电子装置以及控制其屏幕的显示的方法

    公开(公告)号:CN105426071A

    公开(公告)日:2016-03-23

    申请号:CN201510595070.0

    申请日:2015-09-17

    Abstract: 公开了一种电子装置以及控制其屏幕的显示的方法。所述方法包括:选择第一图像和第二图像;选择包括至少一个第一区域和至少一个第二区域的掩模图案;测量电子装置的倾斜度;基于测量出的电子装置的倾斜度,确定第一图像的显示在与所述至少一个第一区域相应的屏幕中的部分以及第二图像的显示在与所述至少一个第二区域相应的屏幕中的部分,并将第一图像的所确定的部分和第二图像的所确定的部分输出在显示单元上。

    电场信息读头、电场信息写/读头及其制造方法以及使用其的信息存储装置

    公开(公告)号:CN101490750A

    公开(公告)日:2009-07-22

    申请号:CN200780026478.X

    申请日:2007-05-10

    CPC classification number: G11B9/02

    Abstract: 本发明提供了用于从信息存储介质的表面电荷读取信息的电场信息读头,该电场信息读头包括:半导体衬底,具有在面向记录介质的表面的一端的中部中形成的电阻区域,该电阻区域用杂质轻掺杂;以及源极区域和漏极区域,在电阻区域的两侧上形成,该源极区域和漏极区域与电阻区域相比用杂质更重地掺杂。源极区域和漏极区域沿半导体衬底的面向记录介质的表面延伸,电极分别与源极区域和漏极区域电连接。此外,本发明提供了电场信息读头的制造方法以及在晶片上批量制造电场信息读头的方法。

    利用自对准工艺制造具有FET沟道结构的SPM探针的方法

    公开(公告)号:CN100375295C

    公开(公告)日:2008-03-12

    申请号:CN03810213.7

    申请日:2003-04-26

    CPC classification number: G01Q60/30

    Abstract: 本发明公开了一种利用自对准工艺制造具有场效应晶体管(FET)沟道结构的扫描探针显微镜(SPM)的探针的方法。所提供的方法包括:第一步骤,在衬底上形成第一形状的掩膜层,并在衬底中的除了由掩膜层所遮盖的区域以外的区域中形成源极区和漏极区;第二步骤,沿垂直于掩膜层的方向构图第一形状的光阻材料,并进行蚀刻工艺,以形成第二形状的掩膜层;以及第三步骤,蚀刻衬底中的除了由掩膜层遮盖的区域以外的区域以形成探针。所提供的方法将尖端的中心与源极区和漏极区之间存在的沟道中心对准,以实现数十纳米大小的尖端。从而,利用具有尖端的这种探针可以轻易制造纳米器件。

    半导体探头以及采用其写入和读取信息的方法

    公开(公告)号:CN1963953A

    公开(公告)日:2007-05-16

    申请号:CN200610121326.5

    申请日:2006-08-21

    CPC classification number: G11B9/02 G01Q10/06 G01Q70/08 G01Q80/00

    Abstract: 提供了一种半导体探头和一种利用所述半导体探头写入和读取信息的方法。所述半导体探头包括悬臂和形成于所述悬臂的一个末端部分上的尖端,从而在位于形成了电极的表面上的铁电媒质上写入信息或从其上读取信息。所述尖端包括轻度掺杂了半导体杂质的电阻性区域和重度掺杂了半导体杂质的导电区域。所述悬臂包括形成于面对所述媒质的底面上的静电力生成电极。通过在形成于所述铁电媒质上的电极和所述静电力生成电极之间有选择地施加电压调整所述尖端和所述媒质之间的接触力。从而使尖端的磨损降至最低,并确保高记录密度下的写入/读取性能。

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