一种动态随机存储阵列的控制方法

    公开(公告)号:CN117612584A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311633055.1

    申请日:2023-12-01

    摘要: 本发明公开了一种动态随机存储阵列的控制方法,属于微电子学与集成电路技术领域。该方法利用共享位线的双晶体管无电容动态随机存储器单元,将被选中行的写字线置为高电平,读字线置为低电平,未被选中行的写字线和读字线置为低电平,对于写入数据“1”的单元,将其位线置为高电平;对于写入数据“0”的单元,将其位线置为低电平;读取时将被选中行的写字线和读字线置为低电平,其余行的写字线置为低电平,读字线置为高电平;将所有列的位线置为高电平,若位线上的读出电流大于参考电流,读取结果为“1”;若位线上的读出电流小于参考电流,读取结果为“0”。本发明通过位线分时复用方法降低存储器阵列互连的复杂度,进一步提升存储密度。

    一种基于双晶体管结构检测超快脉冲信号的方法

    公开(公告)号:CN118549739A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410798450.3

    申请日:2024-06-20

    IPC分类号: G01R31/00

    摘要: 本发明公开一种基于双晶体管结构检测超快脉冲信号的方法,属于微纳电子学技术领域。本发明采用两个场效应晶体管存储和检测纳秒级别超快电信号,在写字线与写位线分别接入待检测信号和恒定高电平信号,若存在超快电脉冲信号则使得写晶体管导通,将写位线的高电平传递至存储节点;当超快电脉冲信号的下降沿到来后,写晶体管将关断,存储节点中的电压信息将保持一段时间;当存储节点电压大于零时,读晶体管将导通,反之,读晶体管将关断,在读位线始终施加恒定电平,通过读字线流过的电流不为零检测到超快电脉冲信号。本发明大大降低了检测任务对外围电路的精度要求,有效降低了硬件开销。

    一种基于双晶体管结构的超快光信号检测方法

    公开(公告)号:CN118654767A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410911960.7

    申请日:2024-07-09

    IPC分类号: G01J11/00

    摘要: 本发明公开一种基于双晶体管结构的超快光信号检测方法,属于微纳电子学技术领域。本发明采用感光晶体管和读晶体管,感光晶体管的源端与读取晶体管的栅端相连形成存储节点,用于暂存信号电荷,待检测光脉冲信号到来后,感光晶体管接收光子能量后激发产生电子‑空穴对,导致感光晶体管的阈值电压降低,使得感光晶体管迅速进入导通状态,允许写位线的电荷通过感光晶体管向存储节点充电,实现对光脉冲信号的“写入”。本发明利用双晶体管结构的弛豫特性,即使信号输入时间短暂,也能在较长的时间窗口内从读取电路中检测到可靠的电流变化,大大降低了检测任务对外围电路的精度要求,有效降低了硬件开销。

    一种光感存算一体单元的控制方法及应用

    公开(公告)号:CN117672307A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311660386.4

    申请日:2023-12-06

    摘要: 本发明公开了一种光感存算一体单元的控制方法及应用,属于微纳电子学技术领域,本发明感存算一体单元包括一个感光晶体管和一个读取晶体管,外界光强可照射至所述感光晶体管的沟道,并激发出电子空穴对,光激发产生的空穴在负栅压的作用下向栅介质漂移,并被界面陷阱捕获,可使感光晶体管的阈值电压负漂,将光学信息转变为电学信息,通过在栅电极施加正电压可擦除被陷阱捕获的空穴,在正栅压的驱动下,沟道中的电子将向栅介质漂移并与界面陷阱中的空穴复合,使感光晶体管的阈值电压恢复初值。采用本发明可以实现传感、存储以及计算功能,有效降低数据反复搬运造成的功耗,有望进一步提升边缘智能图像处理设备的能效。

    存储器阵列及存内计算电路
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117809701A

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202311662692.1

    申请日:2023-12-06

    申请人: 北京大学

    摘要: 本发明提供一种存储器阵列及存内计算电路,其中的存储器阵列包括呈阵列分布的存储单元,存储单元包括互补的第一存储结构和第二存储结构;其中,第一存储结构包括第一晶体管以及连接在第一晶体管的漏极上的第一存储器;第二存储结构包括第二晶体管以及连接在第二晶体管的漏极上的第二存储器;第一存储结构和第二存储结构之间相互隔离,且第一存储结构和第二存储结构呈中心对称。利用上述发明能够在晶体管栅宽/栅长(W/L)较小的情况下,消除存储器阵列非对称权重读取问题。

    一种高密度动态随机存储器垂直单元及其制备方法

    公开(公告)号:CN117042450A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202311154935.0

    申请日:2023-09-08

    申请人: 北京大学

    IPC分类号: H10B12/00

    摘要: 本发明提供了一种高密度动态随机存储器垂直单元及其制备方法,该存储器单元由共用同一信号线叠层的垂直沟道读晶体管与环栅写晶体管在垂直方向上堆叠构成,在信号线叠层的垂直方向进行刻蚀形成沟槽,信号线叠层中读字线层、读晶体管有源层与读位线层以及沟槽内部的栅介质层与存储节点层构成垂直沟道读晶体管,信号线叠层中的隔离层与写字线层、沟槽内部的栅介质层、写晶体管有源层与存储节点层以及位于信号线叠层与沟槽上方的写位线层构成环栅写晶体管,沟槽内部的存储节点层同时作为垂直沟道读晶体管的栅极与环栅写晶体管的源极,使垂直沟道读晶体管的栅极与环栅写晶体管的源极相连,形成动态随机存储器单元。与现有技术相比,本发明面积开销低。

    铁电非易失存储器及制备方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117295341A

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202311274402.6

    申请日:2023-09-28

    申请人: 北京大学

    IPC分类号: H10B51/30 H01L29/78

    摘要: 本发明提供一种铁电非易失存储器及制备方法,其中的存储器包括衬底、依次设置在衬底上方的源侧控制栅、存储栅和漏侧控制栅;其中,在衬底上设置源极和漏极,位于源极和漏极之间的衬底区域形成隔离源极和漏极的沟道;在沟道和存储栅之间设置有铁电层,存储栅用于向铁电层的上表面施加电压,以改变铁电层的极化状态;源侧控制栅和漏侧控制栅用于控制沟道导通或关闭;通过控制存储栅、源极、源侧控制栅、漏侧控制栅以及漏极的电压,实现数据的写入、读取以及擦除。利用上述发明能够提高存储密度,降低功耗,增强可靠性。

    基于阻变存储器的高阶矩阵向量运算方法及相关设备

    公开(公告)号:CN118335150A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410291761.0

    申请日:2024-03-14

    IPC分类号: G11C13/00

    摘要: 本申请提供一种基于阻变存储器的高阶矩阵向量运算方法及相关设备。基于阻变存储器的高阶矩阵向量运算单元;所述基于阻变存储器的高阶矩阵向量运算单元,包括:晶体管以及阻变存储器;其中,所述晶体管包括漏极、栅极和源极;所述阻变存储器与所述漏极串联;所述方法包括:响应于所述栅极接收到第一输入信号,根据所述第一输入信号确定第一操作数;其中,所述第一输入信号表征所述晶体管的开启或者关闭;响应于所述漏极接收到第二输入信号,根据所述第二输入信号确定第二操作数;根据所述第一操作数、第二操作数以及所述阻变存储器的预存电导值确定所述源极的输出信号。