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公开(公告)号:WO2023048150A1
公开(公告)日:2023-03-30
申请号:PCT/JP2022/035038
申请日:2022-09-20
Applicant: 株式会社FLOSFIA , 国立研究開発法人物質・材料研究機構
IPC: C30B29/16 , C23C16/04 , C23C16/40 , C30B23/04 , H01L21/365
Abstract: 半導体装置等に有用な、転位が低減された高品質な結晶膜の製造方法および結晶品質に優れた結晶膜を提供する。結晶基板の結晶成長面上に、直接または他の層を介して、凹部または凸部からなる凹凸部を形成し、ついで、結晶膜を成膜する結晶膜の製造方法であって、 前記結晶成長面が、c面から90度未満の角度で傾いた面であり、前記凹凸部が、前記結晶成長面とc面との交線と平行な方向に沿って配置されている結晶膜の製造方法。
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公开(公告)号:WO2023018622A1
公开(公告)日:2023-02-16
申请号:PCT/US2022/039591
申请日:2022-08-05
Applicant: APPLIED MATERIALS, INC.
Inventor: ZHAO, Quinghua , CHENG, Rui , JANAKIRAMAN, Karthik
IPC: C23C16/44 , C23C16/04 , C23C16/509 , H01L21/02 , H01L21/768
Abstract: Exemplary methods of semiconductor processing may include providing a silicon-containing precursor to a processing region of a semiconductor processing chamber. The methods may include depositing a silicon-containing layer on surfaces defining the processing region of the semiconductor processing chamber. The methods may include forming a plasma of a hydrogen-containing precursor within the processing region of the semiconductor processing chamber. The methods may include depositing a silicon-containing material on a substrate disposed within the processing region of the semiconductor processing chamber.
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公开(公告)号:WO2023017311A1
公开(公告)日:2023-02-16
申请号:PCT/IB2021/059872
申请日:2021-10-26
Applicant: ALKHAZRAJI, Saeed Al Hassan
Inventor: ALKHAZRAJI, Saeed Al Hassan
Abstract: A process for manufacturing a porous diamond having a tridimensional (3D) structure. The process comprises the steps of using a substrate with a pre-defined shape and a plurality of pores of a defined porosity shape and size, heating a reactant hydrocarbon gas and reactant hydrogen in a filament to form a product gas, depositing an activated carbon atom from the product gas onto the substrate, wherein the activated carbon atom reacts with the substrate to form a diamond structure on the substrate, and completely removing the substrate to obtain the 3D pure porous diamond structure, wherein the 3D pure porous diamond structure is formed entirely of diamond and is identical in shape and porosity shape and size of the plurality of pores as that of the substrate. The 3D pure porous diamond structure formed is of a controlled thickness and porosity, and devoid of the substrate.
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公开(公告)号:WO2023276795A1
公开(公告)日:2023-01-05
申请号:PCT/JP2022/024786
申请日:2022-06-21
Applicant: 東京エレクトロン株式会社
Inventor: 布瀬 暁志
IPC: H01L21/32 , C23C14/04 , C23C14/12 , C23C16/04 , H01L21/285 , H01L21/302 , H01L21/306 , H01L21/31 , H01L21/312 , H01L21/316
Abstract: 成膜方法は、下記(A)~(D)を含む。(A)第1膜が露出する第1領域と、前記第1膜とは異なる材料で形成される第2膜が露出する第2領域とを表面に有する基板を準備する。(B)前記基板の前記表面に対して有機化合物を供給し、前記第1領域と前記第2領域の両方に有機膜を形成する。(C)前記第1領域と前記第2領域のうち前記第1領域から選択的に前記有機膜を除去する。(D)前記第2領域に残る前記有機膜を用い、前記第1領域と前記第2領域のうち前記第1領域に選択的に第1対象膜を形成する。
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公开(公告)号:WO2022270304A1
公开(公告)日:2022-12-29
申请号:PCT/JP2022/023061
申请日:2022-06-08
Applicant: 東京エレクトロン株式会社 , 国立大学法人山梨大学
IPC: H01L21/205 , C23C16/04 , C23C16/26
Abstract: 成膜方法は、選択的に成膜を行う。成膜方法は、冷却工程と、成膜工程とを有する。冷却工程は、金属膜と絶縁膜が表面に露出し、チャンバ内に支持された基板を、c-C4F8ガスとSF6ガスの分子が基板の表面に凝縮する温度に冷却する。成膜工程は、c-C4F8ガスとSF6ガスを含んだ処理ガスをチャンバ内に供給すると共に基板の表面を励起して、金属膜上に炭素含有膜を成膜する。
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公开(公告)号:WO2022255214A1
公开(公告)日:2022-12-08
申请号:PCT/JP2022/021524
申请日:2022-05-26
Applicant: 東京エレクトロン株式会社
Inventor: 藤田 成樹
IPC: C23C16/04 , C23C16/44 , H01L21/205 , H01L21/768
Abstract: 成膜方法は、下記(A)~(C)を含む。(A)隣り合う凹部と凸部を表面に含む基板の前記表面に液体を供給する。(B)前記液体を化学変化させる処理ガスを前記基板の前記表面に供給し、前記液体と前記処理ガスの反応によって前記液体を前記凹部から前記凸部に移動させ、前記凸部の頂面に膜を形成することで前記表面に形成される段差を拡張する。(C)前記膜の一部をエッチングする。
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公开(公告)号:WO2022243894A1
公开(公告)日:2022-11-24
申请号:PCT/IB2022/054618
申请日:2022-05-18
Applicant: MELLANOX TECHNOLOGIES, LTD. , BAR-ILAN UNIVERSITY
Inventor: NAVEH, Doron , SMOLINSKY, Eilam Zigi Ben , LEVI, Adi , MENTOVICH, Elad , ATIAS, Boaz
IPC: C23C16/04 , G03F7/16 , G03F7/20 , H01L21/285
Abstract: Processes for localized lasering of a lamination stack and graphene-coated printed circuit board (PCB) are disclosed. An example PCB may include a lamination stack, post-lamination, that may further include a core, an adhesive layer, and at least one graphene-metal structure. A top layer of graphene of the graphene-metal structure may have never been grown before the lamination process or may have been removed post-lamination such that a portion of the top layer of graphene is missing. The localized lasering process described herein may grow (for the first time) or re-grow the graphene layer of the exposed portion of the metal layer without adverse effects to the rest of the lamination stack or PCB and while promoting a uniform layer of graphene on the top surface. A process of growing graphene through application of molecular layer and a self-assembled monolayer (SAM), are also described herein.
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公开(公告)号:WO2022228168A1
公开(公告)日:2022-11-03
申请号:PCT/CN2022/087309
申请日:2022-04-18
Applicant: 江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
Inventor: 宗坚
Abstract: 一种用于耳机盒的镀膜遮蔽治具及其方法和耳机盒镀膜设备。该镀膜遮蔽治具用于遮蔽一耳机盒,其中该耳机盒包括一非镀膜部分、一待镀膜部分以及一开口部。该镀膜遮蔽治具包括一遮蔽罩和一遮蔽套,其中该遮蔽罩适于被罩设于该耳机盒的该非镀膜部分之外;其中该遮蔽套适于被套设于该耳机盒的该开口部,并且该遮蔽套可密封地接合于该遮蔽罩,其中当该遮蔽罩接合于该遮蔽套时,该镀膜遮蔽治具用于密闭地遮蔽该耳机盒的该非镀膜部分,并且敞开地裸露该耳机盒的该待镀膜部分。该耳机盒镀膜设备包括具有一镀膜腔室的一镀膜设备主体和一或多个镀膜遮蔽治具。
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9.
公开(公告)号:WO2022203969A1
公开(公告)日:2022-09-29
申请号:PCT/US2022/021013
申请日:2022-03-18
Applicant: TOKYO ELECTRON LIMITED , TOKYO ELECTRON U.S. HOLDINGS, INC.
Inventor: TAPILY, Kandabara
IPC: H01L21/02 , H01L21/32 , C23C16/40 , C23C16/04 , C23C16/455
Abstract: Method for gas phase atomic layer deposition (ALD) of aluminum oxide films on patterned substrates using a waterless oxidizer that includes an aluminum alkoxide gas. The method includes providing a substrate containing a dielectric layer and a metal layer or a semiconductor layer, and selectively depositing an aluminum oxide film on a surface of the dielectric layer relative to a surface of the metal layer or a surface of the semiconductor layer by a) exposing the substrate to an aluminum alkyl gas, an aluminum halide gas, or an aluminum hydride gas, and b) exposing the substrate to an aluminum alkoxide gas, where the aluminum alkoxide gas is the principal source of oxygen in the aluminum oxide film.
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公开(公告)号:WO2022197481A1
公开(公告)日:2022-09-22
申请号:PCT/US2022/019195
申请日:2022-03-07
Applicant: LAM RESEARCH CORPORATION
Inventor: CHANDRASHEKAR, Anand , GUO, Lei , LIU, Gang , GOPINATH, Sanjay
IPC: H01L21/768 , C23C16/02 , H01L21/285 , C23C16/455 , C23C16/04
Abstract: Methods of mitigating line bending during feature fill include deposition of a nucleation layer having increased roughness. In some embodiments, the methods include depositing two or more metal nucleation layers.
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