公开(公告)号：CN118169540A

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202410372081.1

申请日：2024-03-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 徐军军 ,  邝贤军 ,  袁光华 ,  胡凛 ,  韩立帅 ,  任瑛 ,  杨妙林

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。

公开(公告)号：CN118169540B

公开(公告)日：2024-09-17

申请号：CN202410372081.1

申请日：2024-03-29

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 徐军军 ,  邝贤军 ,  袁光华 ,  胡凛 ,  韩立帅 ,  任瑛 ,  杨妙林

IPC: G01R31/28

Abstract: 本申请涉及元器件试验技术领域，涉及一种收发器应用验证板卡的试验方法、装置及计算机设备。所述方法包括：获取待测的收发器元器件的第一图像信息，为每个收发器元器件配置相应的试验程序并存储所述试验程序；在收发器元器件与应用验证板卡连接的情况下，获取所述应用验证板卡中收发器元器件的第二图像信息；在所述第一图像信息和所述第二图像信息比对成功的情况下，获取所述收发器元器件相应的试验程序；根据所述试验程序对所述收发器元器件进行试验。采用本方法能够提高试验效率，确保试验结果的准确性和可靠性。

公开(公告)号：CN104599997A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201510053404.1

申请日：2015-01-30

Applicant: 工业和信息化部电子第五研究所

Inventor： 何胜宗 ,  邝贤军 ,  王有亮 ,  武慧薇 ,  彭泽亚 ,  刘丽媛 ,  许广宁 ,  陈选龙 ,  袁光华 ,  李伟

IPC: H01L21/66

CPC classification number: H01L21/02 ,  H01L22/30

Abstract: 本发明公开了一种塑料封装金属丝键合器件的开封方法，属于电子元器件失效分析技术领域。该开封方法包括平磨、割槽、分离步骤，其中：平磨步骤中：用120-2000目的砂纸对器件进行研磨，研磨面为芯片有源面的塑封一侧，逐渐研磨去除芯片表面的塑封料，至距离芯片表面0.5mm-3mm时，停止研磨；割槽步骤中：在器件研磨面上，沿芯片所在位置的四周切割出环形凹槽；分离步骤中：以粘性材料粘贴上述环形凹槽围绕的塑封料区域，然后拉起粘性材料，至芯片表面的塑封料被拉起，暴露出芯片。以该方法暴露器件的内部芯片，能够在保留键合丝的第一键合点键合状态、芯片表面及键合附近的腐蚀、脏污等重要信息。