴影输出信号，并且响应于扫描信号产生扫描输出信号， 在测试操作模式期间的信号和至少第一测试时钟信号; 以及耦合到数据路径和阴影电路的误差检测电路，以响应于数据输出信号和阴影输出信号之间的失配而产生误差信号。

    System and shadow circuits with output joining circuit
    2.
    发明申请
    System and shadow circuits with output joining circuit 有权
    具有输出接合电路的系统和阴影电路

    公开(公告)号：US20060168489A1

    公开(公告)日：2006-07-27

    申请号：US11044826

    申请日：2005-01-26

    申请人： Subhasish Mitra ,  Ming Zhang ,  Tak Mak ,  Quan Shi ,  Kee Kim

    发明人： Subhasish Mitra ,  Ming Zhang ,  Tak Mak ,  Quan Shi ,  Kee Kim

    IPC分类号： G01R31/28

    CPC分类号： G01R31/318541

    摘要： In one embodiment, an apparatus includes a system circuit adapted to generate at a first output terminal a first output signal in response to a data input signal and at least one system clock signal; a shadow circuit adapted to generate at a second output terminal a second output signal in response the data input signal and the at least one system clock signal; and an output joining circuit coupled to at least the first output terminal and the second output terminal.

    摘要翻译： 在一个实施例中，一种装置包括适于在第一输出端产生响应于数据输入信号和至少一个系统时钟信号的第一输出信号的系统电路; 阴影电路，其适于在第二输出端产生响应于所述数据输入信号和所述至少一个系统时钟信号的第二输出信号; 以及耦合到至少第一输出端子和第二输出端子的输出接合电路。

    System pulse latch and shadow pulse latch coupled to output joining circuit
    3.
    发明申请
    System pulse latch and shadow pulse latch coupled to output joining circuit 有权
    系统脉冲锁存和阴影脉冲锁存器耦合到输出接合电路

    公开(公告)号：US20060168487A1

    公开(公告)日：2006-07-27

    申请号：US11128692

    申请日：2005-05-12

    申请人： Tak Mak ,  Ming Zhang ,  Subhasish Mitra ,  Paul Shipley

    发明人： Tak Mak ,  Ming Zhang ,  Subhasish Mitra ,  Paul Shipley

    IPC分类号： G11B20/20 ,  G06K5/04 ,  G11B5/00

    CPC分类号： H03K3/356156 ,  G01R31/318583 ,  H03K3/0375

    摘要： In one embodiment, an apparatus includes a system pulse latch to generate at least one system latch signal in response to a data input signal and a pulsed system clock signal; a shadow pulse latch to generate at least one shadow latch signal in response to the data input signal and the pulsed system clock signal; and an output joining circuit, coupled to the system pulse latch and the shadow pulse latch, to provide a data output signal in response to the at least one system latch signal and the at least one shadow latch signal.

    摘要翻译： 在一个实施例中，一种装置包括系统脉冲锁存器，用于响应于数据输入信号和脉冲系统时钟信号而产生至少一个系统锁存信号; 阴影脉冲锁存器，用于响应于数据输入信号和脉冲系统时钟信号而产生至少一个阴影锁存信号; 以及耦合到系统脉冲锁存器和阴影脉冲锁存器的输出连接电路，以响应于至少一个系统锁存信号和至少一个阴影锁存信号来提供数据输出信号。

    System and scanout circuits with error resilience circuit
    4.
    发明申请
    System and scanout circuits with error resilience circuit 失效
    具有错误恢复电路的系统和扫描电路

    公开(公告)号：US20060005103A1

    公开(公告)日：2006-01-05

    申请号：US11050996

    申请日：2005-02-04

    申请人： Ming Zhang ,  Subhasish Mitra ,  Tak Mak ,  Victor Zia

    发明人： Ming Zhang ,  Subhasish Mitra ,  Tak Mak ,  Victor Zia

    IPC分类号： G01R31/28 ,  H03M13/00

    CPC分类号： G01R31/318566 ,  G01R31/31816 ,  G01R31/318541 ,  G01R31/318572 ,  G11C2029/3202

    摘要： In one embodiment, an apparatus is provided with a system circuit, a scanout circuit and an error detecting circuit. The system circuit is adapted to generate a first output signal in response to a data input signal and a system clock signal. The scanout circuit is adapted to generate a second output signal in response the data input signal and the system clock signal. The error detecting circuit, coupled to the system circuit and the scanout circuit, is adapted to generate an error signal in response to a relative condition between the first output signal and the second output signal.

    摘要翻译： 在一个实施例中，设备具有系统电路，扫描输出电路和错误检测电路。 系统电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号产生第一输出信号。 扫描输出电路适于响应于数据输入信号和系统时钟信号产生第二输出信号。 耦合到系统电路和扫描输出电路的误差检测电路适于响应于第一输出信号和第二输出信号之间的相对条件产生误差信号。

    Testing integrated circuits using high bandwidth wireless technology
    7.
    发明申请
    Testing integrated circuits using high bandwidth wireless technology 审中-公开
    使用高带宽无线技术测试集成电路

    公开(公告)号：US20060052075A1

    公开(公告)日：2006-03-09

    申请号：US10936090

    申请日：2004-09-07

    申请人： Rajeshwar Galivanche ,  Tak Mak ,  Sandip Kundu

    发明人： Rajeshwar Galivanche ,  Tak Mak ,  Sandip Kundu

    IPC分类号： H04B1/26

    CPC分类号： H01Q1/2283 ,  G01R31/3025 ,  H01L2224/16225 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/00012

    摘要： According to embodiments of the present invention, a UWB (ultra wideband) communication system is employed to wirelessly test and configure circuits on a die. Baseband signals may be utilized with resulting simplification in CMOS circuits, or orthogonal frequency division multiplexing may be employed to allow more than one communication channel. In one embodiment, the antenna for communicating with circuits on a die is placed between the package and the heat spreader, in electrical contact with a solder bump. In another embodiment, the antennas are placed onto wafer scribe lines, and are used to test chips before the wafer is sawed. Other embodiments are described and claimed.

    摘要翻译： 根据本发明的实施例，采用UWB（超宽带）通信系统对芯片上的电路进行无线测试和配置。 可以利用基带信号，从而在CMOS电路中得到简化，或者可以采用正交频分复用来允许多于一个的通信信道。 在一个实施例中，用于与管芯上的电路通信的天线放置在封装和散热器之间，与焊料凸块电接触。 在另一个实施例中，将天线放置在晶片划线上，并且用于在晶片被锯切之前测试芯片。 描述和要求保护其他实施例。