一种芯片及器件设计的联合仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN108897916B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN201810547519.X

    申请日:2018-05-31

    IPC分类号: G06F30/367

    摘要: 本发明提供了一种芯片及器件设计的联合仿真方法和系统,包括根据元胞参数和半导体层级设计图,建立多下级单位并联等效电路模型;根据多下级单位并联等效电路模型,进行半导体层级内下级单位并联的电压、电流、热和力的耦合仿真,得到半导体层级内电压、电流、热和力场分布;将耦合仿真得到的下级单位电流和电压输入电磁场仿真模块,进行仿真得到半导体层级内电磁场分布。与现有技术相比,涵盖从功率开关器件的半导体工艺设计和封装设计等环节领域,保证在硅设计的初期,就可以将功率半导体器件的电压、电流、热、电磁和力场等特征提取出来,建立芯片、器件联合仿真模型,反复优化各层级设计参数,实现芯片与器件整体性能最优,提高器件研发效率。

    一种芯片及器件设计的联合仿真方法和系统

    公开(公告)号:CN108897916A

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201810547519.X

    申请日:2018-05-31

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 本发明提供了一种芯片及器件设计的联合仿真方法和系统,包括根据元胞参数和半导体层级设计图,建立多下级单位并联等效电路模型;根据多下级单位并联等效电路模型,进行半导体层级内下级单位并联的电压、电流、热和力的耦合仿真,得到半导体层级内电压、电流、热和力场分布;将耦合仿真得到的下级单位电流和电压输入电磁场仿真模块,进行仿真得到半导体层级内电磁场分布。与现有技术相比,涵盖从功率开关器件的半导体工艺设计和封装设计等环节领域,保证在硅设计的初期,就可以将功率半导体器件的电压、电流、热、电磁和力场等特征提取出来,建立芯片、器件联合仿真模型,反复优化各层级设计参数,实现芯片与器件整体性能最优,提高器件研发效率。

    一种功率半导体器件及其制作方法

    公开(公告)号:CN107452790B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN201710702108.9

    申请日:2017-08-16

    IPC分类号: H01L29/745 H01L21/332

    摘要: 本发明公开了一种功率半导体器件及其制作方法,其中功率半导体器件包括:第一导电类型的基板;第一掺杂层,设置在基板内,其为与第一导电类型相反的第二导电类型;第二掺杂层,设置在第一掺杂层内,其为第一导电类型;第三掺杂层,设置在第二掺杂层内,其为第二导电类型;控制电极,通过隔离层设置在基板的第一表面上,且隔离层与第一掺杂层、第二掺杂层和第三掺杂层的表面接触;第一电极,设置在基板的第一表面上,且第一电极与第一掺杂层、第二掺杂层和第三掺杂层的表面接触;以及第二电极,设置在基板的第二表面上。当控制电极接负电时,第三掺杂层形成少子的抽取路径,降低了载流子局部浓度,降低第一掺杂层和基板原有掺杂类型层之间的势垒。

    一种半导体器件封装结构和方法

    公开(公告)号:CN108987350B

    公开(公告)日:2020-07-07

    申请号:CN201810712912.X

    申请日:2018-06-29

    摘要: 本发明提供了一种半导体器件封装结构和方法,该封装结构包括:第一电极片;第二电极片,与所述第一电极片相对设置;半导体器件芯片,置在所述第一电极片和第二电极片之间;支撑部件,设置在所述半导体器件芯片的侧面,以在所述半导体器件芯片、所述第一电极片与所述支撑部件之间和/或所述半导体器件芯片、所述第二电极片与所述支撑部件之间形成空腔,并且所述支撑部件具有贯穿所述支撑部件且与所述空腔连通的通孔。所述半导体器件在使用时,通过该支撑部件上的通孔向该腔体内注入导电流体,有效提高器件封装的可靠性;对半导体器件芯片有良好的散热作用;同时具有良好的自保护功能,一旦液体泄漏,上电极或下电极自动与芯片开路。

    一种功率器件封装结构
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108520870A

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201810338518.4

    申请日:2018-04-16

    IPC分类号: H01L23/48

    摘要: 本发明公开了一种功率器件封装结构,该封装结构包括上电极板、功率半导体器件芯片、下电极板,所述功率半导体器件芯片位于所述上电极板和下电极板之间,其特征在于,所述封装结构还包括第一弹性电极片和/或第二弹性电极片,所述第一弹性电极片位于所述上电极板与所述功率半导体器件芯片之间,所述第二弹性电极片位于所述下电极板与所述功率半导体器件芯片之间。该封装结构有效缓解了零部件加工公差带来的应力集中问题,在保证导电良好的前提下能够减小封装结构中芯片的受力,有效提高功率器件封装的可靠性;同时由于该弹性电极片是由弹性导电擦了或其他具有良好弹性和导电性的材料制成,还能提高对芯片的导热作用。

    一种用于IGBT浪涌电流的检测电路及其检测方法

    公开(公告)号:CN106771947B

    公开(公告)日:2020-10-13

    申请号:CN201611060556.5

    申请日:2016-11-25

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本发明提供了一种用于IGBT浪涌电流的检测电路及其检测方法,其检测电路包括:充电回路和放电回路;充电回路包括:串联的高压充电单元、充电开关和储能电容;放电回路包括:串联的辅助IGBT、负载电感和放电开关;其中,充电开关和放电开关相连,高压充电单元分别与储能电容和辅助IGBT连接。本发明提供的技术方案中设置的辅助IGBT和时序控制切换实现了对IGBT耐受能力的检测及分断浪涌电流能力的检测,为验证IGBT是否满足直流断路器这一特殊工况提供了可行的模拟方法。