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公开(公告)号：CN102027343B
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN200980117552.8
申请日：2009-05-07
Applicant: 浜松光子学株式会社
IPC: G02B7/00
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/0256 , G01J3/0259 , G01J3/0286 , G01J3/0297 , G01J2003/1213 , G02B5/1814 , G02B5/1852 , G02B5/1861 , G02B7/025 , G02B27/4244
Abstract: 本发明所涉及的分光模块(1)具备使从前表面(2a)入射的光(L1)透过的基板(2)、使入射到基板(2)的光(L1)透过的透镜部(3)、对入射到透镜部(3)的光(L1)进行分光并且反射的分光部(4)、以及检测由分光部(4)进行反射的光(L2)的光检测元件(5)。在基板(2)上设置有相对于成为用于定位光检测元件(5)的基准部的对准定位标记(12a、12b)等而具有规定的位置关系的凹部(19)，透镜部(3)被嵌合于凹部(19)。根据分光模块(1)，仅通过将透镜部(3)嵌合于凹部(19)，从而能够实现分光部(4)与光检测元件(5)的被动对准定位。
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公开(公告)号：CN102341645B
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201080010798.8
申请日：2010-01-28
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G02B27/00
CPC classification number: G01N21/8806 , F21S8/006 , G01J1/08 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/12 , G01J2003/1213 , G01J2003/1282 , G01N2021/9511 , G02B6/0018 , G02B6/0038 , G02B19/0028 , G02B19/0047 , G02B27/0994
Abstract: 本发明提供一种照射具有期望的光谱、且方向性被控制的光的光照射装置。本发明所涉及的光照射装置(100)包括光源(101)、导光体(107)、光谱调制用构件(104)，导光体(107)将从光源(101)入射的光从入射面引导至其内部，使该光在导光体(107)的侧面反射，将方向性被控制的光从出射面出射，光谱调制用构件(104)使方向性被控制的所述光的、特定的波长带的光谱衰减，在导光体(107)中，所述入射面小于所述出射面，在导光体(107)的出射面侧包括光谱调制用构件(104)。
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公开(公告)号：CN101997054B
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201010267198.1
申请日：2010-08-24
Applicant: 夏普株式会社
Inventor： 夏秋和弘
IPC: H01L31/101
CPC classification number: G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/51 , G01J3/513 , H01L27/14621 , H01L27/14645
Abstract: 本发明提供一种半导体光电探测器元件和半导体装置，该半导体光电探测器元件的制造成本被降低且精度被提高。该半导体光电探测器元件包括：第一光电二极管，形成在P型硅基板中；第二光电二极管，形成在P型硅基板中并且具有与第一光电二极管相同的结构；由绿色滤色器形成在第一光电二极管上方的滤色器层；由黑色滤色器形成在第二光电二极管上方的滤色器层；以及运算电路部，将第二光电二极管的检测信号从第一光电二极管的检测信号减去。
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公开(公告)号：CN103502799A
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201180036619.2
申请日：2011-05-23
Applicant: 增强型光谱测定技术公司
CPC classification number: G01J3/02 , G01J1/58 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/44 , G01N21/6445 , G01N21/645 , G01N21/65 , G01N2021/6417 , G01N2021/6484
Abstract: 本发明公开一种用于检测物质的拉曼和光致发光光谱并借助物质的拉曼和/或光致发光光谱特性鉴定物质的装置和方法。该装置包括具有激光源的可替换激光源集合体、准直系统、用于接收可替换激光源集合体同时确保装置的操作而无须进一步调整准直系统或激光源的定位的插口、滤波系统、被优化以提供足以同时获得物质的拉曼和光致发光光谱的光谱分辨率和光谱范围的光分散系统、检测器和至少一个用于处理电子信号的控制器。公开且要求保护的方法用于同时获得物质的拉曼和光致发光光谱、将光谱分成基于拉曼内容和光致发光内容的分量、分析拉曼和光致发光内容以及使用一组光谱处理方法鉴定物质。
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公开(公告)号：CN103459995A
公开(公告)日：2013-12-18
申请号：CN201280001300.0
申请日：2012-09-07
Applicant: 柯正浩
Inventor： 柯正浩
CPC classification number: G01J3/04 , G01J3/02 , G02B6/12007 , G02B6/138 , G02B6/29307 , G02B6/29308 , G02B6/2931 , G02B2006/12107 , G03F7/0005 , G03F7/16 , G03F7/2002 , G03F7/201 , G03F7/2024 , G03F7/203 , G03F7/2039 , G03F7/30
Abstract: 一种光学波长分光装置（10）包括一第一基板（11）；一输入单元（12），形成于该第一基板（11）上，并具有一狭缝（121）以接收一光学讯号；一光栅（13），形成于该第一基板（11）上，用于从该光学讯号产生一第一光束用于输出；以及一第二基板（15），覆盖在该输入单元（12）和该光栅（13）的顶部上。其中，该输入单元（12）以及该光栅（13）系利用高能量光源曝光从一光阻层形成。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102193197B
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201110066239.5
申请日：2011-03-11
Applicant: 株式会社理光
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/2803 , G01J3/502
Abstract: 本发明涉及分光特性取得装置、图像评价装置、以及图像形成装置。其目的在于提供取入光量偏差少且接受光量大的高精度分光特性取得装置。该分光特性取得装置包括光照射装置(1-102)和(1-103)、透镜阵列(1-104)、针孔阵列(1-105)、成像装置(1-106)、衍射装置(1-107)、受光装置(1-108)、以及将多个分光传感器按照单一方向排列成一列的分光传感器阵列，该分光传感器具有按单一方向排列且接受分光特性不同的光的规定数量的像素，透镜阵列的透镜与针孔阵列的开口部一对一对应形成，而且该透镜在其排列方向上的开口值NA与成像装置的最大有效像角度θmax之间满足NA＞sin(θmax)关系。
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公开(公告)号：CN103323405A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310211688.3
申请日：2009-09-24
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01N21/15 , G01J1/04 , G01J3/02 , G01J3/0254 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01N21/0332 , G01N21/255 , G01N21/474 , G01N21/645 , G01N2021/158 , G01N2021/6419 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/065 , G01N2201/0833
Abstract: 本发明提供一种光谱测定装置，具备将测定对象的试料（S）配置在内部而观测从试料（S）产生的被测定光的积分球（20），以及用于保持对试料（S）进行冷却的冷媒（R），并且以至少一部分面对所述积分球（20）内的方式定位的杜瓦瓶（50）。通过起到气体导入通路作用的规定间隙（G1～G6）和在支撑台（61）形成的多个连通路（64），将从冷媒（R）产生的气体导入到积分球（20）内。导入到积分球（20）内的气体吸收积分球（20）内的水分并降低积分球（20）内的温度，防止在杜瓦瓶（50）的第2容器部（50b）中的从积分球（20）内露出的部分出现结露。由此，即使在对冷却到所需温度的状态的试料（S）进行测定的情况下，也可以防止结露的出现。
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公开(公告)号：CN103293126A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310023630.6
申请日：2004-09-08
Applicant: 通用医疗公司
Inventor： 尹锡贤 , 布雷特·尤金·鲍马 , 吉列尔莫·J·蒂尔尼 , 约翰内斯·菲茨杰拉德·德·布尔
IPC: G01N21/45
CPC classification number: H01S5/5045 , A61B5/0059 , A61B5/0066 , A61B5/7257 , G01B9/02002 , G01B9/02004 , G01B9/02043 , G01B9/02075 , G01B9/02081 , G01B9/02083 , G01B9/02084 , G01B9/0209 , G01B9/02091 , G01B2290/45 , G01B2290/70 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0264 , G01J3/453 , G01J9/0215 , G01N21/4795 , G02B6/3604 , G02B26/12 , G02B27/48 , G02F1/093 , G02F1/11 , H01S3/0071 , H01S3/0078 , H01S3/08009 , H01S3/08063 , H01S3/105 , H01S3/1068 , H01S5/0071 , H01S5/0078 , H01S5/1025 , H01S5/14 , H01S5/141 , H01S5/146
Abstract: 本发明涉及一种用于使用频域干涉测量法进行光学成像的方法和设备。提供了一种设备和方法。具体而言，至少一个第一电磁辐射可以提供给样品并且至少一个第二电磁辐射可以提供给非反射的参考。所述第一和/或第二辐射的频率随时间变化。在关联于所述第一辐射的至少一个第三辐射与关联于所述第二辐射的至少一个第四辐射之间检测干涉。可替换地，所述第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的谱。所述谱在特定时间可以包含多个频率。另外，有可能以第一偏振态检测所述第三辐射与所述第四辐射之间的干涉信号。此外，可以优选地以不同于所述第一偏振态的第二偏振态检测所述第三和第四辐射之间的又一干涉信号。所述第一和/或第二电磁辐射可以具有中值频率以大于每毫秒100万亿赫兹的调谐速度随时间基本上连续变化的谱。
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公开(公告)号：CN103261857A
公开(公告)日：2013-08-21
申请号：CN201180061382.3
申请日：2011-12-20
Applicant: 堀场乔宾伊冯公司
Abstract: 本发明涉及用于拉曼光谱学以及用于观察样品（7）的方法和光学设备，所述设备包括光学装置和光学分离装置，所述光学装置用于叠加具有光谱带B0的激励激光束（1）和具有光谱带BV的观察束（2）以便形成组合的激励和观察入射束，所述光学分离装置设置在来自所述样品（7）上的散射的收集束的路径中并且包括能够将所述收集束空间分成第一次级束和两个三级束的第一滤波装置（12）和第二滤波装置（13），所述次级束和所述三级束中的每一个分别包括选自所述激光的光谱带B0、所述观测束的光谱带BV以及所述拉曼散射束的光谱带BR的光谱带。
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公开(公告)号：CN101548151B
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN200880001006.3
申请日：2008-05-21
Applicant: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
CPC classification number: G01B11/026 , G01B2210/50 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/024 , G01J3/12 , G02B21/0064
Abstract: 本发明设计了一种包括至少一个透镜(2)的光学装置中与温度相关的测量误差的补偿方法，由于与温度相关的测量误差的这种补偿没有明显增加生产费用，故该方法较经济可靠，其中，多色光线(5)穿过光学装置(1、1’)，再聚焦在由于透镜(2)的色差而距透镜(2)的不同距离的点上，以致于光线(5)的至少一部分光谱至少部分地在光学装置(1、1’)内反射，再射向检测装置(12)，借助于检测装置确定光谱，由检测装置(12)所记录的光谱测定装置(1、1’)的温度，再补偿与温度相关的测量误差。
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