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公开(公告)号:CN115267515A
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN202210424535.6
申请日:2022-04-21
申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC分类号: G01R31/317 , G01R31/3181 , G01R31/3185 , G06F8/61
摘要: 本发明涉及一种可编程集成电路自动化测试系统及方法,系统包括上位机、通信模块、主控FPGA以及待测FPGA模块;上位机向主控FPGA发送待测的码流,并控制其对待测FPGA模块的码流烧写。在烧写阶段,上位机将码流发送至主控FPGA,主控FPGA再将码流发送回上位机进行校验,校验通过后上位机向主控FPGA发送烧写指令,控制主控FPGA向待测FPGA烧写码流;在测试阶段,主控FPGA根据上位机的指令向待测FPGA发送激励,并采集待测FPGA的响应,根据响应生成指令反馈给上位机;在循环遍历阶段,上位机通过对测试结果的判断,对测试流程进行控制,能够自动化、批量式地完成多个码流的烧写与测试。
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公开(公告)号:CN118294787A
公开(公告)日:2024-07-05
申请号:CN202410193430.3
申请日:2024-02-21
申请人: 北京微电子技术研究所 , 北京时代民芯科技有限公司
IPC分类号: G01R31/319 , G01R31/3181
摘要: 本发明公开了一种基于高可靠可编程SOC的FPGA机械手自动测试系统及方法,高可靠可编程SOC上使用内部高性能处理器搭载Linux内核,使用DDR3作为系统缓存,在linux下使用QT构建GUI上位机,可编程端则作为主控部分对待测芯片进行测试控制。本发明利用高可靠可编程SOC集成上位机及主控,取代常见的PC+主控的分离式结构,在节省成本的同时可以实现一体化实现测试,此外通过机械手的配合,可以完成自动测试,在节省人工成本的同时,大幅度缩短测试时间。
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