一种CoCrPt系合金溅射靶材和薄膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN104032274A

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201410260448.7

    申请日:2014-06-12

    摘要: 本发明公开了一种CoCrPt系合金溅射靶材和薄膜及其制备方法,所述CoCrPt系合金溅射靶材包括B元素,B元素的含量为0~20个原子百分比,所述合金靶材包括富Co相和富B相两个物相,其中富B相均匀的分布在富Co相中,所述富Co相的平均晶粒尺寸在20~50μm,富B相的平均晶粒尺寸在0~20μm;所述CoCrPt系合金溅射靶材的制备方法,包括:(1)真空熔炼;(2)热等静压;(3)热机械加工;(4)冷机械加工。使用本发明所述的CoCrPt系合金溅射靶材制备的磁记录介质,所述磁记录介质包括基底层,粘结层,软磁层,中间层和磁记录层,所述磁记录介质的矫顽力为3000~5000Oe,方形度为0.80~095。本发明化学成份均匀且偏离名义成分较小,解决了常规制备工艺中轧制开裂,成品率低,合金靶材化学成份偏离名义成份较多、有害杂质含量偏高等技术问题。

    一种镍铂合金溅射靶材及其制备方法

    公开(公告)号:CN104018128A

    公开(公告)日:2014-09-03

    申请号:CN201410231799.5

    申请日:2014-05-29

    摘要: 本发明提供了一种镍铂合金溅射靶材及其制备方法,所述镍铂合金溅射靶中,铂的含量为0~5原子%,靶材的平均晶粒尺寸小于80微米且单个晶粒尺寸不大于150微米,靶材具有均匀分布的衍射峰强度组合,且单个方向上的衍射峰强度不大于50%,靶材的透磁率(PTF)在大于40%且在各个不同方向上测量的数值差别在5%以内。所述的镍铂合金溅射靶材,能减少溅蚀现象发生,具有较长的使用寿命,使用该靶材所制备出的薄膜具有较好的均匀性;本发明的另一个目的在于提供一种获得上述具有高透磁率(PTF)的具有低铂含量的镍铂合金靶材的制备方法。

    一种高均质NiCrPt合金溅射靶材的制备方法

    公开(公告)号:CN114293157B

    公开(公告)日:2022-09-16

    申请号:CN202111501941.X

    申请日:2021-12-09

    IPC分类号: C23C14/34 C22C19/05

    摘要: 本发明公开了一种高均质NiCrPt合金溅射靶材的制备方法,所述溅射靶材之基材原料由纯度≥99.99wt%的Ni、Cr、Pt金属组成,其中Cr10~30at%,Pt1~4.5at%,余量为Ni,外加总质量比0.01~0.08%的除氧剂;基材表面保护镀膜厚度≤5μm;所述溅射靶材致密度≥99.5%,且无肉眼可见的缺陷,氧含量≤30ppm,靶材晶粒均匀,其平均粒径为20~100μm;所述溅射靶材之表层机加工处理的去除深度≤0.5mm。其制备方法由基材铸锭与清洗处理、基材镀膜、坯材轧制、再结晶处理和机加工处理工艺实现。本发明基于“控氧+优先保护”原理,降低基材氧含量,基材表面优先溅射易氧化金属保护镀层,抑制“夹生”脆性氧化物,提高了靶材优材率,降低了表层去除深度,减少靶材浪费,节约成本。

    一种晶粒高定向取向的铂溅射靶材及其制备方法

    公开(公告)号:CN111254398B

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202010186276.9

    申请日:2020-03-17

    摘要: 本发明公开一种晶粒高定向取向的铂溅射靶材及其制备方法,铂溅射靶材呈现(111)晶面高定向取向,致密度不低于99.5%,晶粒尺寸为5~20;所述(111)晶面与(200)晶面积分强度比不低于3。制备方法包括:选择4N及以上纯度的铂原料,熔炼获得铸锭;随后进行超声波探伤测定铸锭内部缺陷分布并对其进行真空热压,消除缺陷;再将锭坯浸泡在液氮容器中单向压制;再进行低温退火;最后机加工获得靶材。本发明采用浇铸速度和熔炼炉功率组合,较低压制及退火温度组合,获得性能优异的铂溅射靶材。靶材的高致密度和(111)晶面高定向取向有助于获得高溅射速率、膜厚均匀的铂薄膜,其制备方法工艺简便,条件温和易操控,大大提高生产效率,极大地节约制备成本。

    一种晶粒高定向取向的铱溅射靶材及其制备方法

    公开(公告)号:CN111235536B

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202010186255.7

    申请日:2020-03-17

    摘要: 本发明公开了一种晶粒高定向取向的铱溅射靶材及其制备方法,铱溅射靶材呈现(111)晶面高定向取向,致密度不低于99.5%,晶粒尺寸1‑10 μm,氧含量100 ppm以内;所述(111)晶面与(200)晶面积分强度比不低于4。所述制备方法包括以下步骤:选择4N及以上纯度,粒度为1‑10 μm的铱粉;随后将粉末进行冷压成型;再将冷压成型的锭坯进行低温微波烧结;再将锭坯进行低温真空热压烧结进一步提高致密度;最后机加工获得靶材。本发明采用较低的烧结温度、低温真空热压技术及充氢气形成还原气氛,使得铱溅射靶材性能优异,高致密度和(111)晶面高定向取向有助于获得高溅射速率、厚度均匀的铱薄膜,制备工艺简便,条件温和易于操控,而且可大大提高了生产效率,极大地节约制备成本。

    一种采用水浸式C-scan设备测量焊接型靶材厚度的方法

    公开(公告)号:CN111060044B

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN201911233947.6

    申请日:2019-12-05

    摘要: 本发明针对与背板焊接结合的靶材加工成型后或磁控溅射后靶材部分厚度在不破坏前提下无法直接精确测量的问题,公开了一种采用水浸式C‑scan设备测量焊接型靶材厚度的方法。此方法将焊接型靶材和探头均浸泡在超纯水中,运行C扫软件并利用超声纵波脉冲反射技术、以界面波波峰位置作为起始点的测量类型,通过已知靶坯厚度测量出靶材的声速,在后续与背板结合并加工成型后或磁控溅射后,利用已测靶材声速测量出此时靶材部分的厚度。该方法获得的焊接型靶材部分厚度与解除焊接结合后(即破坏后)直接测量靶材部分厚度的误差≤±5%,准确性能够保证,有效解决了加工焊接型靶材的厚度管控问题,也可有效指导靶材使用寿命的监控,提高焊接型靶材的使用率。

    一种采用水浸式C-scan设备测量焊接型靶材厚度的方法

    公开(公告)号:CN111060044A

    公开(公告)日:2020-04-24

    申请号:CN201911233947.6

    申请日:2019-12-05

    摘要: 本发明针对与背板焊接结合的靶材加工成型后或磁控溅射后靶材部分厚度在不破坏前提下无法直接精确测量的问题,公开了一种采用水浸式C-scan设备测量焊接型靶材厚度的方法。此方法将焊接型靶材和探头均浸泡在超纯水中,运行C扫软件并利用超声纵波脉冲反射技术、以界面波波峰位置作为起始点的测量类型,通过已知靶坯厚度测量出靶材的声速,在后续与背板结合并加工成型后或磁控溅射后,利用已测靶材声速测量出此时靶材部分的厚度。该方法获得的焊接型靶材部分厚度与解除焊接结合后(即破坏后)直接测量靶材部分厚度的误差≤±5%,准确性能够保证,有效解决了加工焊接型靶材的厚度管控问题,也可有效指导靶材使用寿命的监控,提高焊接型靶材的使用率。

    一种Co-Cr-Pt-SiO2靶材的制备方法

    公开(公告)号:CN104174851B

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:CN201410394572.2

    申请日:2014-08-12

    摘要: 本发明公开了一种Co-Cr-Pt-SiO2靶材的制备方法。该方法主要包括原料粉末的选择、粉末的混合、锭坯的预压成型、反应合成烧结处理、热等静压处理、机加工处理。其中反应合成烧结技术有效改善和提高Co-Cr-Pt-SiO2靶材中的各物相之间结合,提高了材料的致密度,避免了传统热等静压处理前必须对粉末进行装包套、抽真空、封焊及热等静压后进行去包套处理工艺,有效简化了生产工艺,提高了材料的加工性能,适合进行连续性的工业化生产。