一种超快扫描电子显微镜系统及其应用方法

    公开(公告)号:CN114678244A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210300281.7

    申请日:2022-03-24

    申请人: 南开大学

    IPC分类号: H01J37/065 H01J37/29

    摘要: 本发明公开了一种超快扫描电子显微镜系统及其应用方法。所述系统包括:扫描电镜,将第一近红外飞秒激光转换为定向聚焦的紫外飞秒激光并经阴极激发产生探测用光电子脉冲的探测激光系统,将第二近红外飞秒激光转换为波长可调的定向聚焦的泵浦用飞秒激光脉冲的泵浦激光系统,对所述探测用光电子脉冲及所述泵浦用飞秒激光脉冲达到待测样品表面的光程差进行调节的光学延迟线,对瞬态二次电子信号进行探测的二次电子探测系统,该系统可在超高时空分辨尺度下实时探测材料表面激发态载流子动力学信息。

    实现传输和聚焦超快扫描电子显微镜泵浦光的方法及系统

    公开(公告)号:CN113658841A

    公开(公告)日:2021-11-16

    申请号:CN202110911134.9

    申请日:2021-08-09

    申请人: 南开大学

    IPC分类号: H01J37/29 H01J37/26

    摘要: 本发明涉及一种实现传输和聚焦超快扫描电子显微镜泵浦光的方法及系统,方法包括:在扫描电子显微镜的极靴下放置抛物面反射镜;外部激光引入扫描电子显微镜入射到抛物面反射镜,通过调节抛物面反射镜的位置和角度,使得激光由抛物面反射镜汇聚到待测样品表面形成圆形光斑,其中,待测样品位于抛物面反射镜的焦点处。本发明提出采用抛物面反射镜来传输和聚焦泵浦激光的方法,抛物面反射镜通过安装在扫描电镜极靴正下方的一个可伸缩的高精度三维电控位移台,可精确调节泵浦飞秒激光到达样品处光斑的直径大小和位置,有效提升超快扫描电子显微镜在微区载流子动力学测量方面的性能。

    带电粒子束装置以及带电粒子束装置的调整方法

    公开(公告)号:CN108604522B

    公开(公告)日:2020-07-14

    申请号:CN201680081651.5

    申请日:2016-03-28

    IPC分类号: H01J37/04 H01J37/05 H01J37/29

    摘要: 本发明的目的在于提出一种能够高精度地调整成像光学系统与照射光学系统的带电粒子束装置。为了达到该目的,提出一种带电粒子束装置,其具备成为照射光学系统的第1带电粒子镜筒、使在该第1带电粒子镜筒内经过的带电粒子向对象物偏转的偏转器、以及成为成像光学系统的第2带电粒子镜筒,该带电粒子束装置具备:向对象物照射光的光源;以及控制装置,该控制装置根据基于从该光源放出的光的照射而产生的带电粒子的检测,求出维持某个偏转状态的多个偏转信号,并从该多个偏转信号中选择满足预定条件的偏转信号,或者根据由该多个偏转信号而作出的关系信息来计算满足预定条件的偏转信号。

    用于在电光系统中提供清洁环境的系统及方法

    公开(公告)号:CN107667411B

    公开(公告)日:2020-01-31

    申请号:CN201680027869.2

    申请日:2016-05-26

    IPC分类号: H01J37/04 H01J37/29

    摘要: 本发明揭示一种电子源的电子提取器,其能够从接近于所述提取器的空腔吸收污染物材料。所述电子提取器包含主体。所述电子提取器的所述主体由一或多种不可蒸发吸气剂材料形成。所述一或多种不可蒸发吸气剂材料吸收容纳于接近于所述电子提取器的所述主体的区域内的一或多种污染物。所述电子提取器的所述主体进一步经配置以从接近于所述电子提取器的所述主体定位的一或多个发射器提取电子。

    投射电子显微镜、电子显微镜、样品表面观察法和微器件制造法

    公开(公告)号:CN1910725A

    公开(公告)日:2007-02-07

    申请号:CN200580002507.X

    申请日:2005-01-13

    发明人: 兼松惠理

    IPC分类号: H01J37/29 H01L21/66

    摘要: 从阴极1发出的照明束4入射到偏转器3上。在对偏转器3施加电压的状态下,由偏转器3改变照明束4的光路;然后,照明束4穿过公共电子光学系统7,并对样品6的表面照明。在不对偏转器3施加电压的情况下,照明束4直接穿过偏转器3,并被电子吸收板17吸收。照明束4在穿过公共电子光学系统7时衰减,以致于该电子束4在到达样品6表面的时间点的能量接近于0eV。当照明束4入射到样品6上时,从样品6产生反射电子8。这些反射电子8穿过公共电子光学系统7,而且,在不对偏转器3施加电压的情况下,这些反射电子8穿过图像聚焦电子光学系统9,使得电子投射到MCP探测器10上。