非易失性半导体存储器设备

    公开(公告)号:CN102446548B

    公开(公告)日:2014-10-22

    申请号:CN201110292340.2

    申请日:2011-09-30

    Abstract: 非易失性半导体存储器设备。非易失性半导体存储器设备包括用于存储用户数据的存储器单元阵列,其通过布置存储器单元提供,每个存储器单元具有可变电阻元件,该可变电阻元件具有第一电极2、第二电极3以及夹置在第一电极和第二电极之间由金属氧化物制成的可变电阻器4。第一和第二电极分别由与该可变电阻器4形成欧姆结的导电材料和与该可变电阻器4形成非欧姆结的导电材料形成。可变电阻器通过在电极之间施加电压在两个或更多不同电阻状态之间变化。变化之后的电阻状态以非易失性方式维持。在存储器单元阵列用于存储用户数据之前的未使用状态,存储器单元阵列中的所有存储器单元的可变电阻元件被设置为两个或更多不同电阻状态的最高电阻状态。

    集成电路装置及神经元

    公开(公告)号:CN1447457A

    公开(公告)日:2003-10-08

    申请号:CN03108292.0

    申请日:2003-03-27

    CPC classification number: G11C13/0007 G06N3/063 G11C11/54 G11C2213/31

    Abstract: 由可变电阻11-1至11-n构成的加权装置对输入信号进行加权,每个可变电阻由具有包含锰的钙钛矿结构的氧化物制成,该材料在室温下根据施加的脉冲电压的累加次数改变其阻值,并且能够以非易失性方式保持其阻值。然后,加权后的信号输入到运算单元12。作为每个可变电阻11-1至11-n的氧化物薄膜根据施加的脉冲电压的累加次数改变其阻值,并且在电源被切断后也能够以非易失性方式保持其阻值。因而,通过根据施加的脉冲电压的累加次数改变加权系数,就能够实现更加类似于人类神经的神经元。

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