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公开(公告)号：CN107884696A
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201610875443.4
申请日：2016-09-30
申请人： 全球能源互联网研究院 , 国家电网公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R31/2849
摘要： 本发明提供了一种MMC动模试验板卡的自动测试装置及其测试方法，其中自动测试装置包括：背板、设于背板上的核心板和保护核心板的安全罩，试验板卡经电源板与核心板相连，核心板一端与上位机相连，另一端与试验板卡相连。本发明能够基于流水线方式验证三块MMC动模试验板卡的硬软件功能正确性和完整性的装置，提高了MMC动模试验板卡的测试效率和搭建整个大容量多节点MMC-HVDC工程换流阀的动态特性模拟系统的可靠性。
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公开(公告)号：CN103913694B
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201310006802.9
申请日：2013-01-09
申请人： 恩智浦美国有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2856 , G01R31/275 , G01R31/2849
摘要： 本发明涉及用于检测半导体集成电路的应力劣化的监视系统，其具有放大器电路和劣化测试晶体管。提供了若干复用器，所述复用器具有耦接到劣化测试晶体管的相应电极的输出端。每一个所述复用器具有耦接到监视节点中的一个监视节点和放大器电路的相应节点的输入端。在操作中，所述复用器选择性地将劣化测试晶体管插入到所述集成电路或所述放大器电路中，从而使得在被插入到所述集成电路中时所述劣化测试晶体管经受所述集成电路中的应力劣化电压。在劣化测试晶体管被插入到所述放大器电路中时，产生表示所述集成电路的应力应力劣化的输出信号。
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公开(公告)号：CN107490757A
公开(公告)日：2017-12-19
申请号：CN201710762192.3
申请日：2017-08-30
申请人： 北京航天长征飞行器研究所 , 中国运载火箭技术研究院
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2822 , G01R31/2849
摘要： 一种微波放大器辐照效应在线测试方法及系统，首先对待测微波放大器进行指标测试，当测试合格后，分别在微波放大器辐照前、辐照过程中、辐照完成后，通过主控机箱控制前置探头给待测微波放大器供电并提供激励信号源，使用前置探头测量待测微波放大器的输出信号功率后输出。本发明通过对前置探头的设置，可以测量微波放大器的频率范围、小信号增益、饱和功率、效率等技术指标，满足微波放大器使用需求，具有很好的实用价值。
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公开(公告)号：CN106908710A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201611271070.6
申请日：2016-11-22
申请人： 英特尔公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31703 , G01R31/3177 , H04L9/0866 , H04L9/0891 , H04L9/3278 , H04L2209/34 , G01R31/2849 , G01R31/2806
摘要： 本发明描述了通过分析多个物理不可克隆功能电路编码的可靠性降级的早期检测。描述了一种装置，其包括多个电路，每个电路被设计为展示唯一签名编码，所述唯一签名编码根据与用于制造所述电路的制造工艺相关联的制造容差来确定。所述装置还包括错误电路，其用于基于来自所述多个电路的签名编码的改变来确定错误已经出现。
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公开(公告)号：CN106814304A
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201611032799.8
申请日：2016-11-16
申请人： 佛山市尚好门窗有限责任公司
发明人： 刘正英
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2849
摘要： 本发明涉及测试设备，尤其涉及一种陀螺仪电路板老化测试系统，主要包括：主控部分、测试部分和被测部分，测试部分设置电源模块和万用表模块，测试部分设有输出模块，输出模块中设有信号源和功放模块，所述的主控部分包括PC端和集线器，集线器通过LAN与电源模块和万用表模块连接，集线器通过GPIB与输出模块连接，所述的电源模块集成了2台电源，万用表模块集成了3台万用表，所述的被测部分包括接口板和被测件，被测件通过接口板接入测试部分，所述的接口板集成了10块接口，所述的电源、万用表和信号源均是可程控电子设备，相比于现有测试设备，其陀螺仪电路板老化测试系统通过集线器将测试部分设备集成，经接口板将被测件接入测试部分进行测试。
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公开(公告)号：CN106405370A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201610630085.0
申请日：2016-08-03
申请人： 迈克纳斯公司
发明人： J·古特曼
CPC分类号： G01R31/2874 , G01R31/2862 , G01R31/2849 , G01R31/003
摘要： 本发明涉及用于测量电子构件的气候室，其具有壳体，壳体包括内室和开口，内室借助壳体与周围环境至少热隔离，气候室包括两个可运动的块，两个块的两个端侧相互对置，端侧的面构成相互平行的平面，内室在开口区域中与块的厚度相应地远离周围环境，块分别包括热隔离层，每个块具有朝向周围环境的前侧和朝向内室的后侧，两个面的大小分别由各块的宽度和高度确定，在第一状态下两个块隔开间距，其方式是在两个端侧之间构造净距离从而布置在承载件上的结构元件可引入内室，在第二状态下为了保护内室免受周围环境影响而封闭开口，结构元件借助电连接装置连接，电连接装置在两个块之间穿过且两个块中的一个的端侧和另一个的端侧分别与电连接装置力锁合地连接。
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公开(公告)号：CN105337523A
公开(公告)日：2016-02-17
申请号：CN201510770016.5
申请日：2015-11-11
申请人： 合肥工业大学
CPC分类号： H02M7/483 , G01R31/2849 , H02H7/1225
摘要： 本发明公开了一种在线监测三电平逆变器中功率开关器件的系统及方法。该系统及方法包括：通过对NPC逆变器中电流流通路径判断出三相桥臂中十二个功率开关器件的开关状态，在每周期内微调PWM波形，以供选择合适测量时间段，在正常工况下进行检测工作；外部辅助电源单元，在上述检测时段内对被测器件注入两种幅值的电流，同时数据采集单元分别测得IGBT功率器件和其反并联二极管通态压降；分析可靠性单元将测得电压作为温敏电气参数，生成导通压降和结温关系图作校准曲线，将获得的结温和通态压降做成基准查阅表。在线监测高电流下器件导通压降增幅超过阈值，即可认定该IGBT器件内部发生键合引线失效。依次获取各器件健康状态，得到整个逆变器可靠性检测结果。
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公开(公告)号：CN104025509A
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201280002176.X
申请日：2012-12-12
申请人： 华为技术有限公司
发明人： 张志龙
IPC分类号： H04L12/24 , G05B19/418
CPC分类号： G11C16/349 , G01R31/2849
摘要： 本发明公开了一种设备生命周期的监测方法及相关装置，通过检测设备中约束设备生命周期的敏感元件的生命参数值，监测到其生命参数值达到预警值时，输出设备的生命周期预警信号，可以实现自动管理设备的生命周期，能更精确地对设备的生命周期进行监测。
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公开(公告)号：CN103913694A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201310006802.9
申请日：2013-01-09
申请人： 飞思卡尔半导体公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2856 , G01R31/275 , G01R31/2849
摘要： 本发明涉及用于检测半导体集成电路的应力劣化的监视系统，其具有放大器电路和劣化测试晶体管。提供了若干复用器，所述复用器具有耦接到劣化测试晶体管的相应电极的输出端。每一个所述复用器具有耦接到监视节点中的一个监视节点和放大器电路的相应节点的输入端。在操作中，所述复用器选择性地将劣化测试晶体管插入到所述集成电路或所述放大器电路中，从而使得在被插入到所述集成电路中时所述劣化测试晶体管经受所述集成电路中的应力劣化电压。在劣化测试晶体管被插入到所述放大器电路中时，产生表示所述集成电路的应力应力劣化的输出信号。
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公开(公告)号：CN103675515A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310370965.5
申请日：2013-08-22
申请人： AVX公司
IPC分类号： G01R31/00
CPC分类号： G01R31/016 , G01R31/02 , G01R31/028 , G01R31/2849 , G01R31/2855 , G01R31/36 , H01G9/008 , H01G9/042 , H01G9/15 , H01L22/00 , H01L28/00
摘要： 本发明公开了一种迭代筛选具有预定额定电压的电解电容器样本的方法。这种方法能包括测量第一组电容器的第一漏电流，由此计算第一平均漏电流，并从第一组中移除第一漏电流测量值等于或高于第一预定值的电容器，从而形成第二组电容器。第二组可经过老化热处理，其中可使用测试电压，然后可测量第二组电容器的第二漏电流并计算第二平均漏电流。从第二组中移除第二漏电流测量值等于或高于第二预定值的电容器，从而形成第三组电容器。因为这种迭代筛选，第三组中的电容器具有低故障率。
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