半导体器件和方法
    82.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109585309B

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN201810979949.9

    申请日:2018-08-27

    Abstract: 本发明的实施例公开了半导体器件及其形成方法。在一个实施例中,一种半导体器件包括:在第一介电层上的导电屏蔽件;在第一介电层和导电屏蔽件上的第二介电层,第一和第二介电层围绕导电屏蔽件,第二介电层包括:沿着导电屏蔽件的外围设置的第一部分;延伸穿过导电屏蔽件的中心区域的第二部分;以及延伸穿过导电屏蔽件的通道区的第三部分,第三部分将第一部分连接至第二部分;在第二介电层上的线圈,线圈设置在导电屏蔽件上方;在第二介电层上的集成电路管芯,集成电路管芯设置在线圈的外部;以及围绕线圈和集成电路管芯的密封剂,密封剂、集成电路管芯和线圈的顶表面是平齐的。

    半导体器件及其形成方法
    83.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111384043A

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN201911358692.6

    申请日:2019-12-25

    Abstract: 公开了封装的半导体器件及其形成方法,封装的半导体器件包括设置在电源模块和包含集成电路的封装件之间的包含集成无源器件的封装组件。在实施例中,一种器件包括:第一封装组件,包括第一集成电路管芯;第一密封剂,至少部分地围绕第一集成电路管芯;以及再分布结构,位于第一密封剂上并且耦合至第一集成电路管芯;第二封装组件,接合到第一封装组件,第二封装组件包括集成无源器件;以及第二密封剂,至少部分地围绕集成无源器件;以及电源模块,通过第二封装组件附接到第一封装组件。本发明的实施例还涉及半导体器件及其形成方法。

    半导体封装件和方法
    89.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109786267A

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201810609924.X

    申请日:2018-06-13

    Abstract: 在实施例中,器件包括:背侧再分布结构,背侧再分布结构包括:金属化图案,位于第一介电层上;以及第二介电层,位于金属化图案上;通孔,穿过第一介电层延伸以接触金属化图案;集成电路管芯,邻近第一介电层上的通孔;模塑料,位于第一介电层上,模塑料密封通孔和集成电路管芯;导电连接件,穿过第二介电层延伸以接触金属化图案,导电连接件电连接至通孔;以及金属间化合物,位于导电连接件和金属化图案的界面处,金属间化合物仅部分地延伸至金属化图案内。本发明的实施例还涉及半导体封装件和方法。

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